安森美半導體推出dToF雷射雷達方案,滿足測距應用的關鍵需求

2020-11-23 電子發燒友

安森美半導體推出dToF雷射雷達方案，滿足測距應用的關鍵需求

安森美半導體 發表於 2020-11-10 15:07:08

推動高能效創新的安森美半導體 （ON Semiconductor，美國納斯達克上市代號：ON），推出了由該公司矽光電倍增管 （SiPM） 技術實現的單點直接飛行時間 （dToF） 的雷射雷達方案。

光檢測和測距或雷射雷達的應用在所有領域都在增長，包括機器人和強制要求毫米範圍精度的工業接近感知。它通常基於dToF方法，測量通常在近紅外 （NIR） 波長範圍內的一個光脈衝往返於一個物體所需的時間。

儘管原理很簡單，但其應用可能會帶來挑戰性，例如周圍太陽光較強等環境因素。為了準確確定範圍，接收器需要捕獲儘可能多的信號。就響應時間和靈敏度而言，傳統的光電二極體在這方面會受到影響。安森美半導體開發的矽光電倍增管 （SiPM） 傳感器提供更快的響應時間和高檢測效率，克服了這些不足。該參考平臺使用安森美半導體第二代SiPM 傳感器RB系列，在紅色和NIR範圍都帶來更高的性能。

安森美半導體開發的SiPM dToF雷射雷達平臺提供低成本、單點雷射雷達的完整方案，原始設備製造商 （OEM） 可靈活調整並投入生產，以創建工業測距應用。它包括NIR雷射二極體、SiPM傳感器和光學器件，以及將檢測到的信號轉換為經過時間，以及將經過時間轉換為距離所需的數字處理。

為加快客戶的上市時間，安森美半導體提供該參考平臺的所有設計數據，涵蓋原理圖、物料單 （BoM） 、gerber文件和PCB設計文件。客戶還可以訪問基於PC的圖形用戶接口（GUI），提供隨時間變化的測量結果的圖形。生成的直方圖進一步證明該系統在測距、碰撞檢測和3D製圖等應用的能力。

安森美半導體物聯網主管Wiren Perera說：「使用dToF雷射雷達進行測距，滿足了許多應用的關鍵需求，從自主導航到地圖繪製到監控。但是，開發基於dToF雷射雷達的系統可能具有挑戰性。我司的這個平臺顯然證實這領先技術的效用。有了經驗證的設計，客戶就能更快地進行概念驗證，並迅速將產品推向市場。」

SiPM dToF雷射雷達平臺可檢測10釐米至23米距離的物體。使用提供的GUI提供開箱即用的體驗，使工程師可以立即開始評估該技術。該設計已獲得美國食品和藥物管理局 （FDA） 一類認證，並符合IEC / EN 60825-1:2014和21 CFR 1040．10 / 1040．11雷射安全標準。

責任編輯：gt

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