發表於 2019-10-11 10:26:31
功率MOS場效應電晶體,即MOSFET,其原意是:MOS(MetalOxideSemiconductor金屬氧化物半導體),FET(FieldEffectTransistor場效應電晶體),即以金屬層(M)的柵極隔著氧化層(O)利用電場的效應來控制半導體(S)的場效應電晶體。
1、靜態特性
(1)漏極伏安特性
漏極伏安特性也稱輸出特性,如圖2所示,可以分為三個區:可調電阻區Ⅰ,飽和區Ⅱ,擊穿區Ⅲ。在Ⅰ區內,固定柵極電壓UGS,漏源電壓UDS從零上升過程中,漏極電流iD首先線性增長,接近飽和區時,iD變化減緩,而後開始進入飽和。達到飽和區Ⅱ後,此後雖UDS增大,但iD維持恆定。從這個區域中的曲線可以看出,在同樣的漏源電壓UDS下,UGS越高,因而漏極電流iD也大。當UDS過大時,元件會出現擊穿現象,進入擊穿區Ⅲ。
(2)轉移特性
漏極電流ID與柵源極電壓UGS反映了輸入電壓和輸出電流的關係,稱為轉移特性,如圖3所示。當ID較大時,該特性基本上為線性。曲線的斜率gm=△ID/△UGS稱為跨導,表示P-MOSFET柵源電壓對漏極電流的控制能力,與GTR的電流增益β含義相似。圖中所示的UGS(th)為開啟電壓,只有UGS》UGS(th)時才會出現導電溝道,產生柵極電流ID。
2、開關特性
P-MOSFET是多數載流子器件,不存在少數載流子特有的存貯效應,因此開關時間很短,典型值為20ns,而影響開關速度的主要是器件極間電容。圖4為元件極間電容的等效電路,從中可以求得器件輸入電容為Cin=CGS+CGD。正是Cin在開關過程中需要進行充、放電,影響了開關速度。同時也可看出,靜態時雖柵極電流很小,驅動功率小,但動態時由於電容充放電電流有一定強度,故動態驅動仍需一定的柵極功率。開關頻率越高,柵極驅動功率也越大。
P-MOSFET的開關過程如圖5所示,其中UP為驅動電源信號,UGS為柵極電壓,iD為漏極電流。當UP信號到來時,輸入電容Cin有一充電過程,使柵極電壓UGS只能按指數規律上升。P-MOSFET的開通時間為ton=td(on)+tr。當UP信號下降為零後,柵極輸入電容Cin上貯存的電荷將通過信號源進行放電,使柵極電壓UGS按指數下降,到UP結束後的td(off)時刻,iD電流才開始減小,故td(off)稱為關斷延遲時間。P-MOSFET的關斷時間應為toff=td(off)+tf。
1、驅動方式:場效應管是電壓驅動,電路設計比較簡單,驅動功率小;功率電晶體是電流驅動,設計較複雜,驅動條件選擇困難,驅動條件會影響開關速度。
2、開關速度:場效應管無少數載流子存儲效應,溫度影響小,開關工作頻率可達150KHz以上;功率電晶體有少數載流子存儲時間限制其開關速度,工作頻率一般不超過50KHz。
3、安全工作區:功率場效應管無二次擊穿,安全工作區寬;功率電晶體存在二次擊穿現象,限制了安全工作區。
4、導體電壓:功率場效應管屬於高電壓型,導通電壓較高,有正溫度係數;功率電晶體無論耐電壓的高低,導體電壓均較低,具有負溫度係數。
5、峰值電流:功率場效應管在開關電源中用做開關時,在啟動和穩態工作時,峰值電流較低;而功率電晶體在啟動和穩態工作時,峰值電流較高。
6、產品成本:功率場效應管的成本略高;功率電晶體的成本稍低。
7、熱擊穿效應:功率場效應管無熱擊穿效應;功率電晶體有熱擊穿效應。
8、開關損耗:場效應管的開關損耗很小;功率電晶體的開關損耗比較大。
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