培訓過程中,經常被不同部門的學員問到,最大實體MMC的CPK怎麼計算?感覺這個題應該是一個大眾性問題,決定寫一篇文章,看看對大家是否有些幫助,本文是以常見位置都最大實體MMC為例子,其它公差最大實體原理與此類似。如果你覺得此文有些幫助,請轉發,只有自己,客戶,供應商方法統一,你的計算結果才會被認可。當然如果您有不同的意見,甚至有更好的方法,歡迎提出。
1 什麼是CPK
CPK是指「過程能力指數」,我們在過程中收集數據進行分析時,經常會被客戶問到 「這個過程有足夠的能力來生產合格品?它有一個怎樣的質量保證能力,製造過程是否穩定等?」
-- 通過製程能力指數的研究來評估質量現狀
--從過製程能力數值可反映出過程不合格PPM(一百萬個零件多少不合格)
--通過研究製程能力來發現質量的改進途徑
2 怎麼計算CPK
第一步:選用30-50的樣本數,然後測量實際數據。
第二步:算出樣本的平均值µ,計算方法如下。
µ = (X1 + ‥ +Xn) / n
第三步:算出樣本的標準差σ,按下面的公式計算而得:
第四步:算出單邊的過程能力,按照下面的公式,然後CPK等於最小的單邊能力指數。
UCL---表示規範的上限值(上公差)
LCL---表示規範的下限值(下公差)
µ ----表示樣本的平均值
σ---標準差,反映數據的離散程度
從上面的CPK計算公式可以看出,要想算出CPK值是多少,圖紙公差應該有一個固定的規格上限UCL或下限LCL。
3 位置都最大實體的理解
a) 最大實體狀態(MMC)定義
在GB/ T-16671中對最大實體狀態的定義如下:
假定提取組成要素的局部尺寸處處位於極限尺寸且使其具有實體最大時的狀態。
其實可以用一句通俗易懂的話來解釋上面標準的定義就是,最大實體狀態(MMC)就是材料最多的狀態。比如對於孔來講就是孔尺寸最小時的狀態,對於軸就是軸尺寸最大時的狀態。
b) 位置度最大實體狀態(MMC)理解
最大實體在幾何公差裡,尤其是位置公差用的比較多,也就是我們常說的位置度後面加上M圈,位置度後面加M的目的主要還是為了放大產品的製造公差,從而降低產品的成本。因為加上M圈後,孔允許的位置度公差及製造公差,不是一個固定值,它是隨著孔的實際尺寸大小而改變的,當孔的尺寸大小及直徑大小做大了,孔的位置度公差就要補償,也就是我們常說的公差拿獎金。
此時孔允許的總體位置就等於0.4的基本位置度加上補償位置度,補償位置度等於實際孔的尺寸減去圖紙標註的最小孔尺寸 。其位置度公差如下表所示:
從上面的表格可以看出,位置度公差應用最大實體MMC後,每個產品允許的位置公差不是一個固定值,及公差規格上限UCL不固定,現在按照前面介紹
CPK計算公式就不行了。
4 四步法計算位置度最大實體CPK
第一步:實測孔的尺寸大小,算出公差補償大小(實際計算時,多取幾個樣本,我這裡是告訴你方法,以5個樣本為例)
第二步:算出每個孔總體允許的位置度公差,及規格上限UCL
第三步:測量每個產品的實際位置,然後用實際位置度除以自己允許的位置度,從而算出每個產品位置度的使用百分比。 第四步 : 計算CPK ,現在每個產品都有一公差使用的百分比,也就是每個產品都有一個共同的規格上限100%也就是1,現在就可以計算了產品公差使用百分比的CPK.首先把百分比轉換為小數,比如50%=0.5。最後把所有的數據輸入編制號的Excel表格中,算出了CPK數值,計算表格如下圖所示:
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