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帕納科推出最新Zetium光譜儀——X射線分析技術的新裡程碑!
在剛剛結束的Pittcon2015 國際分析儀器展覽會上,帕納科隆重發布一款全新的X射線螢光光譜儀——Zetium。隨著四種不同的X射線技術整合在一個多功能XRF平臺上,最新的Zetium多功能X射線螢光光譜儀將改變科學家對XRF分析的看法。
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布魯克公司最新發布S2 PUMA能量色散型X射線螢光光譜儀
S2 PUMA ——新一代適應性強大的光譜儀 布魯克公司於2015年3月9日,發布了一款可分析多元素的能量色散型X射線螢光光譜儀S2 PUMA。 特點: l 高靈敏度TM技術使EDXRF具備無以倫比的檢出限、精度及速度 l 直接激發,緊湊的耦合光路 l 配備最大功率50W、最大激發電壓50kV的X射線管 l XFlash®SDD探測器,典型的能量解析度達135eV l 4K多道分析器(MCA)可進行高清模式光譜記錄 l 最優化的輕元素
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能量色散X射線螢光光譜儀之水泥行業應用專題
而能量色散X射線螢光光譜法(EDX)獨具快速、無損、且能給出整體元素成分結果的特點,是快速獲知固廢中重金屬(Cr、Mn、Zn、As、Pb)和各種其它無機元素(Na、Mg、Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、Fe等)含量的最佳手段。因此,我們使用能量色散型X射線螢光光譜儀(5E-XRF2500)建立了汙泥、汙染土壤中重金屬、主量無機元素的分析方法。
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帕納科能量色散X射線螢光
能量色散X射線螢光 (EDXRF) 譜儀利用了探測器信號的脈衝高度正比於X射線光子的能量,而能量與波長相關的原理。因此光路比WDXRF 譜儀簡單,因為沒有晶體或測角儀,來自樣品的螢光光子直接到達探測器。 X光管的功率比WDXRF的功率低。
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帕納科舉辦X射線儀器用戶會 強調以客戶為中心
儀器信息網訊 2016年9月19-23日,帕納科第14屆中國用戶X射線分析儀器技術交流會在北京雁棲湖畔舉辦,近150位來自全國各地的專家、同行共聚一堂,探討X射線分析儀器最新技術及應用進展。
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淺談三項能量色散X螢光光譜儀行標的制定
9、本系列標準的試驗方法在撰寫過程中參考了四川材料與工藝研究所楊明太老師與江蘇天瑞儀器姚棟樑博士當時正在撰寫的國家方法標準《能量色散X射線螢光光譜儀主要性能測試方法》,現此標準也已公布。二、能量色散X射線螢光光譜儀行標制定的意義標準的執行能很好的幫助行業內部解決以下問題:1)可規範本行業對於產品的技術要求及其測試方法,促進產業的進步和發展;2)為產品的合同訂立和產品交易提供技術支持,確保供貨方和使用方的權利和利益;3)在相關學術交流中,其實驗數據和測量結果的表述更加準確、
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「十年磨一劍」 帕納科新品「大」發布——訪荷蘭帕納科公司亞太區...
荷蘭帕納科公司是世界上最大的X-射線螢光光譜儀、X-射線衍射儀和相關軟體及服務的供應商之一。帕納科於Pittcon 2010上重磅推出一系列新產品,包括最新、頂級的X射線衍射儀平臺——Empyrean、一套完整系列的波長色散X射線螢光系統等。
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《中國能量色散X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)市場調研報告(2019...
