【視頻分享】聽專家們講掃描電鏡技術與應用

為了滿足儀器信息網用戶對掃描電鏡技術的知識需求，解決學習及工作中的問題，本文特整理了儀器信息網的絡講堂欄目中掃描電鏡技術相關會議報告，專家們講解精準專業，歡迎感興趣的用戶保存下載觀看學習。

安徽大學現代實驗技術中心高級工程師林中清

報告題目：《冷場掃描電鏡在磁性材料中應用實例》

林老師在安徽大學現代實驗技術中心從事掃描電鏡管理及測試工作超過30年，他認為，「冷場掃描電鏡無法進行磁性材料測量」是一個片面的說法，在報告中，林老師從磁性材料以及冷場掃描電鏡的認識出發，以大量事例來探討冷場電鏡對磁性材料的檢測方法及注意事項。以修正這種觀點，開拓冷場掃描的應用領域。（報告視頻連結）

中國科學院上海矽酸鹽研究所研究員曾毅

報告題目：《EBSD標定方法研究》

藉助電子背散射衍射(EBSD)獲得的菊池花樣，掃描電鏡可以進行相鑑定、晶粒取向以及織構研究。與TEM的選取電子衍射不同的是，幾乎沒有人僅僅通過菊池花樣，而不藉助商業軟體自己進行相鑑定獲得晶體學信息。之所以如此的主要原因在於標定算法是儀器公司的核心技術，外界無從獲得。曾老師從自身的研究結果出發，詳細解讀菊池帶中可以給出什麼晶體學信息？如何來進行晶面標定和計算取向？通常說的投票法是什麼方法？為什麼要進行Hough變換？到底Hough變換是什麼？通過這些解讀讓大家對EBSD有更深入的了解。（報告視頻連結）

北京工業大學固體微結構與性能研究所研究員張躍飛

報告題目：《原位高溫掃描電子顯微學及應用》

材料的微觀結構是材料性能表現的決定性因素，掃描電子顯微鏡（SEM）是揭示材料微觀多級組織結構（如晶粒尺寸、相分布、界面特徵、晶體取向、成分和雜質分布等）的重要手段。SEM具有較大的樣品腔室，完全可以將材料熱力學性能試驗機微型化，植入SEM中進行材料在接近服役條件下性能與顯微結構一體化原位表徵。高溫合金、耐熱鋼等廣泛使用於熱端服役的關鍵部件，在接近服役條件下，研究這些材料的微觀結構演變機制對這些材料的開發和應用具有重要的意義。張老師在報告中講述了原位高溫掃描電子顯微學技術的最新發展與應用。（報告視頻連結）  

中科院物理所副研究員王玉梅

報告題目：《掃描透射電鏡技術在熱電材料研究中的應用》

掃描透射電子顯微術為目前最為流行和廣泛使用的一種材料評價手段。在熱電材料中，缺陷至關重要。不同類型的缺陷可以作為聲子散射中心散射不同頻段的聲子，有效降低晶格熱導率。王老師在報告中主要介紹了利用掃描透射電子顯微術在原子尺度研究Zintl相化合物Ca9-yEuyZn4.7Sb9不同摻雜條件下的結構演變以及缺陷種類及結構變化，從而調控材料電、熱輸運性質，優化熱電性能。（報告視頻連結）

浙江大學冷凍電鏡中心工程師郭建勝

報告題目：《基於FIB-SEM大尺度三維重構技術在生物超微結構研究中的應用》

郭老師在報告中講到：基於FIB-SEM的大尺度三維重構技術主要是利用聚焦離子束對樣品表面進行切割（厚度~2nm），然後利用背散射電子信號進行成像，重複以上切割和成像兩個動作，可實現對樣品三維結構的連續成像，通過後期的計算機圖像處理技術獲取樣品在三維空間中的結構信息。（報告視頻連結）

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