主講人簡介：吳偉
賽默飛世爾科技 SEM/FIB資深產品專家及電鏡鋰電行業應用負責人，超過十五年電鏡應用經驗，為超高解析度掃描電鏡，聚焦離子束雙束電鏡和環境真空掃描電鏡提供技術支持，擅長低電壓掃描電鏡技術對介孔分子篩的表徵以及運用雙束電鏡對鋰電池正負極及隔膜材料的三維表徵，鍍膜包覆，界面和傳質分析，在加入賽默飛公司之前在中國科學院上海矽酸鹽研究所分析測試中心工作了10年，為SEM，FIB，EPMA，EBSD，EDS，WDS，CL提供技術支持，期間發表電鏡應用相關專業文章20餘篇，撰寫《低電壓掃描電鏡應用技術研究》和《掃描電鏡和電子探針的基礎》專著2篇，參與3篇電鏡、電子探針以及能譜儀相關國家標準制定。
課程提綱：
課程主要從以下幾個方面介紹了聚焦離子束及雙束電鏡的發展趨勢及應用：
1.如何應用雙束電鏡定點加工橫截面樣品。
2.如何應用雙束電鏡製備複雜微納米圖形。
3.AutoTEM5軟體：全自動製備透射電鏡樣品。
4.如何應用雙束電鏡製備三維原子探針樣品。
5. FIB高分辨，多尺度，多模式三維表徵：三維EDS、EBSD、TOF-SIMS。
6.冷凍聚焦離子束技術Cryo-FIB在全固態電池電極以及電池隔膜兩維和三維的表徵。
7.原位充放電和原位電鏡技術：原位加熱臺表徵NCM前驅體合成溫度和升溫曲線對NCM燒結體的影響。
8.報告還介紹了利用人工智慧Ai技術在線統計正負極級片中活性劑，膠粘劑以及不同循環周期的三元NCM顆粒內裂紋。
直播時間：2020年2月17日下午三點
疫情期間，課程免費上！
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