1、怎樣選擇合適的分析譜線?
本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/201612/335224.htm元素的分析線多為其靈敏線，應選擇自吸小、展寬較小、無其他元素幹擾等特點的譜線。對於不同的基體，同一元素的分析線可能不同;即使同一基體的同一元素，在低含量段和高含量段的分析線也會不同。多道式光譜儀受PMT排布的限制，一般最多只能測量60多條譜線，在譜線的選擇上很難根據基體、含量和幹擾情況做最優化的配置，如Si的分析線一般只提供一條;而全譜型光譜儀一次採集即可獲得上萬條譜線，譜線選擇更為靈活。如，在低合金鋼中，Si的分析線選288.16，可以使探測限更低;在不鏽鋼中Si288.16幹擾嚴重，Si251.16更適合;在鋁矽鑄造合金中，Si的含量較高，Si390.55更合適。
注意：同一元素在不同基體中的最佳分析線可能不一致，一般按照《分析化學實驗室手冊》或相關國家標準上的推薦來設置，若推薦譜線不合適，可選擇火花強度適宜，無自吸和自蝕的銳線。
2、光電直讀光譜儀的驗收指標有哪些?
直讀光譜儀的驗收指標可參考《JJG768-2005 發射光譜儀檢定規程》，最主要的是直讀光譜儀的重複性和穩定性。
其中，重複性反應儀器的基本性能及誤差影響，是最主要的驗收指標。重複性良好，說明數據波動較小，具備準確測定的能力。如果數據重複性不好，數據之間相差較大，就無法確定哪一個數據更可靠，也就無法完成準確的測量。
穩定性是測量儀器保持其計量特性隨時間恆定的能力，衡量儀器一段時間內測量結果的波動性，決定了儀器的校準周期，穩定性好可以適當延長校準時間，降低儀器的使用成本。
很多人在驗收過程中，僅關注準確度，這種認識是片面的。直讀光譜儀的定量方法屬於參照法，即需要一系列的標樣來制定工作曲線作為參照標準，再通過對比待測元素的強度，計算出元素含量。由於標樣和實際樣品存在差異，測量結果勢必有一定的偏差，但這種偏差可以通過控樣來修正。因此，測量結果的準確度除了與儀器有關外，還與控樣的質量有密切的關係，只有重複性和穩定性才直接體現儀器性能的好壞。
3、如何對譜線進行校正?
由於外界環境變化、儀器設施改動和時間累積等原因，譜線會發生漂移，此時可利用光譜校正標樣對儀器進行校正，光譜校正標樣屬於儀器的配套產品，在使用過程中應當節約，儘量不要用作其他用途。當光譜校正標樣使用完以後，請聯繫儀器維護工程師，不建議自行購買。一般校正的方法如下：
全譜型：只需激發單塊標樣，即可通過軟體算法自動完成所有譜線的校正。
多道型：通過描跡完成校正，校正時需激發一組標樣才能完成所有通道的校正，如果儀器各通道的漂移不一致，單純的描跡無法完成校正，需要通過調整出射狹縫位置或折射鏡角度，來校正譜線的變化，此操作需要專業的維修工程師才能完成。
4、為什麼要扣除光譜背景?
若標準樣品和被測樣品的背景不一致時，容易引起測量誤差;背景強度過大時，嚴重影響低含量元素的測定，同時造成儀器檢出限過高。因而，扣除背景有利於提高分析結果的穩定性和準確度，提升儀器靈敏度和檢出限。
多道型直讀光譜儀測量的是各通道出縫寬度內的光強累加值，無法區分背景強度和譜線強度，測量精度受到背景強度的影響。
全譜型直讀光譜儀可以獲得每條譜線的輪廓信息，因此可結合背景校正技術，正確區分背景和譜線，有效提高測量精度。
5、如何選擇控樣?
使用控樣的思想就好比天平的砝碼調節。控樣能夠減少曲線漂移，儀器波動，樣品冶煉和加工工藝等帶來的差異，建議測定樣品時一定要使用控樣校正。
控樣應該是一個與分析試樣的冶金過程和物理狀態一致的標準樣品，其各元素含量應當準確可靠、成分均勻、外觀無氣孔、沙眼、裂紋等物理缺陷，並且各元素含量應位於校準曲線含量範圍之內，儘可能與分析樣品的含量接近。《校正標樣在光電直讀法中的分析研究和運用》(張存貴郝豔峰)一文報導：通過實驗對比發現，用自己熔煉的校正樣品分析比用市場上採購來的樣品分析準確性更好，因而建議有實力的廠家，最好是把自己的產品熔煉後重新定值作控樣。
6、直讀光譜儀的安裝須滿足什麼條件?
