Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter：提供卓越的範圍和靈活性
美國時間2020年10月14日，布魯克納米機械測試業務（Bruker Nanomechanical Testing business）宣布發布Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter™，可在掃描電子顯微鏡（SEM）內提供比以往更大的負載和更極端環境提供納米機械測試功能。將有助於研究人員進一步理解高強度材料的變形機理。新產品系統結合了布魯克的高性能控制器、專有的電容式傳感器和固有位移技術，以實現卓越的力和位移範圍。
PI 89 SEM PicoIndenter是第一臺具有兩種旋轉和傾斜臺配置的原位儀器。這使得樣品可以靈活地朝向電子柱進行自頂向下的成像、向FIB柱傾斜進行銑削、主軸旋轉進行晶體對準，並與多種檢測器兼容以實現複雜材料的結構-性能相關性。
「阿拉巴馬大學很高興成為布魯克公司Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter原位納米機械測試裝置的第一批用戶，」阿拉巴馬州分析研究中心主任Gregory Thompson博士表示。
機械工程學教授Keivan Davami博士補充說：「該平臺的先進功能，可以在達到極限溫度的同時，同時施加負載，將提供前所未有的結構表徵捕獲，包括透射菊池衍射和電子背散射衍射，以支持多個研究項目。」
布魯克納米機械測試業務總經理Oden Warren博士表示：「 Hysitron PI 89是我們用於電子顯微鏡原位納米機械測試的PicoIndenter系列的有力補充。」 「新平臺具有出色的多功能性，易用性和剛度，可支持更高的負載，並擁有多項專利功能，可為客戶在SEM中提供更廣泛的測試靈活性和行業領先的性能。我們很高興看到這個新一代儀器使新的研究成為可能。」
關於Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter
Hysitron PI 89系統是布魯克知名的Hysitron PicoIndenter用於SEM的測試儀器系列。 PI 89以布魯克最先進的電容換能器技術為基礎，為研究人員提供了一種功能強大的先進儀器，具有卓越的性能和多功能性。它的功能包括自動納米壓痕、加速機械性能映射（XPM）、疲勞測試、納米摩擦學、薄膜和納米線的推拉（PTP）張力（已獲得專利）、直接拉力、SPM成像、電特性模塊、高溫測試（已獲得專利）、旋轉和傾斜臺（已獲得專利），並與使用EBSD，EDS，CBD，TKD和STEM檢測器的分析成像兼容。
關於Hysitron
2017年2月，布魯克宣布收購納米力學儀器製造商Hysitron(海思創)。該收購將Hysitron的創新納米機械測試儀器添加到布魯克已有的原子力顯微鏡(AFM)，表面輪廓儀，摩擦學和機械測試系統的產品組合中，大大提高了布魯克在納米材料研究市場的領先地位。
Hysitron總部位於明尼蘇達州的伊登普雷利，公司自1992年成立以來率先開發了用於測量納米級材料的機械性能的解決方案。其領先的納米壓痕產品被學術界和工業研究人員用於材料科學、生命科學和半導體領域的應用。除納米壓痕和微壓痕外，Hysitron的儀器產品還包括摩擦學、模量映射、動態機械分析、原位SEM(掃描電子)和TEM(透射電子)納米機械測試。