微束X射線螢光光譜儀

2020-11-07 創想儀器

微束X射線螢光光譜儀μ- XRF是價態和微區分析的重要工具,具有原位、多維、動態和非破壞性特徵,近些年來呈現快速發展態勢,主要應用於微米量級區域內的元素分析。

μ- XRF採用X射線透鏡產生小至數十μum的微束X射線,通常將兩組透鏡分別安裝在發射道和探測道上,發射道上採用高光子通量的光源和單毛細管透鏡,探測道上幾乎只採用半聚焦多毛細管透鏡或錐束多毛細管透鏡24.,通過調節兩組透鏡的焦點使其聚焦於樣品中,這種「共聚焦」設置方式不僅提高了初、次級X射線的強度,還能提供多維信息。

同步輻射雖然是進行微區分析的理想光源,但其裝置龐大、造價高昂,並不適宜於常規應用;高功率X射線管或低功率微焦點X射線管雖然不如同步輻射可以提供非常強的分析能力,但亦可以達到很高的亮度,而且廉價易得,成為應用最普遍的μ- XRF光源。

創想螢光光譜儀


目前已有的X射線螢光光譜儀一般不配備X射線聚焦器件,微區解析度通常為幾十甚至上百微米,迄今為止,未見微區解析度小於10微米的可攜式微束X射線螢光光譜儀的相關報導。

已有人提出基於X射線毛細管器件的螢光光譜儀,因為使用了 X射線毛細管器件進行聚焦,微區解析度提高到幾十微米,但是結構複雜、尺寸龐大,無法實現便攜,且微區解析度還不夠高;另有人提出一種能量色散X射線螢光光譜儀,用X射線發生裝置產生的一次X射線去照射二次靶材,提高了檢測靈敏度,但是儀器結構和控制裝置複雜,微區解析度不高。

X射線螢光光譜儀器經過半個多世紀的不斷積累和突破,X射線螢光光譜儀已廣泛滲透進科研、生產和生活的各個方面,促進了各個學科和技術的飛躍,物理學化學地質學、生命科學、材料科學、環境科學、考古學、醫藥衛生、刑偵法檢等學科和技術的某些突破性發展很大程度上都仰賴於X射線螢光光譜儀的應用。

在工業生產特別是冶金工業中,原材料的質量檢查、中間控制及成分分析異常重要。化學分析法流程長、工作量大、速度慢,不適宜於爐前分析;等離子體發射光譜法不適宜於測量濃度大的元素,且譜線強度受樣品組分的影響較大,曲線線性也不穩定,不利於指導生產,而XRF不受樣品形態的約束,分析範圍廣泛,簡便快速、誤差小、成本低、準確度好、易於自動化,適用於合金工業生產分析。

