X螢光光譜儀的測試步驟有三,分別是?

2021-02-08 儀器儀表大作戰

X螢光光譜儀是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下,被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所採用的兩個物理量。

X螢光光譜儀技術的主要特徵為:  利用低能X光激發待測元素,對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果,並且測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率:具有良好的能量線性和能量解析度,及良好的能譜特性,較高的峰背比;  採用自動穩譜裝置,保證了儀器工作的一致性:  利用解譜技術使譜峰分解,使分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析精度;採用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

X螢光光譜儀www.boyuesh.com

使用壽命的技術:  (1)、光管自動老化功能;  (2)、自動跟進不同材質選擇不同的光管電流;  (3)、強大的散熱系統保證光管正常的工作條件;  模塊化的功能設計理念便於應對指令進行、檢測元素內容的升;*更為精巧的工藝,實現小體積樣品的檢測;  全光路射線防護系統配合三重安全防護設計,同時採用軟硬體雙重安全連鎖,保輻射安全性能。

X螢光光譜儀的測試步驟:  (1)選擇分析方法與制樣方法。分析方法一般有基本參數法、半基本參數法、經驗係數法等,制樣方法一般有拋光法、壓片法、濾紙片法和熔片法,常用粉末壓片法制樣,採用基本參數法測試。

(2)將製備好的樣片裝進樣品杯,放入樣品交換器中,自動進樣至樣品室,X射線管發出原級X射線照射樣品,激發出待測元素的螢光X射線。

(3)樣品輻射出的螢光X射線通過分光晶體,將X射線螢光光譜色散成孤立的單色分析線,由探測器測量各譜線的強度,根據選用的分析方法換算成元素濃度,得到樣品中待測元素含量。

