X射線的基本原理 (第2部分)

2021-01-15 X射線技術創新研究院

連續譜X射線的強度I與射線管的管電流、管電壓和靶材料的原子序數的關係可用公式表達為:

I = αZiV2

i: 射線管管電流

V:射線管管電壓

Z:靶材料原子序數

α:常數, (1.1~1.4) * 10-6

由圖可見,在連續譜最強波長(圖中虛線)處,圖(a)與圖(b)中的射線強度隨靶材料的原子序數和管電流的增加而線性增加。而圖(c)中的射線強度在只改變射線管電壓的情況下,射線強度並非線性增加,而是與管電壓的平方成正比

高速運動電子束轟擊陽極靶時產生的連續譜X射線和特徵譜X射線,其能量總和仍不及電子動能的1%,而剩餘的99%以上均轉變為熱能,這使得陽極靶溫度急速升高。因此,陽極靶直接受到電子轟擊的區域,應該選用熔點高的物質,並使用足夠的導熱材料和散熱機制將熱量有效轉移。理論和實驗表明,在管電壓和管電流不變的狀況下,靶材料原子序數Z越大則產生X射線的效率越高。因此,在兼顧熔點高、原子序數大和其他技術要求的情況下,(原子序數74)和它的合金是最適當作為陽極靶的材料

當X射線穿過物體與物質相互作用時,將與物體內的原子、原子的電子、原子核以及自由電子發生相互作用。這些作用主要表現為:光電效應,康普頓散射,瑞利散射,電子對效應。入射的X射線在這些作用的影響下,一部分被物質吸收,一部分被物質散射,使穿過物體的X射線強度減弱。

 光電效應:射線穿過物質的過程中,當入射光子的能量等於或略大於吸收體原子外層電子與原子核的結合能時,此入射光子的能量就很容易被電子吸收,獲得能量的電子會擺脫原子核的束縛成為自由電子,即光電子,而入射光子會隨之消失。這種原子被入射輻射電離的現象被稱作光電效應。光電效應消耗大量入射輻射的能量尤其對於高原子序數的物質,光子(射線)能量直到約2MeV時,光電效應仍在射線吸收的過程中起到最主要的作用,即高原子序數的物質會吸收大量的射線。然而對於低原子序數物質,當光子(射線)能量超過100keV時,光電效應已經可以忽略,即在X射線成像應用中,若被照射物體為低原子序數物質,不宜使用高能量的射線。

康普頓散射:入射光子與原子核外受較小束縛力的外層電子或自由電子發生的作用成為康普頓效應,也稱為康普頓散射。與光電效應不同,康普頓散射中的入射光子在於原子外層軌道電子碰撞後沒有完全消失,而是將其一部分能量轉移給了電子,自身能量減少,改變了原先的傳播方向成為散射光子(射線)。而獲得能量的電子掙脫原子核的束縛,成為反衝電子。康普頓散射的發生概率與被射線穿透物質的原子序數成正比,即隨著物體原子序數的升高,射線發生散射的機率越高。對於中等能量的射線來說,康普頓散射對各種物質元素都作用明顯。與此同時,對於低能射線來說,散射線的強度在不同的四周方向上(參照被照射物體)差別很小。但隨著入射射線強度的逐漸增加,與入射方向一致的散射線強度將遠大於與入射方向相反的散射線強度,即可理解射線能量越高,散射發生機率越低

瑞利散射入射光子與靠近原子核的內層軌道電子發生碰撞時,該軌道上的電子吸收了入射光子的能量後躍遷至高能級,隨即又釋放一個能量約等於入射光子能量的散射光子,在此過程中,入射光子與再產生的散射光子之間的能量差可以忽略不計,即可以理解為這是入射光子(射線)與原子發生了彈性碰撞。瑞利散射發生的機率隨入射射線光子能量的增大而急劇減少,在總的射線與物質相互作用和衰減的過程中,並不佔大的比例。

