SuperView W1光學3D表面輪廓儀可廣泛應用於半導體製造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及製造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、國防軍工、科研院所等領域中。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據ISO/ASME/EUR/GBT四大國內外標準共計300餘種2D、3D參數作為評價標準。
SuperView W1光學3D表面輪廓儀輪廓分析步驟介紹：
1.將樣品放置在載物臺鏡頭下方；
2.檢查電機連接和環境噪聲，確認儀器狀態；
3.使用操縱杆調節Z軸，找到樣品表面幹涉條紋；
4.微調XY軸，找到待測區域，並重新找到幹涉條紋；
5.完成掃描設置和命名等操作；
6.點擊開始測量（進入3D視圖窗口旋轉調整觀察一會）；
7.臺階樣品分析第一步：校平；
8.進入數據處理界面，點擊「校平」圖標，和平面樣品不同，臺階樣品需手動選取基準區域，選好基準區域後，先「全部排除」再「包括」；
9.若樣品表面有好幾處區域均為平面且高度一致，可多選擇幾個區域作為基準面進行校平；
10.臺階高度測量：線臺階高度測量
11.進入分析工具界面，點擊「臺階高度」圖標，即可直接獲取自動檢測狀態下的面臺階高度相關數據；
12.在右側點擊「手動檢測」，根據需求選擇合適的形狀作為平面1和平面2的測量區域，數據欄可直接讀取兩個區域的面臺階高度數值；
13.臺階高度測量：線臺階高度測量
14.進入數據處理界面，點擊「提取剖面」圖標，使用合適方向的剖面線，提取目標位置的剖面輪廓曲線；
15.進入分析工具界面，點擊「臺階高度」圖標，由於所測為中間凹槽到兩側平面高度，因此點擊右側工具欄，測量條對數選擇「2」，將紅色基準線對放置到凹槽平面中間，兩對測量線對分別放置在兩側平面，即可在數據纜讀取臺階高度數據。