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第六屆中國二次離子質譜會議第三輪通知
第六屆中國二次離子質譜會議將於2016年10月8-11日在中國科學院大連化學物理研究所會議將為我國二次離子質譜界的學術研討、技術交流與合作提供平臺，推動二次離子質譜的發展，促進二次離子質譜技術在各領域的應用。會議熱誠邀請中國大陸、港澳臺地區以及海外從事二次離子質譜相關工作的同仁相聚美麗海濱城市大連，展示最新的研究成果，共同推動我國二次離子質譜的發展。會議熱誠歡迎國內外相關廠商參展。
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TOF-SIMS 電鏡質譜聯用技術助力Li離子電池新型陽極材料研究 !丨...
+ 和Li元素之間的轉變活性表徵，則採用了TESCAN FIB-SEM與飛行時間二次離子質譜聯用分析技術聯用分析技術。>，在國際上，已經有多個課題組採用該項分析技術進行了相關研究，並在多種期刊發表了高水平文章。
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飛行時間二次離子質譜將在材料表面分析領域大有所為
TOF-SIMS(飛行時間二次離子質譜)採用一次離子轟擊固體材料表面，產生二次離子，並根據二次離子的質荷比探測材料的成分和結構。TOF-SIMS是一種非常靈敏的表面分析技術，可以精確確定樣品表面元素的構成：通過對分子離子峰和官能團碎片的分析可以方便的確定表面化合物和有機樣品的結構，配合樣品表面的掃描和剝離，可以得到樣品表面甚至三維的成分圖。相對於XPS、AES等表面分析方法，TOF-SIMS可以分析包括氫在內的所有元素，可以分析包括有機大分子在內的化合物，具有更高的解析度。
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中科院發明使用二次離子質譜儀同時分析非金屬元素和金屬元素
二次離子質譜（sims）和濺射中性粒子質譜（snms）是表面分析科學和材料科學中廣泛應用的分析技術。使用離子濺射固體表面能夠引起光子、電子、中性粒子和二次離子的發射。sims技術探測濺射產生二次離子，snms技術探測濺射產生中性粒子。由於二次離子的產率和基體相關，sims技術具有顯著的基體效應，需要標準樣品進行分析校正。
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國內首套雙束聚焦離子束與飛行時間二次離子質譜聯用系統即將投入...
核工業北京地質研究院分析測試研究中心採購了兩臺特殊的質譜儀，今年兩臺設備同時到貨、安裝。一臺是法國CAMACA公司的IMS 1280-hr高分辨二次離子質譜儀，另一臺是TESCAN公司的雙束聚焦離子束與飛行時間二次離子質譜聯用系統。
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二次離子質譜2012年市場總需求不到1億美元(圖表)
儘管質譜儀更多的應用於生命科學相關領域，但是還是有一些質譜（MS）技術是專門用於表面科學研究。其中最突出的是二次離子質譜（SIMS）。像大多數涉及電子或離子光學的表面科學技術一樣，二次離子質譜是在真空條件下進行。
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第八屆中國二次離子質譜會第一輪會議通知
1993年以來，至今已經成功舉辦了七屆，已經成為全國二次離子質譜領域的盛會。中國二次離子質譜會議旨在促進二次離子研究領域的學術交流，帶動學科研究，為領域內專家學者搭建一個交流和展示的平臺。 2018年二次離子質譜會議上,委員會通過第八屆會議由中山大學和香港科技大學聯合承辦,會議時間2020年12月，會議地點珠海,會議規模為約100名正式代表。 中國二次離子質譜會議上級發起單位是中國真空學會。
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吉林大學飛行時間二次離子質譜聯用系統中標公告
一、項目編號：GXTC-A1-2068140;JLU-WT20179(招標文件編號：GXTC-A1-2068140、[JLU-WT20179]) 二、項目名稱：飛行時間二次離子質譜聯用系統 三、中標(成交)信息 供應商名稱：瀋陽元傑光學技術有限公司 供應商地址：瀋陽市和平區五裡河街51
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飛行時間質譜儀 Clin-ToF-I
成果簡介：飛行時間質譜技術是檢驗科學的新技術，此前，毅新博創自主研發的Clin-ToF飛行時間質譜儀的問世不但填補了國產空白，更在該領域躍居世界先進水平。Clin-ToF飛行時間質譜儀2012年通過了歐盟CEIVD認證和美國FDA認證，2014年通過中國CFDA（中國食藥監局）認證，是適用於疾病蛋白質組、基因組及微生物組全方位研究的先進技術平臺。
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盤點:部分主流飛行時間、離子阱質譜產品及其技術特點
2017年10月，第十七屆北京分析測試學術報告會暨展覽會(BCEIA 2017)召開期間，儀器信息網邀約飛行時間、離子阱質譜市場的部分主流廠商，匯總了各品牌質譜儀主流產品的技術特點和應用案例，並請各廠商預測了未來一段時間內此類儀器的市場熱點及潛力。
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再發2篇 Science,TESCAN TOF-SIMS 電鏡質譜聯用系統助力上交大
該結構主要包含一層表面富鉛鈣鈦礦半導體薄膜，並在薄膜表面沉積氯化氧化石墨烯薄膜，通過形成氯-鉛鍵、氧-鉛鍵將兩層薄膜結合在一起。光學、電學等表徵實驗結果表明，該異質結結構穩定，可以有效減少鈣鈦礦半導體薄膜的分解和缺陷的產生，同時也減少了逃逸離子對電荷傳輸層功能性的破壞。
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iCMS2017第八屆質譜網絡會議開幕 質譜新技術專場強勢首發
儀器信息網訊 為促進國內外質譜工作者的學術及技術交流，儀器信息網網絡講堂與中國化學會質譜分析專業委員會合作舉辦的"第八屆質譜網絡會議(iConference on Mass Spectrometry，iCMS2017) 於2017年11月21日正式開幕。
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第六屆中國二次離子質譜會議在大連化物所舉辦
「第六屆中國二次離子質譜會議」（The 6th Chinese National Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMS）在中科院大連化學物理研究所舉辦，研究員李海洋擔任大會主席。
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如何拓展二次離子質譜在生命科學研究中的應用——訪中科院化學所...
