OTA與雜散測試

對無線電管理工作來說，雜散發射是產生幹擾的重要原因. 在無線電發射設備檢測過程中，雜散測試是一個重要的必測項目。雜散是指在工作帶寬外某個頻點或某些頻率上的發射，其發射電平可降低但不影響相應的信息傳遞。 包括：諧波發射、寄生發射、互調產物、以及變頻產物，但帶外發射除外。在射頻測試中，雜散發射測試是一個基礎測試項目，主要包括傳導雜散測試和輻射雜散測試。下面主要談一下輻射雜散的一些影響因素。

輻射型雜散是指由於機箱(或機櫃)以及設備的結構而引起的任何雜散輻射，主要是指由EUT的機殼、結構及互聯電纜引起的雜散騷擾。所以說EUT的整機設計，天線質量，外殼材料及表面工藝的影響對輻射雜散存在一定的影響。在測試過程中，曾遇到很多不同因素的影響，比如：EUT機殼的金屬框，喇叭的金屬網，按鍵板的影響等等。但是這些只是外殼材料及表面工藝的影響，整機的設計、屏蔽佔有更重要的地位。

本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/201612/333962.htm

我們在雜散測試過程中遇到過很多因為屏蔽問題而耗費大量時間的項目. 摩爾實驗室(MORLAB)曾有一個項目, 被測物(EUT)在傳導雜散測試中指標良好,並有10dB的餘量，但是在輻射雜散測試中，其2次諧波卻超標了10dB。我們對其進行了OTA測試，也發現TRP指標不是很理想。初始以為是天線匹配問題，通過使用網絡分析儀我們修改了天線匹配。測試後發現TRP指標有了改善，但是在暗室測試輻射雜散指標並沒什麼改善。通過跟我資深EMC工程師的溝通，了解一個通過採用了環形天線（如圖一）來探測幹擾源的方法。最後發現是PA屏蔽不好，使發射出來的信號很容易倍頻到高次諧波上形成強幹擾。修改後, 再進行測試,輻射指標達到了10dB的餘量。從這個例子我們可以看出屏蔽的重要性。 圖一

圖2所示是導致EMC性能不良的可能原因，可以根據這個來找出問題所在,並採用環形天線探測幹擾源的方法（結構圖, 如圖3）尋找幹擾源：

圖三

環形天線與頻譜分析儀的射頻電纜連接，設置頻譜儀在合適的SPAN，並將頻譜儀設置為尋找並保持最大軌跡點，方便地確定輻射源的位置和特性、輻射洩漏的具體部位和強度。這樣不僅能找出屏蔽效果不好的地方，使得在整機設計時使用更好的方案。

圖二

MORLAB在OTA的測試中也出現過類似的情況，其測試頻段包括GSM850、PCS1900，在測試中GSM850指標很好，但是PCS1900的指標很差。測試樣品是一個手機底座，所以為了查出是哪個部分的影響，我們把底座的按鍵板、喇叭網、喇叭及其他的一些附屬器件一個一個安裝上去進行測試，最終發現安裝上調諧器之後，測試結果比沒安裝上去的結果相差達到7dB。仔細檢查發現是調諧器的屏蔽未能做好，調諧器屏蔽的效果不好, 直接影響了其在測試頻率上出現串擾, 使得測試結果不理想。通過相應修改後, 測試結果達到標準要求。