X螢光光譜儀的應用發展

2020-12-08 電子產品世界

  X螢光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析,元素範圍13Al-92U,含量範圍ppb至100%,檢出限到2pg。

  X螢光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射,通常是指能t範圍在0.1^-100keV的光子。X射線光譜儀與物質的相互作用主要有螢光、吸收和散射三種。X射線螢光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特徵輻射,通過側裡和分析樣品產生的x射線螢光,即可獲知樣品中的元家組成,得到物質成分的定性和定量信息。特徵x射線的產生與特性當用高能電子束照射樣品時,人射高能電子被樣品中的電子減速,這種帶電拉子的負的加速度會產生寬帶的連續X射線譜,簡稱為連續潛或韌致輻射。另一方面,化學元素受到高能光子或粒子的照射,如內層電子被激發,則當外層電子躍遷時,就會放射出特徵X射線。特徵X射線是一種分離的不連續譜。如果激發光源為x射線,則受激產生的x射線稱為二次X射線或X射線螢光。特徵x射線顯示了特徵x射線光譜儀產生的過程。當人射x射線撞擊原子中的電子時,如光子能量大於原子中的電子束縛能,電子就會被擊出。這一相互作用過程被稱為光電效應,被打出的電子稱為光電子。通過研究光電子或光電效應可以獲得關於原子結構和成鍵狀態的信息。在這一過程中,如人射光束的能量大得足以擊出外射原子中的內層電子,就會在原子的內殼層產生空穴,這時的原子處於非穩態,層電子會從高能軌道躍遷到低能軌道來充填軌道空穴線的形式釋放,原子恢復到穩態。如果空穴在K,L,,多餘的能量就會以xM殼層產生,就會相應產生K,L,M系X射線。光電子出射時有可能再次激發出原子中的其他電子,生成的光電子被稱為俄歇電子,產生新的光電子。再次這一過程被稱之為俄歇效應一元家受激發後輻射出的X射線光子的能量等於受激原子中過渡電子在初始能態和最終能態的能量差別,即發射的X射線光子能量與該特定元素的電子能態差成正比X射線螢光光譜儀是來源於樣品組成的特徵輻射。通過側定和分析X射線的能量或波長,即可獲知其為何種元素,故可用來識別物質組成,定量分析物質中的元素含量。

  如今,X螢光光譜儀技術已成功應用於環境、食物鏈、動植物、農產品、人體組織細胞及器官、生物醫學材料、組織細胞、醫學試劑、動植物器官、代謝產物中的無機元素測定。目前XRF分析專家們已普遍走出了單純進行分析側試研究的範疇,廣泛開展了分析數據與所包含信息的相關性研究,試圖揭示出分析結果與疾病及環境變化等的內在聯繫,為疾病診斷與預防、環境預測與治理等提供科學依據。核技術在醫學研究與應用中佔有重要地位,當應用於與人類生命直接相關的醫療領域時,一方面它可用於治療和診斷,另一方面也可能損傷健康的細胞,因此放射劑量學研究在國際上也收到了廣泛重視。核技術應用與核材料安全由於與人類生存環境密切相關,目前更是引人關注。

  在人們的日常生活中,許多材料都含有濃度不等的重金屬元素,例如鉛、鉻、汞等。這些元家對人體有毒有害,其含量如超出允許範圍,會極大損害人的健康,包括人的行為能力和智力水平。因此,歐盟針對塑料產品等的新標準已經生效,對有毒有害元素含量有了更為嚴格的限制。由於我國每年有大徽塑材出口。這一標準的實施對我國原材料生產和出口有著極大的影響。而XRF光譜儀技術則特別適合於用來監控相關材料中的有毒有害元家的含量,該技術已廣泛應用於實際生產質最控制。此外.XRF光譜儀在無損檢測方面,具有其他分析技術無法比擬的優點,利用X射線光譜儀掃描方法探測材料表層下面的缺陷是X射線無損檢側技術的一個重要應用領域。