一次與生物學家偶然的討論給汪福意帶來了啟發，他萌生了使用高空間解析度的二次離子質譜成像進行化學生物學和分子生物學研究的念頭。中科院化學所領導對於他的想法非常贊成，在中國科學院和國家自然科學基金委的大力支持下，該團隊在2012年購置了一臺飛行時間二次離子質譜(ToF-SIMS)儀，從此汪福意研究員和他的團隊開始了生命科學領域SIMS成像新技術和新方法的研究工作。
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iCMS2016第七屆質譜網絡會議-質譜新技術與生命科學
儀器信息網訊 儀器信息網網絡講堂與中國化學會質譜分析專業委員會合作舉辦的"第七屆質譜網絡會議(iConference on Mass Spectrometry，iCMS2016)於2016年11月22日正式開幕。
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Bionumerics軟體的飛行時間質譜(MALDI-TOF)用於細菌鑑定
飛行時間質譜（MALDI-TOF）用於細菌鑑定飛行時間質譜儀器主要由兩部分組成：基質輔助雷射解吸電離離子源（MALDI）和飛行時間質量分析器（TOF）。因此它是一種軟電離技術，適用於混合物及生物大分子的測定。TOF的原理是離子在電場作用下加速飛過飛行管道，根據到達檢測器的飛行時間不同而被檢測即測定離子的質荷比（M/Z）與離子的飛行時間成正比，檢測離子。
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地質地球所發明使用二次離子質譜儀同時分析非金屬元素和金屬元素...
二次離子質譜(SIMS)和濺射中性粒子質譜(SNMS)是表面分析科學和材料科學中廣泛應用的分析技術。使用離子濺射固體表面能夠引起光子、電子、中性粒子和二次離子的發射。SIMS技術探測濺射產生二次離子，SNMS技術探測濺射產生中性粒子。
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【精彩視頻回放】聚焦新材料研究 多種表面分析技術各顯其能——第...
當前，全球已經開發了數十種常用的表面分析技術，如X射線光電子能譜(XPS)、二次離子質譜(SIMS)、掃描探針顯微鏡(SPM)、輝光放電光譜(GDS)、俄歇電子能譜(AES)等。 為了積極推動表面分析科學與應用技術的快速發展，加強同行之間交流合作，展示表面分析技術在新材料研究中的進展，5月20日，儀器信息網聯手國家大型科學儀器中心-北京電子能譜中心、中國分析測試協會高校分析測試分會舉辦「第三屆表面分析技術應用論壇——表面分析技術在新材料研究中的應用」網絡主題研討會，七位專家就相關的研究領域分享了高質量的報告。
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Y2T72 材料分析之-質譜儀、二次離子質譜儀
得到質荷比，就等於找到材料的類別（不是一般人可以看懂質譜圖滴）近看，材料也是各種分子原子了呀，給他用刀砍不了，用離子來砸，這是採用二次電離，來分析材料這種質譜儀，就叫二次質譜儀，咱們行業使用很多的一類儀表。挺貴。分析化合物很方便。
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昆明理工「飛行時間二次離子質譜儀」將正式投用
作為目前前沿的用於表面成分分析的科學裝置之一，飛行時間二次離子質譜儀因具有解析度高、靈敏度高、分析速度快、測量範圍寬、樣品消耗少等特點，無論在分析化學、環境科學，還是在生物醫學領域，都得到了越來越廣泛的應用。3月15日，昆明理工大學資產管理處組織專家組，對飛行時間二次離子質譜儀（TOF.SIMS-5）進行驗收。