相關焦點

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    60年代末70年代初以來,X射線螢光光譜儀大致分為使用晶體分光的色散型和不使用晶體分光的非色散型兩類。使用半導體探測器的X射線螢光光譜儀當初被劃為非色散型光譜儀的一種,但由於近年來半導體探測器性能(特別是能量解析度)提高,使用技術發展,現已被確定為一個能量色散的新分支。
  • 一種新方式推動了X射線螢光光譜儀的發展
    這些發現都為人們後期根據原子序數而不是根據原子量大小提煉元素周期表奠定了基礎,同樣也為人們建立起第一個X射線螢光光譜儀(XRF)打下了堅實的理論基礎。然而,直到1948年,Herbert Friedman 和Laverne Stanfield Birks才建立起世界上第一臺X射線螢光光譜儀,這為後續光譜儀的商業化使用開闢了道路。
  • 創想儀器GLMY告訴你原子吸收光譜儀和X射線螢光光譜儀的區別
    光譜儀都是依據光譜線的原理而發明的,有些人提到X原子螢光和原子吸收光譜儀,從名字上來說就是兩種儀器,光譜儀的原理雖然都有些相似,但是其中一些小小區別就造成不同的應用與精度。
  • 順序式波長色散X射線螢光光譜儀的運動系統控制
    摘要:本文介紹了一種利用LPC1766微控制器實現順序式波長色散X射線螢光光譜儀的電機系統控制方案。系統分析了順序式波長色散X射線螢光光譜儀的電機系統控制需求,充分利用LPC1766豐富的PWM和GPIO中斷功能,配合光電開關的邏輯順序,控制直流電機運動,最終實現了光譜儀中晶體、準直器和濾光片的準確定位。測試結果符合《JJG 810-1993波長色散X射線螢光光譜儀檢定規程》的要求。
  • 2020-2026年全球與中國X射線螢光光譜儀市場現狀調研分析及發展...
    中國產業調研網發布的《2020-2026年全球與中國X射線螢光光譜儀市場現狀調研分析及發展趨勢報告》首先介紹了X射線螢光光譜儀的背景,包括X射線螢光光譜儀的相關概念、分類、應用、產業鏈結構、產業概述,X射線螢光光譜儀行業國家政策及規劃分析,X射線螢光光譜儀技術參數及生產基地,不同地區,不同規格,不同應用X射線螢光光譜儀產量分析;X射線螢光光譜儀產品技術參數,生產工藝技術,產品成本結構等
  • 什麼是全反射X射線螢光光譜儀技術?
    ,再入射到塗有樣品的第三級反射體上激發出樣品的特徵X射線,最後被探測器接收並由檢測系統進行記錄處理。創想X射線螢光光譜儀的定義為:入射X射線剛好發生反射現象時的人射角度。忽略在吸收限處的共振和量子效應,由經典色散理論可推出臨界角公式1/2中: = (5.4 x 10"Zp\3/A)(2)式中:Z為原子序數;p為密度,g/cm2 ;λ為人射X射線的波長,cm;λ反射體的原子量,g/mol。
  • 我國自主研發波譜-能譜複合型X射線螢光光譜儀
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  • 怎樣的能說被稱為微區X射線螢光光譜儀
    有一種非常成熟的能譜技術,這種能譜叫微區X射線螢光光譜儀,它不僅可以完成一般能譜儀的平均成分的分析,又具有可變的細的X-光光束,可對微區進行有選擇的分析。可通過精密移動樣品臺的對樣品細小的區域進行成分分析,並實時給出元素的面分布圖。它類同於掃描電鏡或電子探針的分析,但又比後者靈敏度高得多。
  • 能量色散X射線螢光光譜儀之水泥行業應用專題
    而能量色散X射線螢光光譜法(EDX)獨具快速、無損、且能給出整體元素成分結果的特點,是快速獲知固廢中重金屬(Cr、Mn、Zn、As、Pb)和各種其它無機元素(Na、Mg、Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、Fe等)含量的最佳手段。因此,我們使用能量色散型X射線螢光光譜儀(5E-XRF2500)建立了汙泥、汙染土壤中重金屬、主量無機元素的分析方法。
  • 螢光光譜儀原理
    導讀:本文主要介紹的是螢光光譜儀的原理,感興趣的童鞋們快來學習一下吧~~很漲姿勢的哦~~本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/281697.htm
  • 基於S3C2440的能量色散X射線螢光光譜儀
    X射線螢光分析是一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法[1]。目前,X射線螢光分析技術已被廣泛應用於地質、冶金、化工、材料、石油、醫療等領域,尤其是能量色散X射線螢光EDXRF(Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)光譜儀,由於具有體積小、價格低廉、自動化程度高等優點,已成為普遍多元素同時分析的有力手段。
  • 北京市理化分析測試中心X射線螢光光譜儀等儀器購置
    項目名稱:北京市理化分析測試中心X射線螢光光譜儀等儀器購置政府採購項目 簡要技術要求/招標項目的性質:X射線螢光光譜儀等儀器購置
  • X螢光光譜儀改進方向
    X射線螢光光譜儀根據有手持和臺式兩種,所採用的都是X螢光光譜儀的原理。XRF螢光光譜儀由激發源和探測系統構成。X射線管產生入射X射線,激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然後,儀器軟體將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
  • X螢光光譜儀的應用發展
    X螢光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射,通常是指能t範圍在0.1^-100keV的光子。X射線光譜儀與物質的相互作用主要有螢光、吸收和散射三種。X射線螢光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特徵輻射,通過側裡和分析樣品產生的x射線螢光,即可獲知樣品中的元家組成,得到物質成分的定性和定量信息。
  • 展望X射線光譜儀的原理和發展
    X射線光譜儀是進行組分和結構分析的有力工具,簡述了X射線光譜儀的基本原理並對其進行了分類,重點介紹了其在光源、探測器等硬體發麵的發展,簡要介紹了其應用,最後對其發展趨勢作了簡要展望。 X射線光譜儀法以其分析速度快、非破壞性、分析元素範圍廣、分析含量範圍廣、分析精度高、制樣方法簡單樣品形態不受約束等優異特性,在組分和結構分析中佔據了愈發重要的地位,甚至在某些方面取代了上述傳統分析方法,廣泛應用於物理、化學、材料、生物、醫學、天文、環境、考古、工業生產等領域。
  • 《中國能量色散X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)市場調研報告(2019...
    能量色散X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)以其快速、對試樣無損、多種元素同時分析、分析成本低等優點,在許多領域中發揮著巨大的作用為了更系統地了解近年來我國ED-XRF的技術與應用進展、未來發展趨勢及市場情況等,儀器信息網特組織了「能量色散X
  • 重大儀器專項波譜-能譜複合型X射線螢光光譜儀研製獲批
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  • 中國能量色散X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)市場調研報告(2019)》正式發布
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  • X原子螢光和原子吸收光譜儀的區別
    光譜儀都是依據光譜線的原理而發明的,有些人提到X原子螢光和原子吸收光譜儀,從名字上來說就是兩種儀器,光譜儀的原理雖然都有些相似,但是其中一些小小區別就造成不同的應用與精度。原子吸收光譜儀的光源是空心陰極燈,檢測的樣品是溶液。2.X射線螢光光譜儀X射線螢光光譜儀樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用於煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。
  • X螢光光譜儀的定量分析和定性分析
    X螢光光譜儀進行定量分析的依據是元素的螢光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比:Ii=IsWi 式中,Is為Wi=100%時,該元素的螢光X射線的強度。根據上式,可以採用標準曲線法,增量法,內標法等進行定量分析。