世界上最高解析度的球差過濾分析型透射電鏡揭開面紗

2020-11-30 儀器信息網

      日本電子株式會社今年迎來了開業60周年慶典，隨著慶祝活動大幕的徐徐拉開，最新發布的S/TEM球差過濾一體化透射電鏡JEM-ARM200F也在本月開始全球接受訂單。JEM-ARM200F是目前全球解析度最高的商業化透射電鏡，解析度可達0.08nm。第一臺該型號的透射電鏡將安裝在美國的德克薩斯大學（The University of Texas at San Antonio, Texas）由世界頂級電鏡學者Miguel Yacaman主導的電鏡實驗室裡。
      透射電鏡技術經過一段時間的積累，發生了質的飛躍。特別是最近球差過濾技術的發展可以稱得上是世界上最激動人心的技術進步之一，它將在納米技術、材料科學、製藥領域、生命科學、化學等領域起到更大的推動作用。
      日本電子株式會社以其優秀的電子光學系統從60年前一個電子光學實驗室發展到全球最大的電子光學供應商，並在近20年內一直引領透射電鏡技術的發展，JEM-ARM200F就是其最新的代表作。球差過濾器分為STEM球差過濾器和TEM球差過濾器兩種，日本電子株式會社是目前唯一可以提供兩種過濾器的生產廠家，在此之前都安裝在被業界公認是最穩定的JEM-2100F場發射透射電鏡上，而JEM-ARM200F則實現了球差過濾一體化控制，極大的提高了可操作性。JEM-ARM200F不僅可以獲得高分辨透射電鏡圖像，還可以提供無與倫比的空間解析度，可以進行原子級EDS和EELS分析。同時穩定性極高且操作極為方便。詳情請諮詢日本電子株式會社各地辦事處。

 

 

 

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