5G射頻前端、基站、終端的測試難點分析

2021-01-15 電子產品世界

　　1 射頻前端、基站、終端的測試動向

本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/202005/413587.htm

　　NI早在十幾年前就入局5G，跟實驗室、研究所、大學等合作研究。在晶圓、射頻前端（功率放大器PA、射頻開關、天線調諧器、低噪聲放大器LNA等）、基站及終端領域，NI與行業領先廠商均有合作。

　　● 射頻前端：5G對射頻模塊產業的影響將是系統而全面的，無論是集成度、材料、工藝、封裝都將發生變革。射頻前端晶片廠商正在逐步實現從Sub 6GHz到毫米波頻段的部署，隨著頻段的提升，射頻前端電路需要適應更高的載波頻率，更寬的通信帶寬，更高更有效率和高線性度的信號輸出功率。為實現更低的成本、更高的性能和更小的尺寸，射頻前端的集成化和模組化是必然趨勢。

　　● 基站：隨著5G商用化進程的加快，5G基站端需求呈現井噴現象。在5G時代，「宏基站為主，小基站為輔」的組網方式是未來網絡覆蓋提升的主要途徑。從4G到5G基站側天線數越來越多，基站總功率也隨之增加，5G基站廣泛使用大規模天線（Massive MIMO）和波束成形技術 (Beamforming)技術，來提升終端信號接收強度。這對半導體材料提出了更高的要求，砷化鎵（GaAs）、氮化鎵(GaN)等由於能源效率提高、功率密度更大的特點，是代替LDMOS的備選。

　　業界希望把天線陣列尺寸做得更大，尺寸越大，它在空間解析的靈活度就越大，由於天線陣列的特點，分散到每一個陣列上的單一天線上所必須的發射/接收的功率縮小。此外，在基站的部分也因為導入毫米波之後，無論是帶寬還是後端的信息量都會變大，基帶的測試速度也要隨之提高。

　　射頻器件的封裝形式也發生了變化，5G時代天線將以AiP（Antenna in Package）技術與其他零件共同整合到單一封裝內。AiP指的是基於封裝材料與工藝，將天線與晶片集成在封裝內，實現系統級無線功能的技術。AiP技術順應了矽基半導體工藝集成度提高的趨勢，兼顧了天線性能、成本及體積，非常適應5G時代的要求。

　　● 終端：5G終端產品如手機中的天線和射頻器件的集成方式和數量均發生了變化，5G手機支持下行鏈路4×4 MIMO，上行鏈路2×2 MIMO，而4G手機大部分僅支持2×2 MIMO，總而言之，5G終端設備中射頻前端用量將翻倍，4×4 MIMO需要4根天線和4個獨立的RF通道，4×4 MIMO普及意味天線數量、PA、LNA、濾波器、射頻開關等器件用量翻倍增加。同時，終端產品射頻器件集成化的要求越來越高，同時也提出了低功耗和小尺寸的要求，此外，激烈的市場競爭要求終端廠商必須縮短開發周期加快產品上市時間。

　　2 測試的痛點及NI的對策

　　1）OTA（空口）測試。由於毫米波、大規模天線技術以及新的AiP天線封裝技術的引入使得無線設備集成度提高，無法用線纜單獨對待測件進行測試，因此必須採用OTA測試方法。OTA 測試系統的核心部分包括測試暗室、轉臺定位設備、用於生成和分析信號的測試儀器、測量天線，以及用於測量自動化的控制和報告軟體。由於在空氣中毫米波功耗衰減得快，測試儀表也必須能夠輸出更大的功率或者是接收更小距離的待測件通過空口打到測試儀表這邊，再收進來測。所以儀表也必須要能夠有更好的靈敏度，才有辦法解析待測件出來的信號，在這種情況下，空口之間的校準就非常重要。NI提供靈活且可擴展的OTA測試系統，以幫助廠商解決如下測試難題。

　　● 通過連續掃描3D空間，將OTA測試時間從數小時縮短至幾分鐘，並使用PXI平臺實現DUT定位器與射頻生成和分析引擎的緊密同步。

　　● 藉助無噪聲的射頻消音室和經過適當特性分析的靜區，獲得可靠的OTA測量數據。

　　● 藉助毫米波矢量信號收發儀來驗證AiP DUT的高帶寬波束形成性能，該收發儀支持所有3GPP信道帶寬和符合5G標準的波形。

　　● 利用NI的毫米波OTA驗證測試軟體，輕鬆配置各種空間掃描，以對DUT天線方向圖進行特性分析，同時可快速生成、查看、存儲或分配詳細的參數結果。

　　2）大功率基站測試問題。隨著功耗的增加，單獨的儀表不能完成所有的測試，有一種方法是通過外加功放和衰減器的方式，但外掛設備太多會導致佔地面積過大，還需要工程師花費時間手動校準。特別是到了毫米波部分，毫米波對溫度比較敏感，細微的溫度變化對測量參數會有很大的影響。NI的解決方案會把測試頭放到了離待測件最近的地方，測試頭裡面已經做好對溫度的校準補償，用戶不需要顧慮這些問題。

　　3）可擴展的自動化測試系統：從Sub 6 GHz到mmWave頻段，5G更大的帶寬讓組合測試項增加，繁重的測試任務需要花費大量的人力和時間，省時省力省錢的自動化測試勢在必行。NI為客戶打造的自動化測試，能夠將測試時間縮短30%~40%。而且，從實驗室到量產的測試可以用同樣的設備，這就避免了不同的測試設備之間測試的數據不一致的問題，驗證兩套的數據通常需要花費1個月的時間，使用NI的測試系統，用戶可以大幅度將這個時間縮短到4天~1周。另外，5G的標準在持續演進，還有很多新的標準和協議要加入進來。現在的測試設備要滿足對未來的測試需求，可擴展的5G測試系統非常關鍵。

　　4）從Sub 6 GHz到mmWave頻段，需要「彈性」的測試系統。從Sub 6 GHz到mmWave頻段的信號鏈的架構，不同廠商各有不同。如圖1所示，有些廠商的射頻前端可能就只包括到PA的部分，有些包含了上下變頻器。在測試方面，就有射頻進中頻出，射頻進射頻出，中頻進中頻出等眾多可能性。因此，針對測試架構的測試系統必須能夠「彈性」的配置。

　　毫米波設備從實驗室到量產的測試需要一套高度集成的測試方案。為應對毫米波端的測試，NI推出了mmWave VST（NI 毫米波矢量信號收發器），該產品沿襲了NI VST家族高集成度的風格，結合了射頻信號發生器、射頻信號分析儀和集成開關，該產品從提高測試速度與提供量產級別的高性能測試系統兩個方面，幫助5G設備廠商加速研發。

　　（註：本文來源於科技期刊《電子產品世界》2020年第06期。）


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