世界領先的測量專家雷尼紹發布XM-60多光束雷射幹涉儀，只需一次設定即可在任意方向測量線性軸全部6個自由度。與傳統雷射測量技術相比，XM-60在易用性和省時方面做出了重大改進。
隨著對工件的公差要求越來越高，製造商需要考慮所有來自工具機加工工件的誤差源；角度誤差以及線性和直線度誤差。XM-60經過一次設定便可採集所有誤差。這臺多光束雷射幹涉儀專為工具機市場而設計，充實了包括XL-80雷射幹涉儀、XR20-W無線型迴轉軸校準裝置以及QC20-W無線球桿儀在內的雷尼紹校準產品線。XM-60利用XC-80環境補償器對環境條件實施補償。
XM-60多光束雷射幹涉儀具有獲得專利的光學滾擺測量與光纖發射器這一獨特技術，是一臺高精度雷射系統。輕型發射器遠離雷射源，從而減少測量點處的熱影響。發射器可直接通過其側面甚至後面安裝到機器上或者上下倒置安裝，非常適用於難以接近的機器區域。
減少測量的不確定度對任何用戶都非常重要。雷尼紹XM-60直接測量工具機誤差，減少其他測量技術中使用複雜數學計算而產生的誤差。直接測量可通過用戶現有的XL-80測量零件程序對機器調整前後的精度進行快速、簡單對比。接收器可進行完全無線操作，由充電電池供電，從而在機器移動中避免電纜拖拽，因為在測量過程中電纜拖拽可能會引起誤差或雷射束「斷光」。
每一臺XM-60多光束雷射幹涉儀的性能均可溯源至國際標準，而且在發貨前已經過認證。這可以讓客戶確信他們的系統將在精度要求高的場合一如既往地提供高精度測量。
為支持XM-60多光束雷射幹涉儀的推出，雷尼紹將發布全新版本CARTO軟體包，指導用戶完成測量過程。CARTO 2.0包含Capture(數據採集)和Explore(數據瀏覽)功能，目前用於XL-80雷射幹涉儀系統的數據採集和分析。CARTO用戶界面可輕鬆根據不同的用戶需求進行配置，能夠改變黑、白背景並顯示定製。支持平板電腦，具有擴展菜單部分，適合在小型屏幕進行操作。自動保存測試方法，因此重複測試的用戶可調用較早的一個測試。
Capture 2.0提供一個全新的零件程序生成器，支持Fanuc 30、Heidenhain 530、Mazak Matrix以及Siemens 840D等系列控制器，以後的版本中將支持更多控制器類型。其另一高級功能是在程序中基於用戶所選的平均周期，自動設定延時時間，並在使用XL-80系統時通過「時間匹配」模式支持定時採集。在XM-60模式下，Capture 2.0使用校準規直線度測量功能，更為方便。
XM-60為用戶提供一次移動後測量所有自由度的強大的工具機診斷功能。通過在任何測量中一次採集三種線性誤差源和三種旋轉誤差源，用戶可以發現他們的特定誤差源；當只測量線性精度時看到的是各誤差源對線性精度的影響結果，而不是具體誤差源。利用Explore 2.0應用可處理所有數據，提供所有六個數據通道摘要視圖，每個誤差都可以根據相對應的一系列國際標準進行顯示。在Explore 2.0中可對大量數據進行輕鬆管理。用戶定義標籤能夠分配至資料庫中保存的任何測試或測試組，可利用這些標籤進行數據篩選。
雷尼紹XM-60多光束雷射幹涉儀存放在一個堅固的Peli?系統便攜箱中，便攜箱有足夠的空間來放置附件以及XC-80補償器組件。此便攜箱可用於雷射系統的安全存儲以及運輸，在許多應用場合，雷射裝置不用從便攜箱中取出即可執行測量，簡化了操作。提供可選夾具組件，用於將XM-60安裝在工具機上，夾具組件存放在便攜箱中，便於運輸。