李倩 發表於 2018-05-22 09:19:49
米勒效應所產生的電容和峰值問題在日常工作中,屬於一種比較常見的情況。在IGBT模塊操作中,如果沒有及時處理米勒電容問題,很容造成IGBT損壞。那麼,寄生米勒電容有哪些危害?工程師應該如何快速的清除IGBT寄生米勒電容問題呢?就讓我們通過下文進行詳細的分析和介紹。
在日常的工作過程中,IGBT模塊操作時一旦出現了米勒效應的寄生電容問題,往往見於明顯的在0到15V類型的門極驅動器,也就是工程師們常說的單電源驅動器。門集-電極之間的耦合在IGBT關斷期間,高dV/dt瞬態可誘導寄生IGBT道通,也就是門集電壓尖峰,這對於IGBT乃至整機來說,都是一種潛在的危險。
通常情況下,為了防止出現寄生IGBT通道的情況發生,國內通常有兩種解決辦法。第一個辦法是為配置添加門極和發射極之間的電容,第二是通過使用負門極驅動。如果使用第一方案,那麼很容易造成效率的降低,而第二個方案則需要考慮到額外費用和成本問題,工程師需要依據實際情況進行比較和判斷。
目前業內所採用通過縮短門極—發射極的路徑,用一個電晶體放在門極—發射極之間是一種比較常用的方法。這種方法在達到一定的閾值之後,電晶體將造成門極—發射極地區的短路。我們將這種加入額外電晶體的技術稱之為源米勒鉗位,這種辦法是能夠有效消除米勒效應產生的寄生電容問題。
結語
工程師在了解了米勒效應寄生電容所產生的根本原因之後,可以因地制宜的進行解決方案的選擇。及時消除米勒電容問題可以充分保證IGBT的正常工作運轉,也能夠有效的提升機體工作時長和工作效率。
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