電子對效應高能量的入射光子(射線)與被照射物質的原子核發生碰撞,光子釋放出全部能量並轉化為一對正負電子,正負電子在生成後各自的飛行方向不同。電子對效應發生的前提條件是入射光子的能量不小於1.02MeV。其原因是電子的靜止時的質量具備0.51MeV的能量。一對正負電子的產生,根據能量守恆定律,需要入射光子具有至少1.02MeV的能量,而多餘的能量將轉化為電子的動能。電子對效應的產生主要是由於入射光子與被照射物質的原子核之間的作用,但是入射光子也可與原子核外電子發生此效應,但是可能性很低且要求入射光子的能量不小於2.04MeV。

光電效應入射光子(射線)與原子核外層電子之間的相互作用,光子能量被完全吸收,產生自由電子,光子消失。光電效應是射線被物體吸收的主要機制康普頓散射入射光子(射線)與原子核外受束縛力較小的電子或自由電子發生的相互作用,光子能量被部分吸收,改變了自己的飛行方向,同時也產生自由電子(反衝電子)。康普頓散射是散射線發生的主要機制。瑞利散射入射光子(射線)與靠近原子核的內層軌道電子發生的相互作用,不產生自由電子,可以理解為入射光子與原子發生了彈性碰撞,並改變了傳播方向(發生散射)。電子對效應大於或等於1.02MeV的高能入射光子與原子核本身發生的相互作用,光子的全部能量被放出,並產生一對正負電子沿不同方向傳播飛行。

(更多關於X射線的基礎知識,請見後續的公眾號內容更新)

X射線技術創新研究院(X-ray Academy)致力於傳播X射線及CT領域國際前沿科技,推廣X射線及CT新技術、新產品、新應用,提供質量檢測專業人士的線上線下交流平臺,促進X射線技術更為廣泛而安全的普及應用,為工業產品質量保駕護航。


