必備技能 | SEM粒徑分布統計作圖及Nano Measurer軟體安裝

2021-01-15 科研絕技


今天帶給大家的是如何對晶粒進行分析統計，所用的軟體是Nano Measurer和Origin 9.0，並附軟體簡單的安裝及使用教程，希望對大家有所幫助！


文末有軟件下載地址！





解壓安裝包，運行Nano Measurer



選擇安裝語言



一直點擊下一步安裝



直到整個軟體安裝完成





運行Nano Measurer 1.2軟體，打開需要統計的SEM圖片（Jpg格式），首先設置標尺，如圖



在對顆粒進行標記統計，至少需要50個數據及以上


然後點擊報告，將數據生成txt文件，保存在桌面以方便查找


打開Origin作圖軟體，將txt數據複製到Origin中，注意，只要數值



選中Y軸，點擊菜單欄Statistics/Descriptive Statistics/Frequency Counts/Open Dialog



點擊OK



選中Count(Y)，使數據生成柱狀圖（Column）


對柱狀圖進行正態分布擬合：

點擊菜單欄Analysis/Fitting/Nonlinear Curve Fit/Open Dialog



點擊Function 的對話框的下三角標，選中Gauss



再點擊Fit進行擬合，得到如圖



再對原始數據進行求取平均值和標準差




選中Y軸，點擊菜單欄Statistics/Descriptive Statistics/Statistics on Columns/Open Dialog



點擊OK，得到平均值和標準差



對圖像進行處理，即可得到我們想要的圖像




https://pan.baidu.com/s/1araH_DP5Whic_SIDu9CMwA 


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