圖1、6英寸碳化矽晶體和單晶襯底片
圖2、6英寸碳化矽單晶片的拉曼光譜(4H碳化矽單晶)
圖3、6英寸碳化矽單晶片的X射線搖擺曲線(半峰寬平均值僅27.2弧秒)
碳化矽(SiC)單晶是一種寬禁帶半導體材料,具有禁帶寬度大,臨界擊穿場強大,熱導率高,飽和漂移速度高等諸多特點,被廣泛應用於製作高溫、高頻及大功率電子器件。此外,由於SiC和氮化鎵(GaN)的晶格失配小,SiC單晶是GaN基LED、肖特基二極體、MOSFET、IGBT、HEMT等器件的理想襯底材料。為降低器件成本,下遊產業對SiC單晶襯底提出了大尺寸的要求,目前國際市場上已有6英寸(150毫米)產品,預計市場份額將逐年增大。
中國科學院物理研究所/北京凝聚態物理國家實驗室(籌)先進材料與結構分析實驗室陳小龍研究組(A02組,功能晶體研究與應用中心)長期從事SiC單晶生長研究工作,團隊人員通過自主創新和探索,獲得了SiC單晶生長設備、晶體生長和加工技術等一整套自主智慧財產權。研發成功的2英寸SiC單晶襯底在國內率先實現了產業化,並相繼研發成功3英寸、4英寸SiC單晶襯底,實現了批量製備和銷售。2014年11月,團隊人員與北京天科合達藍光半導體有限公司合作,成功解決了6英寸擴徑技術和晶片加工技術,成功研製出了6英寸SiC單晶襯底。拉曼光譜測試表明生長出的SiC晶體為4H晶型,(0004)晶面的X射線衍射搖擺曲線半高寬平均值僅27.2弧秒,表明晶體結晶質量很好。這一成果標誌著物理所的SiC單晶生長研發工作已達到國際先進水平。6英寸SiC單晶襯底的研發成功,為高性能SiC基電子器件的國產化提供了材料基礎。
相關研究得到科技部、國家自然科學基金委、協同創新中心、中國科學院、北京市科委、新疆生產建設兵團科技局等有關部門的支持。
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