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熱成像技術檢測乳腺癌?被美國FDA打臉了!
乳腺X光檢查是目前為止排查乳腺癌的首選和「金標準」，但很多人都存在誤區，擔心做了這個檢查就會受到了輻射，影響到身體健康。 於是乎新的商機又出現了，所謂的乳腺癌檢查替代品——熱成像設備。 某電商平臺的體檢套餐宣傳：
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一文看懂半導體檢測設備
目前全球半導體檢測設備行業已經形成了泰瑞達、愛德萬兩家壟斷的局面，國內的長川科技、北京華峰、華興源創等公司正在尋求從各自的細分領域突破，逐漸進行進口替代，目前已取得一定的進展。半導體檢測概論——旨在控制系統損失廣義上的半導體檢測設備，主要包括工藝檢測（在線參數測試）、晶圓檢測（CP測試）、終測（FT測試），國內公司目前主要涉足於晶圓檢測和終測環節，這兩個環節的檢測設備價值量約佔整體半導體製造設備投資的9%左右。
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中國AOI檢測在顯示器缺陷檢測領域應用前景廣闊
AOI（Automated Optical Inspection）的全稱是自動光學檢測，是基於光學原理來對焊接生產中遇到的常見缺陷進行檢測的設備。AOI是新興起的一種新型測試技術，但發展迅速，很多廠家都推出了AOI測試設備。 行業市場概況 1、下遊以PCB、FPD行業、半導體行業為主 AOI檢測主要用在PCB市場、FPD行業、半導體以及光伏電池等其他行業。
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半導體設備行業專題報告:全產業鏈視角看半導體檢測設備
前道量檢測主要用於晶圓加工環 節，目的是檢查每一步製造工藝後晶圓產品的加工參數是否達到設計的要 求或者存在影響良率的缺陷，屬於物理性的檢測；半導體後道測試設備主 要是用在晶圓加工之後、封裝測試環節內，目的是檢查晶片的性能是否符 合要求，屬於電性能的檢測。 作為物理性檢測的前道量檢測設備，注重過程工藝監控。根據功能的 不同又分為兩種設備：一是量測類，二是缺陷檢測類。
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進軍半導體市場,日立推出3D SEM CT1000和高速缺陷檢測SEM CR7300...
2020年11月，日立宣布推出3D SEM CT1000和高速缺陷檢測SEM CR7300。3D SEM CT1000是一款主要用於半導體行業缺陷觀察的產品。可對直徑達8英寸（200 mm）的晶圓在製造過程中出現的圖案和缺陷形狀進行3D觀察，並可分析所觀察物體的元素組成。
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內部缺陷檢測助手-X射線檢測設備
X-Ray實時成像技術是現代工業生產中非常重要的檢測手段，無論是在鋰電池、SMT、半導體、LED、還是汽車電子、航天航空元件、安檢等行業都有著廣泛的應用。為什麼X-Ray技術應用會如此廣泛？其次，檢測原理是怎樣的？X-Ray實時成像技術是通過X射線發生器發出X光，在無損前提下穿透被測樣品，根據樣品材料對射線吸收度的不同，再通過圖像增強器接收X-Ray並成像和拍照，最終對形成的影像圖片進行對比分析、測量和判斷的無損檢測手段。
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EUV光罩缺陷檢測設備獨苗?1臺設備近3億人民幣 !
eoLednc而名單中，日本的一家EUV光罩缺陷檢測設備製造商——Lasertec引起了大家的關注。eoLednc據了解，從2019年初以來，Lasertec股價已經達到570%。eoLednceoLedncLasertec雖然看上去是沒什麼名氣的「小公司」，但卻是世界上唯一一家為極紫外光刻（EUV光刻）製造測試設備的公司。eoLednc光刻是半導體晶片製作IC製造中的核心環節，這一過程不僅決定了晶片的性能水平，其支出也佔到了整個製造工藝中的一大部分。目前EUV光刻機是最先進的晶片製造設備。
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焊縫的X光拍片檢測成像過程你可知?
射線儀然後先後經過顯影液和定影液的顯影和定影，在底片上形成影像，根據影像局部的黑度變化來判斷缺陷。焊縫的內部質量檢測影像就是依靠這類方法進行檢測的。底片（類似於膠捲）由於射線檢測的步驟很多，因此焊縫在焊接結束後我們要先進行第一步的外觀處理。
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從封裝晶片缺陷檢測到分選平臺,蘇州傑銳思登陸IC China 2019
傑銳思作為本次展會為數不多提供晶片封裝智能檢測設備的企業，廣受觀眾青睞。上海市副市長許昆林一行更是親臨展位，詢問了傑銳思智能檢測設備的發展現狀和未來的發展規劃。2018年中國集成電路產業各主要環節繼續維持兩位數的高速增長，設計和製造業的增長超過20%，封測業銷售額第一次超過2000億元。傑銳思順應時代發展的趨勢，致力於為半導體行業提供智能製造整體解決方案，並已經在市場上收到良好的反饋。
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熱成像儀在設備狀態檢測中的應用
熱成像利用目標和背景或目標各部分之間的輻射差異形成的紅外輻射特徵圖像來發現和識別目標。其主要採集熱紅外波段（8μm-14μm）的光。因為對溫度的敏感，所以只要有以下需求，就可以用熱成像：二、熱成像儀在各行業的應用1、電力現狀：電力系統一旦故障，影響巨大，故障預防成為迫切需要，但是故障前期往往無法通過普通檢測手段發現。
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科創100|中科慧遠:站在百億「風口」,登頂工業外觀檢測界「珠峰...
