【顯微視界】SEM 掃描電子顯微鏡

2021-01-20 今日光電

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很多學科都離不開的重要大型科研儀器,掃描電子顯微鏡(SEM Scanning Electron Microscope):
- 主要組成部件
- 基本工作原則
- 實用程序
- 表面成像和化學分析

利用聚焦的高能電子束掃描樣品, 通過光束與物質間的相互作用, 激發物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表徵的目的。高端的設備解析度可以達到1nm(對環境要求也極高); 景深大, 視野大, 成像立體效果好。SEM和其他分析儀器相結合, 可以觀察微觀形貌,同時進行成分分析。

視頻來源:Prof. Rainer Schwab,德國卡爾斯魯厄理工學院 ,卡爾斯魯厄應用科學大學。





本文來源:光電讀書



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    2020年全國電子顯微學學術年會將於11月21-25日(21日報到,25日離會)在成都市新希望高新皇冠假日酒店召開。大會設立有大會報告和分會場報告。分會場包括:第一分會場:顯微學理論、技術與儀器發展;第二分會場:原位電子顯微學表徵分會場;第三分會場:功能材料的微結構表徵分會場;第四分會場:結構材料及缺陷、界面、表面,相變與擴散;第五分會場:先進電鏡技術在工業材料中的應用;第六分會場:掃描探針顯微鏡分會場(
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