X射線相位襯度成像是在世紀之交蓬勃發展起來新型成像技術,它彌補了傳統X射線成像技術對輕元素材料不敏感的不足,為生命科學、材料科學、信息科學以及醫療診斷、安全檢查和工業產品檢測等展現了美好的應用前景。然而,迄今為止發展的X射線相位襯度成像方法太繁瑣、曝光時間過長、輻射劑量過高,阻礙了這種新型成像技術的應用。
國家同步輻射實驗室吳自玉研究員領導的成像研究小組,經過幾年的努力,發現X射線正面入射和背面入射的兩張投影像中,吸收襯度具有對稱性,而折射襯度具有反對稱性。根據這一原理,提出了X射線相位CT新方法,實驗結果表明新方法克服了以往X射線相位襯度成像方法中的不足,具有簡便、快速和低輻射劑量的優點,可以和現有的醫學X射線CT技術相結合,形成操作簡便、輻射劑量低的X射線相位CT新技術。相關研究論文發表在最近一期的PNAS期刊上[PNAS 107, 13576 (2010)],被審稿人譽為「近二十年來X射線成像的重大突破」。這項研究成果受到國際同行的高度關注,被今年8月在美國芝加哥舉行的第十屆X射線顯微術國際會議(XRM 2010,Chicago)邀請做特邀報告,獲得國際多位著名X射線成像專家的高度評價,一致認為這項研究成果具有重大應用前景。
另外,在今年第十屆X射線顯微術國際會議上,我校國家同步輻射實驗室與上海光源聯手合作,高票贏得下一屆X射線顯微術國際會議的舉辦權(XRM 2012,上海-合肥)。
(國家同步輻射實驗室)