電路功能與優勢
圖1所示的電路是電化學阻抗 譜（EIS）測量 系統，用於表徵鋰離子（Li-Ion）和其他類型的電池 。EIS是一種用於檢測電化學系統內部發生的過程的安全擾動技術。該系統測量電池在一定頻率範圍內的阻抗 。這些數據可以確定電池的運行狀態（SOH）和充電狀態（SOC）。該系統採用超低功耗模擬前端（AFE ），旨在激勵和測量電池的電流 、電壓或阻抗響應。
老化會導致電池性能下降和電池化學成分發生不可逆變化。阻抗隨容量的下降而呈線性增加。使用EIS監視電池阻抗的增加可以確定SOH以及電池是否需要更換，從而減少系統停機時間和維護成本。
電池需要激勵電流，而不是電壓，而且阻抗值在毫歐姆範圍內很小。該系統包括向電池注入電流的必要電路，並允許校準和檢測電池中的小阻抗。
圖1.簡化電路功能框圖
電路描述
電池EIS理論
電池是非線性系統；因此，檢測電池I-V曲線的一個小樣本，使系統呈現偽線性行為。在偽線性系統中，正弦輸入產生的正弦輸出頻率完全相同，但相位和振幅發生了偏移。在EIS中，向電池應用交流激勵信號以獲得數據。
EIS中的信息常用奈奎斯特圖表示，但也可以使用波特圖顯示（本電路筆記側重常見格式）。在奈奎斯特圖中，使用阻抗的負虛分量（y軸）與阻抗的實分量（x軸）作圖。奈奎斯特圖的不同區域對應於電池中發生的各種化學和物理過程（見圖2）。
圖2：電池的奈奎斯特圖顯示與電化學過程相對應的不同區域
這些過程使用電阻 、電容 和一種稱為Warburg電阻的元件來建模，Warburg電阻用字母W表示（在等效電路模型（ECM）部分有更詳細的描述）。沒有簡單的電子元件 來表示Warburg擴散電阻。
等效電路模型（ECM）
等效電路模型（ECM）使用簡單的電子電路（電阻和電容）來模擬電化學過程。該模型用一個簡單的電路來表示一個複雜的過程，以幫助分析和簡化計算。這些模型基於從測試 電池中收集的數據。對電池的奈奎斯特圖進行表徵後，可以開發一種ECM。大多數商業EIS軟體都包含一個選項，用於創建一個特定的、獨特的等效電路模型，以更接近由任何特定電池生成的奈奎斯特圖的形狀。在創建電池模型時，有四個常見參數表示電池的化學性質。
電解（歐姆）電阻—RS
RS的特性如下：
•對應於電池中電解質的電阻
•在進行測試時受電極和所用導線長度的影響
•隨電池的老化而增加
•當頻率》1 kHz時佔主導
雙層電容—CDL
CDL的特性如下：
•發生在電極和電解質之間
•由圍繞電極的兩層平行的相反電荷組成
•在1 Hz至1 kHz頻率範圍內佔主導
電荷轉移電阻—RCT
•電阻是在電子從一種狀態轉移到另一種狀態，即從固體（電極）轉移到液體（電解質）的過程中發生的
•隨電池的溫度和充電狀態而改變
•在1 Hz至1 kHz頻率範圍內佔主導
Warburg（擴散）電阻—W
•表示對質量轉移即擴散控制的阻力
•典型地表現45°相移
•當頻率《1 Hz時佔主導
表1提供了每個ECM組件的符號和表達式。
表1.ECM組件
構建電池ECM
建立等效電路模型（ECM）的過程通常以經驗為基礎，需要使用各種等效電路模型進行實驗，直到模型與測量的奈奎斯特圖匹配。
下面幾節將介紹如何創建一個典型的電池模型。
Randel電路模型歐姆和電荷轉移效應
Randel電路是最常見的ECM。Randel電路包括電解質電阻（RS）、雙層電容（CDL）和電荷轉移電阻（RCT）。雙層電容與電荷轉移電阻平行，形成半圓模擬形狀。