有這麼一家AOI（Automated Optical Inspection縮寫）檢測設備頭部企業，專注於工業外觀缺陷檢測的智能機器製造，以替代蓋板玻璃、面板顯示、半導體、定製家具、白酒雜質等領域的人工瑕疵檢測，其通過結合視覺信息處理、智能控制方法、精密機構設計與集成，將品質全檢漏檢率嚴格控制在了1%以下，過檢率控制在了2%以下，遠低於人工全檢方式下仍普遍高於5%
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光學元件表面缺陷檢測方法研究現狀
通過簡述表面缺陷的類型，強調了缺陷給光學系統帶來的危害，由此分析和討論了目前國內外對光學元件疵病的檢測方法，並指出各種方法的優缺點，同時對機器視覺技術在疵病檢測方面的應用進行了介紹，還探討了光學元件表面缺陷檢測技術未來發展需要注意解決的問題。
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AOI檢測設備深度報告::全球競爭格局
工藝流程控制所用的檢測設備包括工藝參數管理系統、光刻過程控制系統和收益分析軟體系統。工藝流程控制系統主要對工藝流程參數、光刻設備的穩定性進行檢測，系統設備記錄每一類電晶體參數並生成相應的receipt，最後將receipt輸入到已調試好的設備中大批量生產晶片。
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神經網絡技術檢測玻璃鋼缺陷精度高
科技日報訊 （記者董映璧）俄羅斯託木斯克理工大學開發出一種利用神經網絡技術檢測半透明材料缺陷的新方法，測量精度超過所有其他方法。相關研究結果發表在最近的《無損評估》上。無損檢測是任何現代材料生產和運營不可或缺的部分，包括檢測材料的強度、可靠性和其他特性，以及檢測材料中的結構缺陷。紅外熱成像是最常見的無損檢測方法之一，在這一過程中，通常使用大功率光學燈加熱材料，並用熱像儀監控表面溫度。如果材料有缺陷，將比完整的樣品加熱或冷卻得更快或更慢。
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大恆圖像金屬表面缺陷檢測及尺寸測量系統
該系統安裝在具有規則形狀的金屬產品生產流水線上，可對生產線上的每個產品的表面缺陷及外形尺寸等進行在線檢測，尤其對於有金屬光澤的產品的表面質量檢測效果更加突出。
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未雨綢繆:半導體檢測儀器核心零部件搶先一步國產替代
目前我國的封裝測試技術已在國際上奪得一席之地，然而半導體的先進位程製造仍大量依賴於國際企業，尖端半導體設備仍與世界半導體設備巨頭企業差距巨大。前道量檢測運用於晶圓的加工製造過程，它是一種物理性、功能性的測試，用以檢測每一步工藝後產品的加工參數是否達到了設計的要求，並且查看晶圓表面上是否存在影響良率的缺陷，確保將加工產線的良率控制在規定的水平之上。前道量檢測設備行業具有極高的技術、資金壁壘，對業內公司研發能力有很強要求。
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從AMOLED面板檢測AOI到demura,這裡有最深的解讀……
傳統缺陷檢測方法為人工目視檢測法，目前在手機、平板顯示等諸多行業，仍然有大量的產業工人從事這項工作。這種人工視覺檢測方法需要在強光照明條件下進行，不僅對檢測人員的眼睛傷害很大，且存在主觀性強、人眼空間和時間解析度有限、檢測不確定性大、易產生歧義、效率低下等缺點，已很難滿足現代工業高速、高解析度的檢測要求。
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傳感器在鋰電池缺陷檢測的應用方案
鋰電池主要有三大類行業應用：消費類電子（手機、筆記本電腦和平板電腦等）、電動交通工具（電動自行車和電動汽車等）、工業儲能設備及其他（通信用UPS和新能源用的儲能電源等），其中應用於電動交通工具行業的鋰電池叫做動力電池。 鋰電池的生產工藝相對比較複雜，由於電池的類型不同，工藝也會有不同，但是從攪拌到卷繞／疊片等工藝差別不大。
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2021年中國半導體檢測設備行業市場現狀與發展前景分析市場規模有...
由於晶圓生產附加值極高，因此半導體檢測設備在半導體產業中的地位日益凸顯。2020年，我國半導體檢測設備市場規模達到176億元。隨著我國半導體產業的不斷發展，我國半導體檢測設備市場規模有望接近400億元。
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科學:人工引入的原子級傳感器可以測量工作半導體器件內的電場!
科學：人工引入的原子級傳感器可以測量工作半導體器件內的電場！Iwasaki及其同事將他們的方法應用於鑽石，這是一種所謂的寬帶隙半導體，其中電場可以變得非常強 - 對於低損耗電子應用而言是重要的。研究人員還指出，電場感應不僅與電子設備有關，而且與電化學應用有關：半導體和溶液之間發生電化學反應的效率取決於前者的內部電場。此外，Iwasaki及其同事指出，他們的方法不必局限於鑽石中的NV中心 - 類似的單電子自旋結構存在於其他半導體中，例如碳化矽。半導體材料具有所謂的帶隙：能量範圍，其中不存在可達到的能級。