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    中國產業調研網發布的《2020-2026年全球與中國X射線螢光光譜儀市場現狀調研分析及發展趨勢報告》首先介紹了X射線螢光光譜儀的背景,包括X射線螢光光譜儀的相關概念、分類、應用、產業鏈結構、產業概述,X射線螢光光譜儀行業國家政策及規劃分析,X射線螢光光譜儀技術參數及生產基地,不同地區,不同規格,不同應用X射線螢光光譜儀產量分析;X射線螢光光譜儀產品技術參數,生產工藝技術,產品成本結構等
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  • X射線螢光光譜儀分類
    60年代末70年代初以來,X射線螢光光譜儀大致分為使用晶體分光的色散型和不使用晶體分光的非色散型兩類。使用半導體探測器的X射線螢光光譜儀當初被劃為非色散型光譜儀的一種,但由於近年來半導體探測器性能(特別是能量解析度)提高,使用技術發展,現已被確定為一個能量色散的新分支。
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  • X螢光光譜儀改進方向
    X射線螢光光譜儀根據有手持和臺式兩種,所採用的都是X螢光光譜儀的原理。XRF螢光光譜儀由激發源和探測系統構成。X射線管產生入射X射線,激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然後,儀器軟體將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
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  • 微束X射線螢光光譜儀
    微束X射線螢光光譜儀μ- XRF是價態和微區分析的重要工具,具有原位、多維、動態和非破壞性特徵,近些年來呈現快速發展態勢,主要應用於微米量級區域內的元素分析。 目前已有的X射線螢光光譜儀一般不配備X射線聚焦器件,微區解析度通常為幾十甚至上百微米,迄今為止,未見微區解析度小於10微米的可攜式微束X射線螢光光譜儀的相關報導。
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  • 什麼是全反射X射線螢光光譜儀技術?
    創想X射線螢光光譜儀忽略在吸收限處的共振和量子效應,由經典色散理論可推出臨界角公式1/2中: = (5.4 x 10"Zp\3/A)(2)式中:Z為原子序數;p為密度,g/cm2 ;λ為人射X射線的波長,cm;λ反射體的原子量,g/mol。
  • X螢光光譜儀分析中的粉末壓片制樣法
    作為一種比較成熟的成分分析手段,X螢光光譜儀分析在冶金、地質、環境、化工、材料等領域中應用非常廣泛。X螢光光譜儀分析粉末樣品主要有兩種方法:①、熔融法。熔融法是應用較多的一種制樣方法,它較好地消除了顆粒度效應和礦物效應的影響。但熔融法也有缺點:因樣品被熔劑稀釋和吸收,使輕元素的測量強度減小;制樣複雜,要花費大量時間;成本也較高。
  • X螢光光譜儀的定量分析和定性分析
    X螢光光譜儀進行定量分析的依據是元素的螢光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比:Ii=IsWi 式中,Is為Wi=100%時,該元素的螢光X射線的強度。根據上式,可以採用標準曲線法,增量法,內標法等進行定量分析。
  • 螢光光譜儀原理
    導讀:本文主要介紹的是螢光光譜儀的原理,感興趣的童鞋們快來學習一下吧~~很漲姿勢的哦~~本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/281697.htm
  • X螢光光譜儀的分析原理及構造
    X射線螢光(XRF)能用於測定周期表中多達83個元素所組成的各種形式和性質的導體或非導體固體材料,其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質物料等。  X-螢光光譜儀工作原理  X-螢光光譜儀有兩種類型:一種是波長色散型(WDX),一種是能量色散型(EDX),我公司(INNOV-X中國服務中心)使用的是波長色散型(XRF分析儀),在WDX中,螢光光譜通過色散元件(如晶體)被分離成不連續的波段,然後用氣體正比計數器或閃爍計數器檢測,其主要組成是X光管、初級準直器、晶體、次級準直器和探測器
  • 基於S3C2440的能量色散X射線螢光光譜儀
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  • 雙通道原子螢光光譜儀
    目前,金索坤原子螢光光譜儀將檢測元素拓展到了18 種。新增的檢測元素為:快—測試速度快:連續流動進樣專利技術的應用將傳統方式檢測一個數據的時間從1 分鐘減少到25 秒。在此基礎上,每多增加一次測試數據只需5 秒。
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    由國家地質實驗測試中心牽頭,鋼研納克檢測技術有限公司等8家單位共同申報的2012年國家重大科學儀器設備開發專項項目「波譜-能譜複合型X射線螢光光譜儀的研發與產業化」已獲科技部批准,項目實施周期為五年。