環境要求：
(1)光譜儀應置於專用的工作空間，附近應無有害、易燃及腐蝕性的氣體，不要與化學分析
放在一起。
(2)保證至少十平方米以上空間。
(3)工作溫度：(10～30)℃，因儀器工作需要恆溫條件，室溫波動要儘量小，室內需要安
裝空調。
(4)存儲溫度：(0～45)℃。
(5)環境相對溼度：(20～80)%，對於潮溼地區，需配備一臺除溼機。
放置位置要求：
(1)光譜儀應該放置在一個平整、穩定的位置，不應該有震動。
(2)光譜儀的背面與牆之間應該留有適當的距離以方便安裝與維護。
電源要求：
(220±20)V AC，50Hz，保護性接地的單相電源。電源的PE接地必須可靠，以保證儀器正常
工作和避免人體觸電。如果不能保證PE可靠接地，請為儀器提供一條專用地線。
為保證儀器的正常使用，請為儀器配備一臺(1~2)KVA(視接負載量而定)的單相220V 交
流參數穩壓器。
氬氣要求：
(1)氬氣純度≥99.999%;
(2)氬氣入口壓力：0.5MPa;
標準樣品：
準備適合自己產品類型的標準樣品或內控樣品。
7、地線和電源的質量為什麼會影響檢測結果?
光源產生的電磁輻射被屏蔽罩吸收並隨地線釋放，假如接地不良，這些幹擾電壓就會影響各弱電迴路的地電位，從而造成控制系統誤動作，模擬信號失真，分析精度差等問題。所以經常維護地線是十分必要的。一般要求零線和地線之間的電壓小於2V，最大不能超過5V。
光電直讀光譜儀基於光電轉換原理，若電源電壓不穩會造成激發光源的能量波動，採集信號異常等問題，因此直讀光譜儀使用過程中一般要配有穩壓器。另外，由於大功率電器會影響電網的穩定性，從而影響直讀光譜儀的測量精度，而強輻射的電器也會通過空間電磁場幹擾數據的採集，引起測量誤差，因此直讀光譜儀還應避免與大功率、強輻射電器同時使用。
8、溫度對光譜儀有什麼影響?
直讀光譜儀屬於精密測量儀器，光學系統微小的變化(如結構件的熱脹冷縮等)即會引起很大的測量誤差，因此光譜儀在設計時會對光學系統進行恆溫控制。但即使如此，外界溫度的變化仍會影響恆溫系統的熱平衡狀態，引起測量誤差，因此為了保證測量結果的精密度，應儘可能減小使用過程中環境溫度的波動，最大不應超過5℃。
另外，大多數光譜儀廠家對儀器的使用溫度都有嚴格的限制，一般在10-30℃之間。首先是因為儀器在工廠校準時的溫度在20℃左右，10-30℃內使用可以獲得較好的測量精度，其次儀器的部件及設計在10-30℃範圍內具有更高的可靠性，超出該溫度範圍使用，會引起可靠性下降，嚴重的還會引起儀器故障;另外，光譜儀一般把光室的溫度控制在34~38℃之間的某個溫度點(不同型號儀器恆溫溫度不同)，為了確保光譜儀的恆溫控制正常工作，儀器使用的環境溫度必須與光譜儀恆溫溫度有一定的溫差，因此要求儀器使用環境溫度低於30℃。
因此，直讀光譜儀在使用過程中應嚴格控制環境溫度，配備足夠功率的空調系統。
9、直讀光譜儀在什麼情況下必須做標準化?
儀器正常使用的情況下，需要定期(一般為一周)做標準化。若測試數據精確穩定，可適當延長標準化周期。但有如下情況之一，儀器必須做標準化，否則可能會影響測試精密度。
(1)光譜校正後。
(2)儀器移動後。因實驗室或廠址更改，可能需要對直讀光譜儀進行轉移，為保證測試的精密度，轉移後需要重新進行標準化操作。
(3)清洗透鏡後。長時間使用會導致透鏡變髒，在清洗透鏡後需要對儀器重新做標準化。
(4)清理激發臺或更換電極後，建議客戶重新做標準化。
10、光電直讀光譜儀多長時間維護一次?
各直讀光譜儀廠家的儀器特點不同，因而其維護保養時間也是不一樣的。為保證儀器的正常運行，延長儀器的使用壽命，廠家建議客戶根據不同的情況，按如下提示進行定期的部件維護和保養。如果需要整機的維護和保養，請聯繫相關的廠家，他們會為客戶提供完整的解決方案，以解決客戶的需求。
11、為什麼光譜儀激發樣品時需要高純氬氣保護?
