2018 國際材料與試驗高端論壇將於 2018 年 10 月 15 - 18 日在國家會議中心舉辦。同期召開由中國鋼研科技集團有限公司( CISRI )與中國金屬學會分析測試分會聯合主辦的 「 ICASI 』 2018 & CCATM 』 2018 國際冶金及材料分析測試學術報告會」。國內外鋼鐵、有色、石油、化工、建材、紡織、航空、汽車等領域內的相關專家、學者、技術人員等 800 人將參加本次會議。
安捷倫擁有色譜,質譜,光譜多個產品線,可以為材料分析領域提供全面解決方案,與您相約此次材料測試技術產業盛會。
歡迎您蒞臨安捷倫展位 C44A & 45A,與我們一起互動。分會場信息如下:
分會場 1:無損檢測分析分會場
時間:10 月 17 日 9:40-10:00
演講主題:紅外光譜分析技術在表面處理及新型材料上的應用
講師:張曉丹 安捷倫分子光譜應用工程師
內容摘要:此次將針對現階段新型材料的表面及無損測試進行最新應用的介紹,其中比較典型的應用包括塗層的快速定性鑑別、塗層老化及固化以及材料表層痕量汙染物分析等。
分會場 2:化學檢測分析分會場
時間:10 月 17 日 9:15-9:30
演講主題:ICP-MS/MS 測定高純金屬中的痕量磷、硫、矽
講師:郭偉 安捷倫 ICP-MS 應用工程師
內容摘要:Agilent 8800/8900 串聯四極杆 ICP-MS/MS 通過第一級四級杆 1 個質量數的精準篩選和碰撞反應池中可控的化學反應,有效、可靠地消除了多原子幹擾,進而實現對痕量元素 P、S 和 Si 的準確測定。
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大會官網連結:http://www.ccatm.cn/zh-cn/93692.html
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