相關焦點

  • X射線的基本原理 (第1部分)
    X射線的波長分布於0.01~10nm範圍內,這遠低於可見光的波長,所以X射線光子的能量遠大於可見光光子。由此,X射線具備可見光所不具備的強大的物質穿透能力。X射線按其穿透力的不同可分為:超硬X射線(<0.01nm)、硬X射線 (0.01~0.1nm)和軟X射線 (0.1~10nm)。射線能量和穿透能力逐次降低。
  • X射線探傷原理詳解
    X射線探傷原理詳解 X射線探傷原理 通過實踐證明:X射線探傷應用在生產過程中,作為先進的檢測手段為產品品質的提高,起到了不可忽視的作用,使現場檢測從外觀目視提升到了內部探傷微觀檢測,使我公司的產品品質進人新的階段
  • X射線衍射儀基本原理、構造及XRD用於合金結構確定
    前幾天,我們簡單地分享了下XRD的基本原理及如何採用Jade對XRD進行定性分析☞從理論到實際,一文帶你了解XRD能做什麼;衍射樣品製備以及基本操作
  • X射線管(一)X射線管的原理及分類
    X射線管,俗稱球管,是DR的核心構成部件之一,是產生X線的元件,其作用是將電能轉化為X線,它的好壞直接關係到DR產品的圖像質量以及產品的整體壽命,我們今天就給大家簡要介紹下X射線管的工作原理、分類、主要參數指標及常見故障。本次介紹分三個題目:(一)X射線管的原理及分類、(二)如何評價X射線管的好壞、(三)X射線管的常見故障及日常維護。
  • X射線螢光分析儀(XRF)的工作原理
    根據分光方式的不同,X射線螢光分析可分為能量色射和波長色射兩類,也就是通常所說的能譜儀(EDXRF)和波譜儀(WDXRF)。本文主要介紹能譜儀的工作原理。1  XRF基礎知識1.1  基本公式1.2  特徵X射線的產生2  EDXRF基本結構和工作原理2.1  EDXRF基本結構2.2  X光管的結構與工作原理2.3  探測器2.3.1  主要技術指標和作用2.3.2  探測器的類型2.4  光路系統1  XRF基礎知識1.1  基本公式
  • 科普丨三分鐘了解XRD基本原理!
    X射線衍射技術(diffraction of x-rays,簡稱XRD)在結構生物研究中地位如此重要,到底「憑」什麼呢?!下面小編向大家分享下X射線衍射技術的原理及應用。XRD的基本原理當一束單色X射線入射到晶體時,由於晶體是由原子規則排列成的晶胞組成,這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級,故由不同原子散射的X射線相互幹涉,在某些特殊方向上產生強X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強度,與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。
  • 從宇宙黑暗部分到太陽系天體,用X射線怎麼獲取信息?
    隨著人類對宇宙探索的不斷深入,我們開始對各種天體的演化有了更多的了解,並對宇宙的組成有了清晰的輪廓,雖然這個看似熟悉的宇宙仍然充滿未知,但至少我們知道它的大部分物質是黑暗的,且無法通過目前的任何技術實現對它的直接觀測,構成行星和恆星的質子、中子和電子只是宇宙質量和能量的一小部分,科學家現在能做的就是用
  • X射線衍射法檢測表面應力的工程應用
    其中尤以鑽孔法研究較為成熟,基本原理為在試件表面上鑽一小孔,使得孔的周圍部分應力釋放從而產生相應的位移和應變,並用粘貼應變片進行測量,最後得到鑽孔處深度方向上的平均殘餘應力。有損檢測法特點為可靠、經濟、準確性較高,但檢測過程因需要鑽孔、取條等會對試件表面存在破壞及半破壞,特別是受限於油田管道等承壓設備,對設備有極高的承壓要求,不能以犧牲承壓能力而進行檢測,因此其應用範圍受到了一定的限制。
  • X射線衍射方法測量殘餘應力的原理與方法
    2、X射線衍射法測量殘餘應力的發展X射線衍射法是一種無損性的測試方法,因此,對於測試脆性和不透明材料的殘餘應力是最常用的方法。20世紀初,人們就已經開始利用X射線來測定晶體的應力。後來日本成功設計出的X射線應力測定儀,對於殘餘應力測試技術的發展作了巨大貢獻。
  • 展望X射線光譜儀的原理和發展
    X射線光譜儀是進行組分和結構分析的有力工具,簡述了X射線光譜儀的基本原理並對其進行了分類,重點介紹了其在光源、探測器等硬體發麵的發展,簡要介紹了其應用,最後對其發展趨勢作了簡要展望。隨著電子技術、真空技術、光學技術、計算機技術的發展, X射線光譜儀技術獲得了巨大突破,其分析儀器不斷朝著小型化、多功能化、智能化方向發展,並不斷產生了新技術和新分支,豐富著X射線螢光光譜儀家族體系、拓寬著應用領域。
