開關電源中電子輻照對功率雙極電晶體損耗分析

功率雙極電晶體由於其低廉的成本，在開關電源中作為功率開關管得到了廣泛的應用。應用電子輻照技術可以減小少子壽命， 降低功率雙極電晶體的儲存時間、下降時間， 提高開關速度， 且一致性、重複性好， 成品率高， 這是高反壓功率開關電晶體傳統製造工藝無法比擬的。為了降低功率雙極電晶體的損耗，本文採用了10 MeV 電子輻照來減小其關斷延遲時間， 提高開關電源轉換效率。

本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/226729.htm

通過在功率雙極電晶體中加入鉗位電路使得電晶體不能達到深飽和也能降低關斷延時和關斷損耗，本文也對電子輻照雙極電晶體和鉗位型雙極電晶體進行了比較。

本文實驗中採用的開關電源為BCD 半導體公司研發的3765序列充電器，採用的功率雙極電晶體是BCD半導體公司提供的APT13003E, 它被廣泛應用於電子鎮流器、電池充電器及電源適配器等功率開關電路中。

1 開關電源中開關電晶體的損耗

圖1所示為一個典型的反激式開關電源示意圖。在示意圖中， 開關電晶體Q1 的集電極連接變壓器T1.當控制器驅動為高電平時， Q1 導通， 能量存儲到變壓器T1 中。當控制器驅動為低電平時， Q1關斷， 能量通過變壓器T1 釋放到後端。圖2所示為開關電晶體開關過程中集電極電壓和電流的波形示意圖。

關電晶體在工作過程中的損耗分為開關損耗和穩態損耗， 其中開關損耗包括導通損耗和關斷損耗， 穩態損耗包括通態損耗和截止損耗， 其中截止損耗佔總的損耗的比率很小，可以忽略不計。我們把Vce由90% Vindc降到110% Vcesat所用的時間定義為導通延時， 即圖2中的t1 - t0, 把IC 由90% Icmax下降到0所用的時間定義為關斷延時， 即t3 - t2。在開關電晶體開通時， 集電極電壓在控制器驅動電壓為高時， 基極電流變大， 集電極電壓由Vindc下降為0, 此時由於變壓器與原邊並聯的寄生電容兩端的電壓差也從0變為Vindc, 寄生電容充電， 因此在開關電晶體集電極產生一個尖峰電流， 另一方面， 如果副邊整流二極體的反向恢復電流沒有降到0, 也會進一步加大這個尖峰電流。開關電晶體出現集電極電壓和電流交替現象， 產生導通損耗， 直到集電極電壓降到Vcesat.導通損耗可以表示為：

在電晶體導通後， 集電極電流從0逐漸變大， 而Vcesat不為0, 因此產生通態損耗。通態損耗可以表示為：

在開關電晶體關斷時， 集電極電流不能馬上降為0, 而集電極電壓已經從Vcesat開始上升， 在開關電晶體上產生電壓電流交替現象， 從而產生關斷損耗。

由於變壓器是電感元件， 當開關突然關斷時， 變壓器電感元件電流不能突變， 會產生較大的反激電壓， 阻礙電流變化， 通過電路加在開關管上， 產生比較大的損耗。關斷損耗可以表示為：

開關管總的損耗可以表示為：

一般情況下， 關斷損耗在開關損耗中佔的比率最大， 而關斷損耗跟開關電晶體的關斷延遲時間有關， 減小關斷延遲時間( t3 - t2 )， 加快集電極電流下降速度， 可以降低開關電晶體的總損耗。

2 電子輻照實驗

電子輻照能在矽中引入多種深能級， 這些能級將根據其在禁帶中的位置， 對電子空穴俘獲截面的大小以及能級密度的大小等均對非平衡載流子的複合起貢獻，從而引起少子壽命、載流子濃度的降低，因此影響了與少子壽命有關的一些參數， 如電晶體的開關時間、電流放大係數( hFE )等。實驗中我們把未經封裝的功率雙極電晶體APT13003E 圓片分為四組， 其中第一組作為對照組，不做輻照處理， 其餘三組經過10M eV 的電子輻照， 輻照劑量分別為5 kGy、10 kGy、15 kGy, 輻照完成後， 經過200℃2 h的

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