能量色散X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)以其快速、對試樣無損、多種元素同時分析、分析成本低等優點,在許多領域中發揮著巨大的作用為了更系統地了解近年來我國ED-XRF的技術與應用進展、未來發展趨勢及市場情況等,儀器信息網特組織了「能量色散X
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基於S3C2440的能量色散X射線螢光光譜儀
X射線螢光分析是一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法[1]。目前,X射線螢光分析技術已被廣泛應用於地質、冶金、化工、材料、石油、醫療等領域,尤其是能量色散X射線螢光EDXRF(Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)光譜儀,由於具有體積小、價格低廉、自動化程度高等優點,已成為普遍多元素同時分析的有力手段。
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中國能量色散X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)市場調研報告(2019)》正式發布
儀器信息網撰寫完成了《中國能量色散X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)市場調研報告(2019)》。文|吳優能量色散X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)以其快速、對試樣無損、多種元素同時分析、分析成本低等優點,在許多領域中發揮著巨大的作用。
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...地震儀(OBS)、能量色散偏振X射線螢光光譜儀採購項目評標結果公示
、海底地震儀(OBS) 、能量色散偏振X射線螢光光譜儀採購項目 採購人聯繫方式:0532-82898629 採購代理機構全稱:東方國際招標有限責任公司> 4 能量色散偏振
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順序式波長色散X射線螢光光譜儀的運動系統控制
摘要:本文介紹了一種利用LPC1766微控制器實現順序式波長色散X射線螢光光譜儀的電機系統控制方案。系統分析了順序式波長色散X射線螢光光譜儀的電機系統控制需求,充分利用LPC1766豐富的PWM和GPIO中斷功能,配合光電開關的邏輯順序,控制直流電機運動,最終實現了光譜儀中晶體、準直器和濾光片的準確定位。測試結果符合《JJG 810-1993波長色散X射線螢光光譜儀檢定規程》的要求。
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《能量色散X光射線螢光光譜儀計量校準規範》通過審定
當前位置:首頁 > 行業資訊 > 《能量色散X光射線螢光光譜儀計量校準規範》通過審定 2014-11-12 14:17:25 來源: 閱讀: 次 《能量色散X光射線螢光光譜儀計量校準規範》通過審定9月27日,福建省計量院《能量色散X射線螢光光譜儀校準規範》通過審定。
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X射線螢光光譜儀分類
60年代末70年代初以來,X射線螢光光譜儀大致分為使用晶體分光的色散型和不使用晶體分光的非色散型兩類。使用半導體探測器的X射線螢光光譜儀當初被劃為非色散型光譜儀的一種,但由於近年來半導體探測器性能(特別是能量解析度)提高,使用技術發展,現已被確定為一個能量色散的新分支。
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《能量色散X螢光光譜儀》標準制定工作會議召開
5月18日,全國分析儀器標準化委員會秘書長馬雅娟、主任委員鄭增德來到天瑞儀器,就《能量色散X螢光光譜儀》行業標準的編制實施進行深入研討。 《能量色散X螢光光譜儀》行業標準是由全國分析儀器標準化技術委員會推動,共分為「通用技術」、「元素分析儀」、「鍍層厚度分析儀」三章。
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X螢光光譜儀的分析原理及構造
X射線螢光(XRF)能用於測定周期表中多達83個元素所組成的各種形式和性質的導體或非導體固體材料,其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質物料等。 X-螢光光譜儀工作原理 X-螢光光譜儀有兩種類型:一種是波長色散型(WDX),一種是能量色散型(EDX),我公司(INNOV-X中國服務中心)使用的是波長色散型(XRF分析儀),在WDX中,螢光光譜通過色散元件(如晶體)被分離成不連續的波段,然後用氣體正比計數器或閃爍計數器檢測,其主要組成是X光管、初級準直器、晶體、次級準直器和探測器
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《能量色散X射線螢光光譜儀》行業標準起草工作會議在昆召開
9月17-19日,《能量色散X射線螢光光譜儀》系列行業標準起草工作會議在崑山嘉樂國際酒店召開。天瑞儀器作為標準起草單位組織了本次會議。 根據工信廳科[2010]74號文下達的2010年第一批行業標準制修訂項目計劃,其中項目代號2010-1130T-JB的《能量色散X射線螢光光譜儀 第1部分:通用技術》、2010-1131T-JB的《能量色散X射線螢光光譜儀 第2部分:元素分析儀》和2010-1132T-JB的《能量色散X射線螢光光譜儀 第3部分:鍍層厚度分析儀》等三項為行業標準制定項目。
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能量色散型 X 射線螢光光譜儀(EDX)分析化工廢棄物成分
島津 EDX 系列能量色散型 X 射線螢光光譜儀,可以快速無損分析出樣品的組成成分,為化工廢棄物的篩選分類和規範處理提供科學的依據。關鍵詞: 化工廢棄物,成分分析,能量色散型 X 射線螢光分析儀化工行業生產過程產生了大量的化工廢棄物,按物理形態化工廢棄物分為廢液、廢氣、廢渣等種類,多屬於固體廢棄物。
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X螢光光譜儀的應用發展
X螢光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射,通常是指能t範圍在0.1^-100keV的光子。X射線光譜儀與物質的相互作用主要有螢光、吸收和散射三種。X射線螢光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特徵輻射,通過側裡和分析樣品產生的x射線螢光,即可獲知樣品中的元家組成,得到物質成分的定性和定量信息。
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X螢光光譜儀改進方向
X射線螢光光譜儀根據有手持和臺式兩種,所採用的都是X螢光光譜儀的原理。XRF螢光光譜儀由激發源和探測系統構成。X射線管產生入射X射線,激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然後,儀器軟體將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。