透射電鏡能譜系統的革新:AZtecTEM

2020-11-23 OFweek

　　最近，具有世界領先的顯微分析技術和產品的牛津儀器納米分析部宣布AZtecTEM——專配透射電子顯微鏡的能譜軟體正式發行。自從2011年掃描電子顯微鏡的Aztec分析系統公布後，AZtecTEM早已蓄勢待發，意欲在透射電鏡領域大展拳腳了。

　　AZtecTEM專門為TEM工作者提供了最新的顯微分析技術平臺。該系統可以最大限度的發揮新一代大面積能譜儀X-Max的優勢，即使計數率比較低，也可以採集到足夠多的計數，保證能譜分析的準確性。獨一無二的Tru -Q引擎將材料的全面及細節分析提高到新的高度。TEM工作者首次可以利用AZtec『s疊加校正得到的TruMap和TruLine，真正準確並實時地觀察材料的化學成分變化。同時，Aztec TEM使用自動預估漂移校正，保證納米尺度樣品檢測的準確性。

　　納米分析部的執行董事Ian Barkshire博士談到，「牛津儀器一直居於納米技術的領先地位，我們已開發出多種高精尖分析設備，AztecTEM的推出是三十多年來解決並處理全世界眾多TEM問題過程中不斷總結髮展的經驗結晶，是全世界TEM工作者努力的結果。」

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