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X射線光電子能譜（XPS）是表面分析中的重要分析工具。XPS具有非常靈敏的表面性以及和價態的關係，決定了電子能譜技術在材料科學、物理學、化學、半導體以及環境等領域有著重要的應用價值。XPS技術主要用於表徵納米材料表面的化學組分、原子排列以及電子狀態等信息。利用X射線光電子能譜（XPS）對表面元素做出一次性的定性和定量分析，並通過離子束濺射獲得元素深度的化學成分分布信息，利用高空間解析度進行微區選點分析、線掃描分析以及元素麵分布分析。電子能譜技術是應用於微電子器件、催化劑、材料保護、表面改性以及功能薄膜材料等方面表面分析和價態分析的重要分析方法。本報告主要介紹XPS在納米材料表界面研究中的應用。
本報告主要介紹XPS在納米材料表界面研究中的應用。
姚文清，高級工程師。國家電子能譜中心副主任，清華大學分析中心表面分析室主任。
自1995年以來，一直從事表面化學分析方法學研究和分析儀器研製。先後主持承擔科技部創新方法專項、國標委標準制定專項、國家基金委面上基金等項目多項。完成制定俄歇電子能譜儀、X射線光電子能譜儀的分析方法國際標準1項、國家標準12項，國家發明專利授權和申請5項。發表SCI收錄論文90餘篇，論著2部。研究成果：獲得國家自然科學獎二等獎1項，教育部自然科學獎一等獎2項、二等獎1項，教育部科學技術進步獎（基礎類）二等獎1項。
學術兼職：國際標準化委員會表面化學分析分委員會委員，全國微束分析標準化委員會表面化學分析分技術委員會副主任,高校分析測試中心研究會副秘書長，北京理化分析測試協會表面分析技術委員會副理事長，中國感光學會光催化專業委員會委員，東北大學秦皇島分校兼職教授。
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