簡化的Randel電路不僅是一個有用的基本模型，而且是其他更複雜模型的起點。
圖3.Randel電路
圖4.產生奈奎斯特圖的簡化Randel電路圖
簡化Randel電路的奈奎斯特圖始終是一個半圓。電解質電阻（RS）是通過讀取電池特性的高頻截點處的實軸值來確定的，即線穿過圖左側的x軸處就是高頻區。在圖4中，電解質電阻（RS）是接近奈奎斯特圖起源的截點，為30Ω。另一（低頻）截點的實軸值是電荷轉移電阻（RCT）和電解質電阻（本例為270 Ω）的和。因此，半圓的直徑等於電荷轉移電阻（RCT）。
Warburg電路模型—擴散效應
對Warburg電阻建模時，將組件W與RCT串聯添加（見圖5）。Warburg電阻的增加產生了45°線，在圖的低頻區很明顯。
圖5.Warburg電路模型—擴散效應
圖6.具有擴散效應的ECM
組合Randel和Warburg電路模型
有些電池描繪兩個半圓形。第一個半圓對應固體電解質界面（SEI）。SEI的生長是由電解質的不可逆電化學分解引起的。如果是鋰離子電池 ，SEI則隨著電池的老化在負極處形成。這種分解的產物在電極表面形成一層固體。
形成初始SEI層後，電解質分子無法通過SEI到達活性材料表面，與鋰離子和電子發生反應，從而抑制了SEI的進一步生長。
將兩個Randel電路組合起來，為這種奈奎斯特圖建模。電阻（RSEI）針對SEI的電阻建模。
圖8.修改的Randel電路模型；奈奎斯特圖是一個具有明顯SEI的鋰離子電池
使用AD5941的電池阻抗解決方案
AD5941阻抗和電化學前端是EIS測量系統的核心。AD5941由一個低帶寬環路、一個高帶寬環路、一個高精度模數轉換器 （ADC ）和一個可編程開關 矩陣組成。
低帶寬環路由低功耗、雙輸出數模轉換器 （DAC ）和低功率跨阻抗放大器 （TI A）組成，前者可產生VZERO和VBIAS，，後者可將輸入電流轉換為電壓。
低帶寬環路用於低帶寬信號，其中激勵信號的頻率低於200 Hz，例如電池阻抗測量。
高帶寬環路用於EIS測量。高帶寬環路包括一個高速DAC，用於在進行阻抗測量時產生交流激勵信號。高帶寬環路有一個高速TI A，用於將高達200 kHz的高帶寬電流信號轉換為可由ADC測量的電壓。
開關矩陣是一系列可編程開關，允許將外部引腳連接到高速DAC激勵放大器和高速TI A反相輸入端。開關矩陣提供了一個接口 ，用於將外部校準電阻連接到測量系統。開關矩陣還提供電極連接的靈活性。
電池的阻抗通常在毫歐姆範圍內，需要一個類似值的校準電阻RCAL。此電路中的50 m？6？8 RCAL太小，AD5941無法直接測量。由於RCAL較小，外部增益級使用AD8694來放大接收信號。AD8694具有超低噪聲性能以及低偏置和漏電流參數，這對EIS應用至關重要。此外，在RCAL和實際電池上共用一個放大器有助於補償電纜 、交流耦合 電容和放大器產生的誤差。
激勵信號
AD5941使用其波形發生器、高速DAC（HSDAC）和激勵放大器來產生正弦波激勵信號。頻率可編程，範圍為0.015 mHz至200 kHz。信號通過CE0引腳和外部達林頓對電晶體 配置應用於電池，如圖9所示。需要電流放大器，因為激勵緩衝器所能產生的電流上限為3 mA。典型電池需要高達50 mA。
圖9.達林頓電晶體對
測量電壓
