雷射粒度分析儀的解析度決定於硬體設置和軟體水平兩個方面。微納儀器具有很高的空間帶寬積，可以處理很高的信息密度，樣品窗後置散射光不受傅立葉透鏡孔徑的限制，在小顆粒範圍可分辨0.1微米的粒度差；我們研製的我約束自由擬合軟體不受任何歷代函數約束，因此對部分粒度級內顆粒的微量變化非常敏感。因而保證微納儀器具有極高的解析度。
微納儀器為什麼能測亞微米顆粒？
為了測量亞微米顆粒，不同的廠家採用了不同的絕招。我們根據Mie理論計算結果，設置了超微顆粒探頭為亞微米顆粒探測奠定了物理基礎。這與數學延拓具有完全不同的性質。
微納儀器測定粒度範圍如何？
測量範圍是由測量上限和下限構成。從理論上講，要把上限向上推是不難的，只需將傅立葉透鏡的焦距拉長就可以達到，但是想測量更小的顆粒就補角困難了，他決定於可探測的最大散射角。當粒徑小於0.2μm時，單光束照明的前向散射光能分布基本上是不變的。我公司採用了會聚光傅立葉變化專利技術獲得了國家專利（ZL94225544.5），克服了透鏡孔徑對散射角的限制，使探測到的散射角擴大，加上設置超微顆粒探頭，使測量範圍擴展到0.1μm，我們測定顆粒的範圍使0.1-300μm
微納儀器的通道數如何？
雷射粒度分析儀設計的分級並不使任意的，決定於探測器的排列和傅立葉透鏡焦距。通道數多少直接決定解析度的高低。目前國產大多廠商的雷射粒度分析儀的級數能達到32。顯然分級越細，級差越小，解析度越強。值得注意的是，目前有些廠商為了商業目的，宣傳其通道數已達到64個，這是使用了數學內插法，在表面上可以增加分級數，而實際上並不能提高儀器的分辨能力。
微納儀器為什麼要分三檔？
這裡特別強調一下，分檔測試不是分段測量。是將測量範圍細分為幾檔，而一檔都是全量程測試。我公司將0.1到300微米的測量範圍分為3檔：0.1-40微米，0.6-120微米，1.0-300微米，改變測量範圍不須更換元件，每檔設32個通道，每檔分為32粒度級，每個粒度級就會更窄，因而可以或得更高的解析度。特別是0.1-40微米檔，2微米以下分為12級。這樣高的解析度是獨一無二的。
附:微納雷射粒度分析儀3檔粒度範圍與常用的其他測試方法比較
微納儀器如何換檔？
被測量顆粒群應處於測試範圍之內才能獲得準確的結果。如果第一次測試發現顆粒分別處於某檔邊緣，最邊的粒度級比例過大，則應換更合適的檔位另測。換檔的方法：關機，按使用說明書移動樣品窗至相應的位置，撥動換檔鍵即可開機重新測試，不必更換任何元件，簡便易行的換檔方法是我公司的獨家技術。
微納儀器對被測顆粒有何限制？
採用全Mie散射原理檢測顆粒群粒度分布，微米級以上顆粒不受顆粒物理化學性質限制，僅與顆粒大小有關。超微顆粒的折射率對測量結果有影響，採用特殊標定技術可以消除誤差，給出準確數值。因此JL9200雷射粒度分析儀適用於任何顆粒的粒度分析。
微納儀器如何探測光譜分布？
採用同心環狀陣列光電探測器何附加超微探頭檢測顆粒的光譜分布，探測的最大散射角達70度。由此為超微顆粒的檢測提供準確的信號。
微納儀器測量速度有多快？
測試中，流經光束的所有顆粒的散射光同時到達探測器，由探測器32個單元同時轉換為電信號，這種信號處理方式稱為並行處理。處理過程是以光速進行的。電信號在計算機中進行反演運算只需機秒鐘，加上樣品分散和列印報告，總共不會超過3分鐘。這種測量速度是任何儀器無法比擬的。