(1)氬氣的電離電位較低，易於形成等離子區;
(2)氬氣為惰性氣體，不會與樣品金屬蒸氣反應;
(3)氬氣能夠傳輸真空紫外光譜(並非真空下的光譜，而是波長在10-200nm之間的光譜)，如C、P、S等，不會影響紫外及真空紫外區域元素的測定;
(4)氬氣為原子狀態氣體，譜線簡單，不宜形成譜線幹擾;
(5)氬氣的背景輻射低;
自行檢查氬氣的質量比較困難，一般而言，首先是看氬氣供應商的資質，其次，為保證氬氣純度，可配置氬氣淨化器。若要對氬氣精確檢驗，須採購特定的氬氣純度測定儀。
當然還有一種簡單方法，因直讀光譜儀對氬氣的純度要求很高，可以用直讀光譜儀試用下，若能夠正常激發，打出來的點無異常，且數據穩定，一般來說就可正常使用。為避免出現霧狀白點，建議配置氬氣淨化器。
12、激發臺多久需要清理一次?
針對不同的基體，清理周期有所不同，如Al基一般在激發700-800次需要清理，Fe基在1200次左右。M5000型直讀光譜儀可根據客戶的使用頻率，提醒客戶及時清理激發臺。
13、光電直讀光譜儀分析時對被檢測樣品有什麼要求?應該如何制樣?
為了獲得準確的分析結果，要求樣品：
(1)不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷;
(2)樣品表面必須平整，可以完全蓋住激發孔隙;
(3)樣品表面必須清潔、不得汙染，不能帶有其他物質，也不能用手摸;
制樣要求：一般情況下，鋁、銅等有色金屬基體的試樣需要車或銑，鐵、鎳等黑色金屬基體的試樣可以磨製(鑄態試樣需要先切割)。要求磨製後的樣品表面平整潔淨、紋路清晰、溫度適宜。另外，不同基體的樣品儘量不要在同一砂紙制樣。
其中鑄鐵必須白口化後才能分析，白口化時應注意以下幾點：
1)一般多用樣模澆鑄，樣模儘量取直徑35-40mm，厚6-8mm，這樣試樣冷卻快，白口好，待鐵水澆後30秒左右取出，開水澆再冷水冷。
2)不要澆鑄過快，避免偏析;
3)儘量選取砂模，減少縮孔和夾雜。
14、激發部位的選擇：試樣製備好後在什麼地方激發最合適?
一般選在距離試樣中心三分之二的圓周部位。(請參閱《分析化學實驗室手冊》)
如鋼鐵試樣在模具中凝固以後會形成三個晶區即精細粒區、柱狀晶區和等軸晶區。試樣最外層是精細粒區，該區域晶粒雜亂且區域較小(一般只有兩三毫米);試樣中心區域是等軸晶區，就晶體本身來說較適合光譜分析，但是該區域多縮孔、砂眼、夾雜等缺陷;所以距離試樣中心三分之二的圓周是最理想的分析區域，該區域多為柱狀晶，宏觀偏析也較小，最適合光譜分析。(關於宏觀偏析和微觀偏析還和易偏析元素含量有關。可以參閱冶金相關書籍。)
另外，鑄態試樣凝固時間越短越有利於分析，以避免偏析的出現。
15、儀器測定結果偏差較大，分析結果不穩定該如何處理?
1)檢查分析方法是否正確，如分析模型、分析程序等;
2)儀器本身穩定：檢查儀器光室溫度、內部環境溫度、氬氣壓力是否滿足分析要求;
3)激發控樣：若控樣分析結果良好，說明儀器性能不存在問題，待測樣品可能存在偏析、縮孔、裂紋等缺陷;
4)控樣結果也存在較大問題時，應當標準化;
5)清理火花臺，擦拭透鏡或平鏡，清理排汙通道，更換氬氣等，然後重新校準曲線;
6)外界條件符合要求：室溫、溼度在規定範圍內;電源電壓穩定;周圍無大功率、強輻射電器運作;地線連接良好等;
7)對部分基體中的特別元素需要延長儀器穩定時間。
若還存在問題，請聯繫相關廠家工程師。
16、使用過程中發現C、P、S數據變化，而其他元素正常該怎麼處理?
C、P、S的特徵譜線在真空紫外區，只有在真空或惰性氣體環境下才能準確測定。C、P、S的測量性能變差，往往與光傳輸效率下降有關。常規的處理方法如下：
充氬儀器：延長光室吹掃時間，清理紫外光室透鏡，清理火花臺，校正光譜，標準化。
真空儀器：觀察真空是否洩漏，清理火花臺，清理光室透鏡，重新描跡，標準化。
17、線材、棒材能不能用直讀光譜儀分析?
可以，但必須使用特殊的小樣品夾具。為滿足分析結果的要求，不同的樣品需要配備不同種類的夾具。目前很多廠家的儀器可以進行小樣品的測定，如Spectro、ARL、FPI、Bruker等，各廠家分析的手段基本一致。但對於同一臺儀器來說，小樣品分析結果的精密度比正常樣品稍差。