螢光光譜儀原理

2020-11-25 電子產品世界

　　導讀：本文主要介紹的是螢光光譜儀的原理，感興趣的童鞋們快來學習一下吧~~很漲姿勢的哦~~

本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/281697.htm

　　螢光光譜儀分析對象主要有各種磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態樣品的無標半定量分析，對於均勻的顆[1]粒度較小的粉末或合金，結果接近於定量分析的準確度。X螢光分析快速，某些樣品當天就可以得到分析結果。適合課題研究和生產監控。

　　接下來我們以X螢光光譜儀為例分析其原理。

　　X螢光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線)，激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然後，儀器軟體將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

　　X螢光光譜儀根據各元素的特徵X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。近年來，X螢光光譜分析在各行業應用範圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用於冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得最多也最廣泛。大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析範圍為Be到U。並且具有分析速度快、測量範圍寬、幹擾小的特點。

　　拓展閱讀：

　　1.光譜分析儀原理，就是醬紫滴~~

　　2.微型光纖光譜儀在紫外可見吸收測量中的應用

　　3.ICP原理

　　

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