概述
在早期的年代人們曾經一度使用各種儀表以及由這些儀表測量得到的各種測量結果拼合的信息來設計線性元器件和線性系統。這種設計方法很快就被使用分布參數（S參數）的設計方法所取代。S 參數把使用多種儀表以及多種測量結果統一起來，使得人們能夠只用一種儀表（矢量網絡分析儀），就可以通過儀表與被測器件的一次連接測量出諸如增益、隔離度和匹配等參數的值。在過去的40多年裡，S參數一直佔據著微波理論和技術全部基礎中最重要的位置，它們涉及的是一些我們非常熟悉的測量的量，例如輸入匹配（S11），輸出匹配（S22），增益或損耗（S21），以及隔離度（S12），這些測量的量還可以很容易地植入設計電子產品所用的軟體仿真工具中。在今天，S 參數也還是對射頻和微波器件的線性特性進行分析和建模的常用參數。但是我們也看到，不斷提高能源的使用效率、加大器件的輸出功率、不斷延長靠電池供電的器件和設備在電池一次壽命內的使用時間等工業發展趨勢正推動著許多線性器件在非線性的工作狀態下的應用。當在這種情況和條件下再來測量器件的特性時，就需要一種能夠得到更加確定性結果的測量解決方案。
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雖然S 參數的功能極為強大和有用，但它的定義是基於對線性系統用小信號進行測量的情況。通信技術革命性的進步和發展正在把像功率放大器這類的有源器件推向其非線性工作區域，以期在這個區域內找到更加強大的應用空間；工程師們也因此被迫再次使用新一代的各種儀表的組合來測量器件的非線性特性。他們基本的做法是通過取得S參數再施加一些品質因數(例如鄰道功率抑制功能和增益壓縮特性等) 來對器件的總體特性做一些基於線性特性的推論。依賴這種不完善的信息集合意味著工程師們必須在他們的產品設計中大量進行特別依賴於個體經驗的高成本迭代試驗，整個設計流程在時間上和成本上都大為增加。今天，為了在高頻領域更加快速、精確和確定性地設計出非線性器件，工程師們的確需要有對器件的非線性特性恰當地進行測量，並獲得一個統一的器件模型，一個類似於S參數的適用於非線性器件和分量的模型的能力，從而能夠把這個模型所代表的完整的器件的信息應用到仿真和設計的過程中去。
解決方案
就像S 參數表徵器件的線性特徵那樣，X 參數是用來表徵器件和系統的非線性特性的參數，它為工程師們所遇到的麻煩找出了解決的辦法。X 參數所代表的是確定性地設計高頻器件所需要的新一類非線性網絡參數，用來表徵各種器件的非線性特性的幅度和相關的相位信息。與S參數所不同的是，它既適用於大信號的工作條件也適用於小信號的工作條件；既可以用於線性器件也可以用於非線性器件。它們正確地表徵出了器件的阻抗匹配狀態和在非線性條件下的混頻特性，可以讓技術人員在設計的過程中精確地仿真出幾個不同電路模塊的X參數級聯後的非線性X參數，例如放大器和混頻器等的級聯。
與S參數相比，X參數可以更為完整全面並且以不會失效的方式表示或分析射頻微波器件的非線性特性。作為S參數在大信號工作條件下的邏輯與數學範疇內的擴展，X 參數的獲取首先需要把被測器件驅動到其飽和工作狀態，這是很多器件真實的工作狀態，然後再在這樣的條件下對被測器件進行測量。在測量X參數的時候，我們不使用或需要知道與被測器件(DUT)內部集成電路有關的信息，我們所要做的是測量各種不同頻率的信號的電壓波形的激勵響應模型，如圖1 所示。換句話說，就是信號的基波和所產生的失真信號的絕對幅度、不同頻率信號的相對相位信息都可以被精確地測量出來，然後用X參數來代表這些幅度和相位信息的組合。從這些信息中我們建立起基於X參數的相應的器件特性模型，然後這些模型可以與各種經過校準的測量工具一起使用來得到不同的品質因數，例如 ACPR，增益壓縮和EVM 等，如圖2 所示。在這些快速得到的精準模型當中，我們還可以把更多的可變化的因素考慮進去，其中就包括源和負載的阻抗狀態、所施加的直流偏置的值、甚至溫度信息等。
圖1以這個多級放大器為例, 它的X參數是在頻域內表達的並映射出各個頻率的入射波(A) 和各個頻率的
散布的波(B) 的關係。因為如果完全知道了入射波和在所有諧波頻率上的散布的波的幅度和相位信息的話,
就相當於也完全知道了信號時域波形的信息, 所以我們就可以知道器件非線性輸入- 輸出特性。
圖2 可以看到, 這裡所顯示的X 參數完全覆蓋了功率放大器實際的電路級設計結果。正如這裡所證明的
這樣, X 參數可以精確地與實際電路相關聯。