JSM-6360LV數位化、低真空鎢燈絲掃描電鏡

  
   SEM6360LV掃描電子顯微鏡

　　掃描電鏡是一種性能優越、用途最為廣泛的儀器。和光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點：

　　(一) 能夠直接觀察大樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

　　(二) 樣品製備過程簡單，不用切成薄片。

　　(三) 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。

　　(四) 景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。能夠提供比其它顯微鏡多得多的信息。

　　(五) 圖象的放大範圍廣，解析度也比較高。可放大十幾倍到幾十萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大範圍。解析度介於光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3納米。現已廣泛用於觀察納米材料。

　　(六) 電子束對樣品的損傷與汙染程度較小。因為觀察時所用的電子探針電流小、電子探針的束斑尺寸小，而且不是固定一點照射試樣，而是以光柵狀掃描方式照射試樣。因此，由於電子照射面發生試樣的損傷和汙染程度很小，這一點對觀察一些生物試樣特別重要。

　　(七) 從試樣表面形貌獲得多方面資料，掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進行成分和元素的分析，以及通過電子通道花樣進行結晶學分析。

　　由於掃描電鏡具有上述特點和功能，所以越來越受到科研人員的重視，用途日益廣泛。現在掃描電鏡已廣泛用於材料科學（金屬材料、非金屬材料、納米材料）、冶金、生物學、醫學、半導體材料與器件、地質勘探、病蟲害的防治、災害（火災、失效分析）鑑定、刑事偵察、寶石鑑定、工業生產中的產品質量鑑定及生產工藝控制等。

　　我校的JSM-6360LV掃描電鏡，是日本電子株式會社在2002年推出的新型號數位化掃描電鏡。主要特點為全數位化控制系統，高解析度、高精度的變焦聚光鏡系統、全對中樣品臺及高靈敏度半導體背散射探頭；用於各種不含水及揮發性油材料的表面形貌觀測。目前安放於我校南校區科研樓一層1309房間，已加入到我校大型儀器設備共享系統，有專門的儀器管理操作人員。凡屬我校在編的教師、科研人員、實驗技術人員、在讀研究生及本科生等，均可登陸西北農林科技大學大型儀器設備共享系統（http://210.27.90.190），根據系統要求，註冊成為有效用戶，並按系統提示進行網上儀器使用預約，預約成功後，即可根據儀器管理員安排的時間及要求安排實驗，使用儀器。