布魯克納米表面儀器部廣州站AFM專題講座

12月7日上午，布魯克納米表面儀器部應用專家孫昊博士在中山大學進行了力學測量技術的新進展和峰值力掃描電化學顯微鏡專題講座。中山大學的原子力顯微鏡用戶參加了此次講座。

專題講座主要介紹了兩個專題：

1. Advances in mechanical properties measurement of nano-materials characterization by Bruker AFM，主要介紹近兩年布魯克AFM在測量力學方面的一些進展，包括對力曲線和Force Volume的改進，對PeakForce QNM測量準確性的改進，以及新的Contact  resonance, Ramp & Hold和Ramp Scripting。

2.PeakForce SECM，主要介紹布魯克掃描電化學顯微鏡PeakForce SECM的概念與原理以及在電化學活性、液體中導電性測量等方面的應用。

布魯克BNS應用專家 孫昊博士 中山大學AFM專題講座

同日下午，孫昊博士在華南理工大學進行力學測量技術的新進展主題講座。接近20名AFM用戶參加了此次講座並參與討論。

華南理工大學AFM主題講座  孫昊博士

版權與免責聲明：

① 凡本網註明"來源：儀器信息網"的所有作品，版權均屬於儀器信息網，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用。已獲本網授權的作品，應在授權範圍內使用，並註明"來源：儀器信息網"。違者本網將追究相關法律責任。

② 本網凡註明"來源：xxx（非本網）"的作品，均轉載自其它媒體，轉載目的在於傳遞更多信息，並不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，且不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。如其他媒體、網站或個人從本網下載使用，必須保留本網註明的"稿件來源"，並自負版權等法律責任。

③ 如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起兩周內與本網聯繫，否則視為默認儀器信息網有權轉載。