您的紫外分光光度計進行樣品分析時是否限制您選擇理想的檢測器和波長?您花費在儀器設置上的時間是否比分析樣品還要多?
從光學器件、薄膜到太陽能面板和建築玻璃都需要一種能夠靈活、準確地為您解決問題的紫外分光光度計。珀金埃爾默日前宣布推出全新的LAMBDA™1050+紫外/可見/近紅外和850+紫外/可見分光光度計,配備雙樣品倉和各種可選的通用和專用附件。不管樣品如何複雜,該儀器均能憑藉其突出的靈敏度、解析度和掃描速度助您從容應對。
新型的高性能LAMBDA™1050+ UV/Vis/NIR和850+ UV/Vis系統能最大程度地提高生產率,靈活性和便利性,廣泛應用於玻璃製造,塗層,光電,半導體,顯示屏,太陽能,軍事,先進材料,研究和學術等領域。
LAMBDA™1050+ UV/Vis/NIR是我們性能最高的UV/Vis/NIR系統,波長範圍在175 nm至3300 nm之間,用於分析研究和製造中的塗層,高性能玻璃,太陽能以及先進材料和組件。
更好的樣品控制
無與倫比的靈活性
更高的生產率
符合21 CFR Part 11軟體
掃描下方二維碼,即可獲取LAMBDA™1050+ 紫外/可見/近紅外分光光度計樣本。
《LAMBDA™1050+ 紫外/可見/近紅外分光光度計樣本》
LAMBDA 850+ UV/Vis是我們性能最高的UV/Vis系統,波長範圍在175 nm至900 nm之間,用於分析研究和製造中的塗層,高性能玻璃和組件。
無與倫比的靈活性
最多元化和最具價值
符合21 CFR Part 11軟體
掃描下方二維碼,即可獲取LAMBDA 850+ 紫外/可見分光光度計樣本。
《LAMBDA 850+ 紫外/可見分光光度計樣本》
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