前面已經向大家介紹DRY ETCH的宏觀原理,這一節通過介紹兩個電壓參數(Vdc&Vpp),從微觀角度分析DRY ETCH的基本原理。
Vdc是一種直流偏壓(DC),也稱為自我偏壓(self bias voltage),是DRY ETCH原理上非常重要的一個參數,下面通過平行板反應離子蝕刻機臺進行說明。
前面介紹過,平行板反應離子蝕刻(RIE)機臺,上部電極接地,下部電極接交流電壓,RF電源的頻率為13.56 MHz。大家回憶一下高中物理知識,13.56 MHz意味著電場每秒變化13.56 x 10^6次,電子的質量為9.109×10^-31kg,離子的質量約為電子質量的100000倍。當電場變化時,電子容易跟隨電場的變化而變化,離子由於質量重,不隨電場的變化而變化。
當RF交流電位於正半周期時,等離子體中帶負電的電子被吸引至下部極板,當RF交流電位於負半周期時,等離子中帶正電的離子被吸引,但由於離子質量較大,無法跟隨電場變化,其位置變化不大。經過幾個周期變化後,下極板就積累相當多的電子,於是就產生了直流負電位Vdc。由於下電極為負偏壓,電子被排斥,下極板附近幾乎不存在電子,此區域被成為離子鞘(Ion Sheath),此區域幾乎看不見發光,因此也被成為暗區(Dark Space)。
關於蝕刻機臺chamber中電位分布見圖1,等離子體從宏觀上分析不帶電,電子、離子隨機分布,但從微觀角度分析,等離子體也具有一定電壓,稱為Vp(Plasma Potential)。當正離子進入Plasma與Ion sheath邊界時,離子被Vdc吸引加速轟擊wafer表面,此時離子的能量為Vp+Vdc,這就是DRY ETCH的微觀原理。
圖1 電位分布圖
Vpp 指的是RF 正弦波的 Peak to Peak,波峰到波谷之間電壓絕對值之和 。當 RF 在正半周期時, Vn 電位在等離子體中形成, 吸引負電荷往 Cathode 上的Wafer 移動。此時電荷能量為-q×Vn, 當 RF 在負半周期時, 將提供正離子電荷+q×(Vp+Vdc)的能量, 使正離子電荷往 Cathode上的 Wafer加速移動,轟擊wafer表面,負電荷與正電荷的移動數量是相同的,這就是DRY ETCH 微觀原理,。
圖2 Vpp示意圖
圖3 Vpp計算值
在實際應用中,當Vdc或Vpp參數發生突變時,超出範圍,一般說明ETCH製程有異常,需要EE check tool和PE trace wafe。
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