美國RHK Technology公司推出新一代革命性掃描探針顯微鏡控制平臺...

    繼美國RHK Technology公司推出的革命性掃描探針顯微鏡控制平臺R9取得極大成功之後，其研發團隊通過升級軟硬體及功能隆重發布新一代R9plus控制器。基於獨特的單箱集成，R9plus將無限的靈活性，精心設計的實用功能和極高的設備穩定性巧妙結合在一起。R9plus細化和擴展的固件、軟體，以及進一步優化的模擬電路提供給用戶最優越的性能和體驗。
    相比於R9控制器，升級後的R9plus（圖1）特點主要有：全新的FPGA固件構架極大地提高了配置靈活性，對於高級測量提供有60多個可用的數據通道，數據流和掃描速度均提高5倍，模擬電路噪聲水平降低到原來的1/4，鎖相放大器的解調帶寬增加至100KHz，一個控制器可以運行兩個獨立的掃描探針顯微鏡（SPM）和設置任意密度的網格點進行圖譜測量等。

圖1：R9plus便捷的單箱集成

 

圖2：R9plus更低的噪聲水平

    R9plus允許高質量圖像和譜圖數據的採集。利用R9plus採集掃描隧道譜圖，即網格譜線數據，允許實時顯示10條閾值譜線（圖3）。譜線的每個像素點可以單獨顯示和分析。譜線數據可以取平均值用於與襯底的噪聲進行比較。

圖3：矽的網格掃描隧道譜圖

    R9plus對於原子力顯微鏡（AFM）的控制也有極大的優勢。首先，其多個內部集成的鎖相放大器可以探測針尖-樣品間非線性相互作用機制；其次，通過表徵非接觸原子力顯微鏡（Non-contact atomic force microscope）和頻率調製開爾文探針顯微鏡（Frequency-modulated Kelvin probe microscope）結合技術中的邊帶振幅，NC-AFM鎖相環（phase lock loop）的帶寬可以與開爾文測試分離，由此可以更快地掃描且噪聲更低。再次，兩個鎖相環可以同時獨立地測試雙探針NC-AFM。最後，提供一個切換開爾文探針不同模式的開關鍵，且可以同時測量2*?Bias and 3*?Bias由此得到 dC/dZ和dC/dV信號。

圖4：邊帶頻率調製開爾文測量噪聲較低

     R9plus基本功能可被初學者快速掌握，使用方便，同時R9plus的靈活性又適用於高級用戶，可突破限制，靈活設計更加符合實驗需求的功能和模式。對於任何級別的用戶體驗和簡單或苛刻實驗步驟的任何階段，R9plus以其完全充分整合的內部電路、直觀的圖形用戶界面，易於定製的硬體描述語言，最高的數據完整性，有利的診斷工具，最低的噪音和最高的速度為用戶提供有力的支持。

 

 

相關產品：

RHK-R9掃描探針顯微鏡控制器：

http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100980/C159539.htm 

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