光電測試原理和基本知識(一)

2020-11-30 電子產品世界

有源光電器件的特性描述絕不僅僅只需要 一個電流源


有源的光電器件是一個基本的半導體 結，為了更全面的測試，不僅要求對其做 正向的I-V特性測試，也要求監測反向的 I-V特性。傳統的雷射二極體電流驅動在實驗室級別是合適的，但是對於開發半導體器件完整的測試方案並不合適。而2400系列數字源表將源輸出與測量的能力集成在一起，非常適用於半導體器件的特性分析。

本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/201612/333889.htm

對於一個有源光電器件完整的特性分析需要正向和反向的電壓和電流源。例如，反向擊穿測試需要輸出一個非常小的、精密的反向電流(10nA)的同時測量電壓。

有限的電流避免了對器件造成永久的破壞，同時可以進行精密的擊穿電壓的測試。已知擊穿電壓之後，就可以對器件加一個安全的反向偏置，同時測試該器件的漏流。器件的漏電流指標對於器件的進一步分析將會很有幫助。

四象限的源輸出能力

數字源表系列集成了完整的四象限精密源(圖3)和測量能力。源和測量的能力從低到1μA或2 0 0 m V的量程到高到5A或1000V的量程。這種廣泛的動態量程使得測試眾多的器件成為可能，例如AlGaAs雷射二極體，Si材料的光電管。

接觸檢查功能
2400數字源表系列都有具備接觸檢查功能的選項，這一功能使得在對器件激勵信號或者測試前自動地識別所有的測試線纜是否已經連接到被測器件上。圖6顯示了這一功能識別出了遠端的Sense端沒有連接到被測器件。Sense端沒有連接的話，執行測試時，電壓嵌位功能沒有作用。


遠端電壓測量
數字源表系列儀器提供2線法和4線法的測量能力。2線法測試中的測試與源輸出共用一套表筆。如圖7a。當輸出高電流時，相比於被測器件上的正向壓降，損耗在測試表筆上的電壓降可以忽略。

4線法電壓測試使用單獨的表筆測試DUT上面的壓降。因為電壓測試的迴路具有非常高的輸入阻抗，因此該迴路中測量表筆上流過的電流非常小，相對於DUT上的電壓降，這個小電流在表筆上所產生的壓降就可以忽略。

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