[報告簡介]
輕敲模式Tapping AFM-IR+是AFM-IR技術(也稱為PiFM, PTE and PTIR)新檢測模式,該技術通過探測AFM微懸臂對樣品光-熱膨脹的響應信號,實現樣品局域紅外吸收信號的測量。
我們將現場演示:在10 nm空間解析度下,對聚合物複合材料的化學組分進行納米尺度紅外成像,以及紅外光譜和高光譜測量。
您將了解到neaspec如何實現:
∮ 無機械外力幹擾下和無偽影信號的紅外吸收譜測量
∮ 樣品無損條件下,得到的最佳數據
∮ 無需實操經驗下即可獲取高質量信號
[主講人]
Stefan Mastel博士和Sergiu Amarie博士
[報告時間]
2020年10月15日(星期二) 11:00 PM-12:00 PM (CST)
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[技術線上論壇]
http://www.qd-china.com/zh/n/2004111065734
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