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透射電鏡原理
1.透射電鏡原理--簡介 透射電鏡，即透射電子顯微鏡，通常稱作電子顯微鏡或電鏡，是使用最為廣泛的一類電鏡。透射電鏡是一種高解析度、高放大倍數的顯微鏡，是材料科學研究的重要手段，能提供極微細材料的組織結構、晶體結構和化學成分等方面的信息，它具有較高分辨本領和放大倍數，是觀察和研究物質微觀結構的重要工具。
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從原理、功能到結構，細數掃描電鏡和透射電鏡的區別
現如今，具有高解析度的透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電鏡(SEM)在材料分析研究中的應用日趨廣泛，已經成為現代實驗室中一種不可或缺的研究晶體結構和化學成分的綜合儀器。透射電子顯微鏡常用於觀察普通顯微鏡不能分辨的細微物質結構，掃描電子顯微鏡主要用於觀察固體表面的形貌。有時，將兩者有機結合可以得到比較全面的材料分析結果。下面將從多方面比較，細數掃描電鏡和透射電鏡的區別。
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透射電鏡的主要性能參數及測定
透射電鏡的主要性能參數及測定2.3.1 晶格解析度當電子束射入樣品後，通過樣品的透射束和衍射束間存在位相差。由於透射和衍射束間的位相不同，它們間通過動力學幹涉在相平面上形成能反映晶面間距大小和晶面方向的條紋像，即晶格條紋像，如下圖2-9所示。晶格解析度與點解析度是不同的，點解析度就是實際解析度，晶格解析度的晶格條紋像是因位相差引起的幹涉條紋，實際是晶面間距的比例圖像。
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一文看懂透射電子顯微鏡TEM
1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長比可見光和紫外光短得多，並且電子束的波長與發射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。目前TEM分辨力可達0.2納米。 2 TEM系統組件 TEM系統由以下幾部分組成： 電子槍：發射電子。由陰極，柵極和陽極組成。陰極管發射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經陽極電壓加速後射向聚光鏡，起到對電子束加速和加壓的作用。 聚光鏡：將電子束聚集得到平行光源。 樣品杆：裝載需觀察的樣品。
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掃面電鏡(SEM)和透射電鏡(TEM)測試20問
透射電鏡樣品必須在高真空中下檢測，水溶液中的納米粒子不能直接測。一般用一個微柵或銅網，把樣品撈起來，然後放在樣品預抽器中，烘乾即可放入電鏡裡面測試。 如果樣品的尺寸很小，只有幾個納米，選用無孔的碳膜來撈樣品即可。
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透射電鏡主流廠商大揭秘
該儀器展示了JEOL實打實的超級穩定性和超高解析度。2010年，西安交通大學也購入了中國首臺該型號的電鏡，也是中國大陸第一臺STEM球差校正透射電鏡。之後，上海交通大學，武漢大學，東北大學，中國科技大學，中科院大連化物所，中科院物理所，神華集團低碳清潔能源研究所等也陸續上馬。
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OPTON微觀世界|第33期 掃描電鏡新技術——同軸透射菊池衍射(TKD...
掃描電鏡中的被散射電子衍射技術(EBSD)在確定材料結構、晶粒尺寸、物相組成以及晶體取向甚至是應力狀態標定都有一定的涉及。通過電子衍射技術的進一步發展，Keller與Geiss基於EBSD技術相同的硬體與軟體，通過改變樣品臺的傾角，使得螢光閃爍體信號接收器在樣品下方接收透射電子衍射信號，從而代替原先的背散射信號。這種新技術稱為Transmission Kikuchi diffraction（TKD），由於它的信號接收方式特點也被稱為t-EBSD。
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乾貨|如何利用透射電鏡測量石墨烯樣品層數和厚度?