  • 科學(普)有道:X射線
    x輻射波長為0.01至10納米,或頻率為3×1016 Hz至3×1019 Hz。這使得x射線的波長介於紫外線和伽馬射線之間。x射線和伽瑪射線的區別可以根據波長或輻射源來區分。有時x射線被認為是由電子發出的輻射,而伽馬輻射是由原子核發出的。德國科學家威廉·倫琴是第一個研究x射線的人(1895年),儘管他不是第一個觀察x射線的人。
  • 超聲波探傷儀與X射線探傷儀的區別
    它的原理是:超聲波在被檢測材料中傳播時,材料的聲學特性和內部組織的變化對超聲波的傳播產生一定的影響,通過對超聲波受影響程度和狀況的探測了解材料性能和結構變化的技術稱為超聲檢測。超聲檢測方法通常有穿透法、脈衝反射法、串列法等。穿透能力強,探測深度可達數米;   x射線能穿透一般可見光所不能透過的物質。其穿透能力的強弱,與x射線的波長以及被穿透物質的密度和厚度有關。
  • X射線輻射劑量基本概念Q&A
    電離輻射是一切能引起物質電離的輻射總稱,其種類很多,高速帶電粒子有α粒子、β粒子、質子,不帶電粒子有中子以及X射線、γ射線這裡的電離指的是在射線輻射的作用下,不帶電的粒子變成了帶電的粒子。什麼是X射線?波長介於紫外線和γ射線 間的電磁輻射,一種不可見光,穿透力極強。由德國物理學家W.K.倫琴於1895年發現,故又稱倫琴射線。
  • 科學(普)有道:X射線天文學
    在離地球較近的地方,我們的太陽會發出x射線,彗星遇到太陽風時也會發出x射線。x射線天文學幫助天文學家了解宇宙的其他地方正在發生什麼。x射線源分散在宇宙各處。恆星熾熱的外層大氣是巨大的x射線來源。x射線耀斑的能量令人難以置信,它包含著恆星表面和低層大氣及其周圍磁場活動的線索。這些耀斑中包含的能量也告訴了天文學家一些關於恆星進化活動的信息。年輕的恆星也是忙碌的x射線發射器,因為它們在早期階段更加活躍。當恆星死亡時,尤其是那些質量最大的恆星,它們會以超新星的形式爆炸。
  • X射線光電子能譜(XPS)譜圖分析
    一、X光電子能譜分析的基本原理X光電子能譜分析的基本原理:一定能量的X光照射到樣品表面,和待測物質發生作用,可以使待測物質原子中的電子脫離原子成為自由電子
  • 金鑑實驗室|X射線能譜儀(EDS)
    設備型號Horiba 7021-H2.原理EDS能譜儀,是一種分析物質元素的儀器,常與掃描電鏡或者透射電鏡聯用,在真空室下用電子束轟擊樣品表面,激發物質發射出特徵x射線,根據特徵x射線的波長,定性與半定量分析元素周期表中B-U的元素,EDS可提供樣品表面之微區定性或半定量之成分元素分析,以及特定區域之point、line scan、mapping分析。
  • X射線與γ射線檢測技術
    一、射線檢測基本原理    X射線與γ射線檢測,屬於無損檢測領域的內部缺陷檢測技術。其實質就是射線照相。X射線與γ射線都是波長很短的電磁波,習慣上統稱為光子。▲圖1 X射線檢測原理圖圖中射線在構件及缺陷中衰減係數分別為 μ 和 μ´ 。根據衰減定律,透過無缺陷部位 x 後的射線強度為;(1)當μ´ < μ時,I´ >I 。即缺陷部位透過射線強度大於周圍完好部位。
  • X射線和Y射線的性質
    閒話不多說了,下面看看我們今天的知識X射線和Y射線的性質。X射線和Y射線與無線電波、紅外線、可見光、紫外線等屬於同一範疇,都是電磁波,其區別只是在于波長不同以及產生方法不同,因此,X射線和r射線具有電磁波的共性,同時也具有不同於可見光和無線電波等其他電磁輻射的特性。(註:介紹兩種射線優缺點,它們的波長也就是能量的大小。)
  • 「x射線」下的宇宙新地圖是怎麼樣的?
    先一起來看一看這個炙熱而充滿活力的宇宙吧新宇宙地圖近日,德國和俄羅斯的一架太空望遠鏡獲得了一幅用x射線追蹤太空的全新宇宙地圖「實際上,這與60年前整個x射線天文學歷史中探測到的數字差不多。在僅僅六個月的時間裡,我們基本上已經將已知的來源翻了一遍,」德國加興馬普地外物理研究所(MPE)高能天體物理小組的負責人Kirpal Nandra說「這些數據確實令人震驚,我認為我們正在做的將徹底改變x射線天文學。」
  • 【材料課堂】X射線光電子能譜(XPS)譜圖分析
    一、X光電子能譜分析的基本原理X光電子能譜分析的基本原理:一定能量的X光照射到樣品表面,和待測物質發生作用,可以使待測物質原子中的電子脫離原子成為自由電子。(2)元素定量分折X射線光電子能譜定量分析的依據是光電子譜線的強度(光電子蜂的面積)反映了原於的含量或相對濃度。在實際分析中,採用與標準樣品相比較的方法來對元素進行定量分析,其分析精度達1%~2%。