1.簡述光子與物質相互作用的主要過程。
a.光電效應（吸收過程）
b.康普頓效應（既有吸收又有散射過程）
c.電子對效應（吸收過程）
d.瑞利散射（散射過程）
速記法：⑴ 光 吸
⑵ 康 吸 散
⑶ 電 吸
⑷ 瑞 散
⑴⑵⑶有吸收過程，⑵⑷有散射過程，⑵既有吸收又有散射
2.寬束連續譜射線穿過物體時衰減的主要特點
a.對於連續譜射線穿過物體時，隨著物體厚 度的增加，連續譜射線中波長較長的部分 將被更多的吸收，連續譜的組成將不斷變 化
b.當厚度達到一定值之後，線衰減係數將近 似一個定值，此後變化很小，也就是連續 譜射線已可近似看成單色射線
3.X射線機的基本構造
a.射線發生器
b.高壓發生器
c.冷卻系統
d.控制系統
4.X射線機的冷卻方式
a.油循環冷卻
b.水循環冷卻
c.輻射散熱冷卻
三個：油 水 散熱，油最好其他以此類推
5.X射線機主要技術性能
a.工作負載特性
b.輻射強度
c.焦點尺寸
d.輻射角
e.漏洩輻射劑量
6.X射線機的工作過程
a.通電
b.欲置曝光參數
c.接通高壓
d.中間卸載
e.關機
7.產生X射線的基本過程
a. 陰極燈絲通過電流加熱至2000℃以上後 發射電子，電子聚集在燈絲附近。
b.在Ｘ射線管陽極和陰極間施加上高壓， 電子在這個高壓作用下被加速,高速穿過 陽極和陰極之間的空間後撞擊到陽極靶 上。
c.通過軔致輻射,電子的一部分動能（1%） 轉化為Ｘ射線，從Ｘ射線管窗口輻射出 來。另一部分動能（99%）轉化為熱。
(1%轉化X射線，99%轉化為熱能)
8.維護X射線機的注意事項
a.注意X射線管的老化訓練
b.充分預熱與冷卻
c.不能超負荷使用X射線機（額定電壓，額 定電流，工作方式）
d.日常定期維護
9.r射線機操作程序
a.準備工作（檢查r射線機有關部分是否完 好正常）
b.安裝主機
c.連接r射線機
d.設定控制區和監督區
e.完成曝光過程
10.存放膠片的要求
a.避免接觸有害氣體
b.遠離熱源和輻射源
c.存放中應使膠片避免受到較大的壓力
11.影響射線膠片感光特性的因素
a.膠片本身的因素，一般說,隨著粒度增大, 膠片的感光度將增高,梯度降低,灰霧度增 大。
b.射線的波長（光子能量）
c.暗室技術
d.存放時間、存放條件和暗室處理條件。
e.感光材料「老化」：
12.像質計分類
a.線型像質計
b.階梯孔型像質計
c.平板孔型像質計
d.槽型像質計
e.雙絲像質計
13.產生不清晰度的原因
a.幾何不清晰度（與射線源焦點尺寸大 小，射線源至膠片的距離，工件本身厚 度有關）
b.膠片固有不清晰度
c.屏不清晰度
d.運動不清晰度
14.射線照相靈敏度測定要求
a.像質計的材料應與經驗工件的材料相同 或相近
b.像質計的使用應符合標準規定
c.像質計應與被檢驗工件同時透照
15.缺陷影像對比度需要滿足的條件
a.缺陷影像的對比度必須不小於識別該 缺陷影像所需的最小黑度差
b.缺陷影像的對比度必須不小於射線照片 影像顆粒度的3～5倍
16.射線照相技術的基本構成
a.射線膠片選用；
b.透照布置設計：主要是透照方式、透照 方向、一次透照區；
c.透照參數設計：主要是射線能量、透照 焦距、曝光量；
d.輔助技術設計：主要是控制散射線技 術、增感技術、濾波技術等；
e.暗室處理技術；（包括顯影、停顯、定 影、水洗、乾燥等過程）
f.評片技術：（主要是評片條件控制、缺 陷識別、質量分級評定等。）
17.透照布置包括哪些內容
a.透照方式（指射線源，工件和膠片的相 對位置布置）
b.透照方向（指中心射線束的方向）
c.一次透照區（指一次可透照的最大範 圍，即有效透照區）
18.焊縫常用的透照厚度比規定
焊 縫 類 型 環 縫 縱 縫
A級技術 K ≤ 1.1 K ≤ 1.03
B 級技術 K ≤ 1.06 K ≤ 1.01
19.平板工件兩種規定的照射角比較
技術級別 一次透照區規定 照射角 º
A級技術 ≤ 1.03 /≥2 ≤13.86 ≤8.07
B級技術 ≤ 1.01 /≥3 ≤14.03 ≤9.46
20.射線能量提高時的影響
a.線衰減係數將減小，導致影像對比度降 低
b.膠片固有不清晰度將增大，導致影像總 的不清晰度增大；
c.將使影像的顆粒度增大；
21.低能X射線確定透照電壓基本原則
a.對應所採用的透照電壓，使用的曝光量 應不小於有關標準的要求；
b.透照電壓不能高於允許的最高透照電 壓。
22.射線照相檢驗互易律成立條件
a.不使用增感屏或僅使用金屬增感屏,互易 律成立；
b.採用螢光增感屏，互易律不成立；
C.使用可見光照相，互易律不成立。
23.影響金屬增感屏增感的因素
a.金屬箔的原子序數
b.增感屏金屬厚度
c.射線能量
23.處理變截面基本透照技術的方法
a.適當提高透照電壓（適用截面厚度連續 變化的工件）
b.採用雙（多）膠片技術（適應與由兩種 厚度組成的工件）
c.厚度補償技術
24. 從檢測角度（影像成像質量及檢驗效率）考慮，選取透照方式的次序依次應是：
周向透照方式→偏心透照方式→單壁單影透照方式→雙壁單影透照方式。
25.一次透照長度由被檢工件的結構（外徑D和壁厚T）、透照區的透照厚度比K（橫向裂紋檢出角：照相檢驗技術級別要求）、透照方式及焦距大小來決定。
在其他條件和檢驗要求確定的情況下，各種透照方式的一次透照長度與焦距大小變化的基本特點：
a.源在內偏心透照方式：焦距小於半徑時，焦距增大，一次透照長度也增大；
b.源在內偏心透照方式：焦距大於半徑時，焦距增大，一次透照長度將減小；
c.源在外單壁透照方式：焦距增大，一次透照長度也增大；
d.源在外雙壁透照方式：焦距增大，一次透照長度將減小。（經常取焦距F=D）
我只是想把我最好的給你，可是我不知道你喜不喜歡。