因此，對於石墨烯結構和層數的表徵是獲得高質量石墨烯關鍵表徵手段。目前針對石墨烯的表徵技術主要有：掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）、原子力顯微鏡（AFM）、 X-射線衍射（XRD）、拉曼光譜（RAMAN）、紫外光譜（UV）、 X 射線光電子能譜（XPS）等。這些表徵手段能夠對石墨烯的形貌、片層數量、缺陷等進行表徵，從而對石墨烯的實驗製備提供一定的理論依據。
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【視頻分享】聽專家們講透射電鏡技術與應用
（報告視頻連結）天津大學材料學院測試中心副主任毛晶報告題目《透射電子顯微鏡技術在納米材料表徵中的典型應用》透射電子顯微鏡的成像及電子衍射功能可以把納米材料的微觀形貌與結構信息聯繫起來；增加附件後還可以進行微區成分
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日本電子推出透射電鏡用制樣設備
日本電子推出透射電鏡用最簡單的制樣設備 透射電鏡的樣品製備非常關鍵，但卻非常麻煩，且需要很好的經驗，對於一些例如含有軟硬兼有成分的樣品，幾乎無法製備。針對這種情況，日本電子株式會社開發出了一步到位式離子制樣儀EM-09010IS，它使用氬離子切割樣品，實際上就是一臺超小型的FIB。
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天津理工大學2000萬元採購1撞球差校正透射電鏡
，系統由電子光學系統、物鏡球差校正系統、高壓系統、真空系統、能譜系統、透射電子顯微（TEM）成像系統、掃描透射電子顯微（STEM）成像和信號探測系統、數位化成像記錄系統、樣品杆系統、主機工作站、LCD顯示器（2x）、遠程操控系統、高底座（high base）、監控螢光屏的相機
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復旦大學透射電鏡環境保障系統採購中標公告
上海國際招標有限公司受復旦大學的委託，就「復旦大學透射電鏡環境保障系統採購」項目(項目編號：182008KG)組織採購，評標工作已經結束，中標結果如下： 一、項目信息 項目編號：182008KG 項目名稱：復旦大學透射電鏡環境保障系統採購 項目聯繫人：許老師 聯繫方式
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透射電鏡揭開有機無機雜化鈣鈦礦分解的神秘面紗
近日，北京大學、哈爾濱工業大學、石家莊鐵道大學、中科院深圳先進技術研究院等單位合作，利用透射電子顯微鏡，系統研究了有機無機雜化鈣鈦礦在電子輻照下的結構不穩定性，揭示了有機無機雜化鈣鈦礦普適性的分解路徑，探究了影響其分解的主要因素，提出了抑制分解的有效策略，並且根據它們對電子束敏感的特徵，提出了在電鏡表徵過程中如何正確判斷是否有分解以及緩解分解過程等。
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PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統
安徽澤攸科技-透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品杆內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，並可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表徵，極大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
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透射電鏡下看到的原子像的物理意義是什麼?
透射電鏡得到的圖像應該是厚度襯度和衍射襯度的疊加。就衍射襯度來講是不是晶格對電子散射之後電子的在平面上的分布密度。為什麼能夠稱為原子像呢？
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PicoFemto透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統
安徽澤攸-PicoFemto透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統 透射電子顯微鏡可以在較高時間解析度下得到原子級空間解析度透射電子顯微鏡原位加熱/電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品杆內安裝MEMS工藝製成的微加熱晶片和電學測量晶片。微加熱晶片可對樣品進行可控溫度的加熱，電學測量晶片可對樣品進行電性質測量。
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了解球差校正透射電鏡,從這裡開始
最後我們會介紹一下透射電鏡的最前沿，球差色差校正透射電鏡。 什麼是球差： 100 kV的電子束的波長為0.037埃，而普通TEM的點解析度僅為0.8納米。這主要是由TEM中磁透鏡的像差造成的。球差即為球面像差，是透鏡像差中的一種。其他的三種主要像差為：像散、彗形像差和色差。透鏡系統，無論是光學透鏡還是電磁透鏡，都無法做到絕對完美。
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JEOL為中科院物理所訂製洛倫茲透射電鏡
利用電子經過磁場後受洛倫茲力影響路徑偏轉原理，可以在透射電鏡上進行磁疇研究。 常規的透射電鏡勵磁為了實現高分辨，物鏡的勵磁電流很強，即使關閉物鏡，也會有殘餘磁場，影響到磁疇的觀察結果。
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金鑑材料分析 透射電鏡(TEM)CMA CNAS資質 LED檢測
設備型號 TF20 場發射透射電鏡，配備能譜儀 2.原理透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。
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金鑑材料分析 透射電鏡(TEM) CMA CNAS資質 LED檢測
設備型號 TF20 場發射透射電鏡，配備能譜儀 2.原理透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。