有兩個電壓測量階段。首先，測量RCAL上的壓降。其次，測量電池電壓。每個組件上的壓降在微伏的範圍內很小（μV）。因此，測得的電壓通過一個外部增益級發送。增益放大器AD8694的輸出通過引腳AI N2和引腳AIN3直接發送到至AD5941晶片上的ADC。通過利用離散傅立葉變換（DFT）硬體加速度計，對ADC數據執行DFT，其中實數和虛數計算並存儲 在數據FIF O中，用於RCAL電壓測量和電池電壓測量。ADG636對電池和RCAL進行多路復用，輸出至AD8694增益級。
需要ADG636開關的超低電荷注入和小漏電流來消除AD5941輸入引腳上的寄生電容。由於AIN2和AIN3引腳均用於RCAL測量和電池測量，阻抗測量的信號路徑是成比例的。
計算未知阻抗（ZUNKNOWN）
EIS採用比例式測量法。為了測量未知阻抗（ZUNKNOWN），在已知電阻RCAL上施加交流電流信號，並測量響應電壓VR CAL。然後在未知阻抗ZUNKNOWN上施加相同的信號，並測量響應電壓VZUNKNOWN。對響應電壓執行離散傅立葉變換，確定每次測量的實值和虛值。可使用下式計算未知阻抗：
圖10.EIS測量圖
電路評估與測試
下節概述CN-0510電路設計的測試程序和結果的收集。有關硬體和軟體設置的完整詳細信息，請參閱CN-0510用戶指南。
設備要求
•帶USB 埠和Windows® 7或更高版本的PC。
•EVAL-AD5941BATZ電路板 。
•EVAL-ADI CUP3029開發板。
•CN-0510參考軟體
•USB A型轉mi cro USB電纜
•連接抓取器/鱷魚夾的Bayonet Neill–Concelman （BNC）連接器
•電池（待測器件，DUT）
圖11.參考設計板
開始使用
1.通過Arduino 接頭將EVAL-AD5941BATZ連接到EVAL-ADICUP3029。
2.插入BNC，連接F+、F、S+、S上的電纜。
3.通過將micro USB電纜連接到EVAL-ADICUP3029上的P10為開發板供電，並將USB電纜的另一端插入您的電腦。
a.在連接電池之前，確保開發板通電，以避免短路。
4.從GitHub下載示例固件。
analog.com wiki網站上提供了下載說明。
5.將嵌入式軟體配置為應用所需的參數。
a.使用AD5940BATStrucTI nit（void）函數。（示例如下。）
圖12.固件配置
a.使用建議的交互式開發環境（IDE）構建代碼並將代碼下載到EVAL-ADICUP3029目標板。有關安裝詳細信息，請參閱AD5940用戶指南。
6.按照圖13所示連接電池。將F+和S+引線連接到電池的正極，將S-和F-連接到電池的負極。
7.按EVAL-ADICUP3029上的3029-RESET按鈕。
圖13.完整EIS電池系統
電池測試和結果
1.使用程序（如RealTe rm）打開串行終端。
2.將波特率配置為230，400。
a.選擇EVAL-ADICUP3029連接到的COM埠。
3.測量結果通過UART 流式傳輸，並可以保存到文件中進行分析。
請注意，在程序開始時執行一次校準功能。如果激勵頻率較低，則至少需要4個周期才能捕獲波形。要測量0.1 Hz，需要40秒以上才能完成。
請注意，硬體針對1 Hz以上的頻率進行優化。低於此值的測量值由於外部放大器的1/f噪聲而更加嘈雜。
圖14.顯示在終端程序中的結果
圖15顯示使用EVAL-AD5941BATZ測量示例鋰離子電池的奈奎斯特圖。
圖15.奈奎斯特圖（掃描1.11 Hz至50 kHz）
來源：廠商供稿
作者：ADI