相關焦點

  • X螢光光譜儀的應用發展
    X螢光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射,通常是指能t範圍在0.1^-100keV的光子。X射線光譜儀與物質的相互作用主要有螢光、吸收和散射三種。X射線螢光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特徵輻射,通過側裡和分析樣品產生的x射線螢光,即可獲知樣品中的元家組成,得到物質成分的定性和定量信息。
  • 順序式波長色散X射線螢光光譜儀的運動系統控制
    系統分析了順序式波長色散X射線螢光光譜儀的電機系統控制需求,充分利用LPC1766豐富的PWM和GPIO中斷功能,配合光電開關的邏輯順序,控制直流電機運動,最終實現了光譜儀中晶體、準直器和濾光片的準確定位。測試結果符合《JJG 810-1993波長色散X射線螢光光譜儀檢定規程》的要求。
  • 北京市理化分析測試中心X射線螢光光譜儀等儀器購置
    中標公告 項目名稱:北京市理化分析測試中心X射線螢光光譜儀等儀器購置政府採購項目
  • 雙通道原子螢光光譜儀
    在能滿足檢測要求後,根據相應需要選擇不同的配置,這裡要有6看:一、看耐用性與使用的方便性:是否易操作,易維護。二、看測試速度:多長時間測試一個數據,是否能做到省時,高效。三、看操作軟體的友好性:操作軟體是否界面友好,方便實用。
  • X螢光光譜儀的分析原理及構造
    X射線螢光(XRF)能用於測定周期表中多達83個元素所組成的各種形式和性質的導體或非導體固體材料,其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質物料等。  X-螢光光譜儀工作原理  X-螢光光譜儀有兩種類型:一種是波長色散型(WDX),一種是能量色散型(EDX),我公司(INNOV-X中國服務中心)使用的是波長色散型(XRF分析儀),在WDX中,螢光光譜通過色散元件(如晶體)被分離成不連續的波段,然後用氣體正比計數器或閃爍計數器檢測,其主要組成是X光管、初級準直器、晶體、次級準直器和探測器
  • X螢光光譜儀改進方向
    X射線螢光光譜儀根據有手持和臺式兩種,所採用的都是X螢光光譜儀的原理。XRF螢光光譜儀由激發源和探測系統構成。X射線管產生入射X射線,激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然後,儀器軟體將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
  • X射線螢光光譜儀分類
    60年代末70年代初以來,X射線螢光光譜儀大致分為使用晶體分光的色散型和不使用晶體分光的非色散型兩類。使用半導體探測器的X射線螢光光譜儀當初被劃為非色散型光譜儀的一種,但由於近年來半導體探測器性能(特別是能量解析度)提高,使用技術發展,現已被確定為一個能量色散的新分支。
  • 闡述X螢光光譜儀的工作原理及它所具有的優點
    鉑悅X螢光光譜儀技術已成功應用於環境、食物鏈、動植物、農產品、人體組織細胞及器官、生物醫學材料、組織細胞、醫學試劑、動植物器官、代謝產物中的無機元素測定。X螢光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析,元素範圍13Al-92U,含量範圍ppb至100%,檢出限到2pg。
  • 創想儀器(GLMY)光電直讀光譜儀和X螢光光譜儀的區別
    光電直讀光譜儀是樣品在激發臺被激發光源激發後,通過聚光鏡及直線電機產生各個元素的特徵光譜,各種元素的光譜譜線通過光柵分光自動排列出各元素譜線,各種元素譜線通過出射狹縫照射在光電倍增管上,通過光電倍增管轉換成光電流,元素光譜強度與光電流強度成正比例關係,即光譜越強光電流越大,所測元素的光譜譜線強度與所測元素的含量有一定的函數關係。
  • 原子螢光光譜儀的應用
    原子螢光光譜儀的應用廣泛,很多行業檢測都需要用到它,可謂實驗儀器中不可或缺的一類儀器。在食品衛生檢測,環境樣品檢測,環境給排水檢測,農業產品檢測,漁業及海水樣品檢測,地質冶金檢測,化妝品檢測,藥品檢測,土壤飼料肥料檢測,臨床醫學檢測等領域都會用到原子螢光光譜儀。
  • 什麼是全反射X射線螢光光譜儀技術?
    ,再入射到塗有樣品的第三級反射體上激發出樣品的特徵X射線,最後被探測器接收並由檢測系統進行記錄處理。創想X射線螢光光譜儀忽略在吸收限處的共振和量子效應,由經典色散理論可推出臨界角公式1/2中: = (5.4 x 10"Zp\3/A)(2)式中:Z為原子序數;p為密度,g/cm2 ;λ為人射X射線的波長,cm;λ反射體的原子量,g/mol。
  • X原子螢光和原子吸收光譜儀的區別
    光譜儀都是依據光譜線的原理而發明的,有些人提到X原子螢光和原子吸收光譜儀,從名字上來說就是兩種儀器,光譜儀的原理雖然都有些相似,但是其中一些小小區別就造成不同的應用與精度。原子吸收光譜儀的光源是空心陰極燈,檢測的樣品是溶液。2.X射線螢光光譜儀X射線螢光光譜儀樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用於煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。
  • 螢光光譜儀在稀土上轉化發光材料測試方向的應用
    有機分子實現光子上轉換的機理是能夠通過三重態-三重態湮滅(Triplet-triplet annihilation,TTA),典型的有機分子是多環芳烴(PAHs)。  無機材料中,上轉換發光主要發生在鑭系摻雜稀土離子的化合物中,主要有NaYF4、NaGdF4、LiYF4、YF3、CaF2等氟化物或Gd2O3等氧化物的納米晶體。
  • 一種新方式推動了X射線螢光光譜儀的發展
    這些發現都為人們後期根據原子序數而不是根據原子量大小提煉元素周期表奠定了基礎,同樣也為人們建立起第一個X射線螢光光譜儀(XRF)打下了堅實的理論基礎。然而,直到1948年,Herbert Friedman 和Laverne Stanfield Birks才建立起世界上第一臺X射線螢光光譜儀,這為後續光譜儀的商業化使用開闢了道路。
  • X螢光光譜儀的定量分析和定性分析
    X螢光光譜儀進行定量分析的依據是元素的螢光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比:Ii=IsWi 式中,Is為Wi=100%時,該元素的螢光X射線的強度。根據上式,可以採用標準曲線法,增量法,內標法等進行定量分析。
  • 玉環測試X螢光光譜儀檢測_寧波恆屹計量
    玉環測試X螢光光譜儀檢測,寧波恆屹計量,寧波恆屹計量檢測科技有限公司(簡稱恆屹計量)專業從事儀器設備計量校準檢測、專業恆溫恆溼箱、高低溫試驗箱、老化試驗箱、鹽霧實驗箱,萬能試驗機、硬度計、影像測量儀、生產銷售、儀器設備諮詢管理、儀器設備量具生產、研發、銷售、批發、及實驗非標設備定製為一體的綜合型技術服務公司。
  • 能量色散X射線螢光光譜儀之水泥行業應用專題
    而能量色散X射線螢光光譜法(EDX)獨具快速、無損、且能給出整體元素成分結果的特點,是快速獲知固廢中重金屬(Cr、Mn、Zn、As、Pb)和各種其它無機元素(Na、Mg、Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、Fe等)含量的最佳手段。因此,我們使用能量色散型X射線螢光光譜儀(5E-XRF2500)建立了汙泥、汙染土壤中重金屬、主量無機元素的分析方法。
  • 我國自主研發波譜-能譜複合型X射線螢光光譜儀
    波譜-能譜複合型X射線螢光光譜儀集波譜、能譜、微X射線分析於一身,集成了波譜和能譜的優點,擴展了X射線螢光光譜儀的分析領域,搭建了從釐米級總體分析到毫米級分布分析的橋梁。2017年3月5-9日,第68屆匹茲堡國際實驗室儀器展覽會在美國芝加哥展覽中心舉行。
  • SK-880火焰原子螢光光譜儀
    SK-880火焰原子螢光光譜儀,是由北京金索坤技術開發有限公司獨立自主研發的全新產品,具有自主智慧財產權。2.     已申請5項發明專利:《一種標準曲線的校正方法和系統》,申請號201610378210.3;   《一種原子螢光光譜儀背景扣除方法和原子螢光光譜儀》,申請號201610377937.X;   《一種用於火焰原子螢光光譜儀的原子化系統》,申請號2017104201925;           《一種用於火焰原子螢光光譜儀的陣列火焰匯聚式原子化器
  • 高螢光樣品的拉曼光譜測試方法
    由於螢光信號遠強於拉曼信號,而且螢光信號與拉曼信號在相同譜段,在拉曼光譜測試的過程中,我們經常會遇到樣品螢光信號很強,把拉曼信號湮滅,以至於無法測出樣品拉曼光譜的情況。