儀器型號：Thermofisher Spectra 300 (image & probe corrector)
聯 系 人：宋克鵬
生產廠家：Thermofisher
聯繫電話：18866812973
安裝地點：中心校區生命北樓地下一層
◎ 主要技術指標
● STEM解析度：0.6 nm @ 300kV；
● TEM解析度 ：0.6 nm@ 300kV；
● 放大倍數 ：×50 至 ×200,000,000 ；
加速電壓 ：30, 60，200, 300 kV ；
● TEM圖像採集系統解析度 ：4096 x 4096
● Super EDS & EELS
◎ 主要功能特色
（1）金屬、陶瓷、半導體、礦物、和納米級一維、二維和三維材料的原子分辨觀察，可以在STEM or TEM模式下實現對樣品原子尺度下的結構分析。
(2) 採用iDPC-STEM模式，可以實現輕元素的高分辨成像。
（3）X射線能譜：可以對樣品微觀區域進行點、線、面進行定性和定量分析；對滿足條件的樣品可以實現原子分辨下的元素分布成像分析。
（4）EELS：可以對樣品微觀區域進行點、線、面進行定性和定量分析，獲取元素的分布和價態分布情況。
（5）原位分析：結構特殊原位樣品杆，可以實現原子分辨下的動態分析。
Kepeng Song 宋克鵬
研究員 Professor
工學博士 Ph.D.
聯繫方式：kpsong@sdu.edu.cn
個人簡介
研究方向：畢業於中國科學院金屬研究所，師從我國著名電子顯微學專家葉恆強院士。博士期間在德國馬普學會Stuttgart電鏡中心進行聯合培養。博士畢業後相繼在中國科學院金屬研究所瀋陽材料科學國家研究中心和沙特阿卜杜拉國王科技大學從事球差校正透射電子顯微學的相關研究工作。主要研究方向為像差校正透射電子顯微學，長期從事高性能結構陶瓷、功能氧化物和太陽能鈣鈦礦材料結構與性能關係的透射電子顯微學研究。發表相關論文超過20篇。目前主持齊魯青年學者基金和省基金各一項。
專業技能：球差校正透射電子顯微學分析。具有豐富的球差校正透射電鏡使用經驗（＞12年），熟悉Thermo Fisher和JEOL公司球差校正透射電鏡以及FIB的使用，精通（S）TEM圖像各類定量分析方法，低電子輻照劑量高分辨成像分析方法，HRTME & STEM像模擬以及X射線能譜（EDS）和電子能量損失譜（EELS）的定量分析方法。在球差電鏡實驗室建設和管理方面具有豐富的經驗。
Dongqing Qi 齊冬卿
工程師Experimentingist
博士：材料學
聯繫方式：dqqi@sdu.edu.cn
個人簡介
研究方向：材料微觀結構、成分與缺陷的電子顯微學研究，長期從事航空發動機用鎳基單晶高溫合金和鎳基變形高溫合金的力學性能及微觀變形行為的研究，擅長通過透射電子顯微學方法在亞埃和微納尺度解析材料的結構和成分以及材料中的位錯、層錯和孿晶等缺陷。研究生期間參與國家自然科學基金項目四項，共發表SCI期刊論文9篇，其中第一作者3篇。
儀器專長：長期從事透射電子顯微學研究，熟練使用Thermo Fisher和JEOL電鏡公司的多種型號的透射電子顯微鏡，如Tecnai G2 F30和F20場發射透射電鏡、JEM-2100UHR和JEM-2010UHR高分辨透射電鏡等，尤其是像差校正透射電鏡，如Titan G3 Cubed Themis 300和Titan G2 Cubed 300像差校正透射電鏡。擅長衍射襯度分析方法、原子級成像和成分分析技術、EELS能量損失譜分析技術、三維重構技術和原位實驗方法等相關方法以及像差校正透射電鏡的調試和維護。掌握多種透射樣品製備方法，熟練使用Gatan 691、Gatan 695和Leica Res 101等型號的精密離子減薄儀。在透射電鏡的使用、管理和維護以及相關數據的處理方面具有豐富的經驗。