基於小視野成像的同軸光的改善應用

2021-02-24 CST視覺光源

  

一、引言

同軸光，在機器視覺中是一類應用很廣泛的光源。同軸光常用於高反光物體表面檢測，比如晶片及矽片表面破損檢測，LED外觀缺陷檢測等。從作用上講，同軸光可以消除物體表面上不平整造成的陰影，均勻照射到物體表面，反射回相機，從而採集出一幅均勻性好，對比度高的圖片。然而，在實際應用中，我們經常發現視野做得比較小（鏡頭放大倍率2倍或2倍以上）的時候，相機採集的圖片模糊、鏡頭完全對焦不上的現象。針對這種現象，CST技術團隊找到了一個完善的解決方案，其原理是通過優化同軸光分光鏡的光學性能，改善光源內部的透射、反射與折射參數，達到了同軸光在小視野高清晰成像的效果。

二、同軸光成像案例對比

檢測視野：2.30mm*1.44mm。

 

  

圖1 普通同軸光效果

圖2 高清晰同軸光效果

檢測目的：輪廓定位。

檢測視野：2.30mm*1.44mm。

圖3普通同軸光效果圖

圖4高清晰同軸光效果圖

檢測目的：Mark定位。

檢測視野：2.30mm*1.44mm。

 後記：此同軸光主要應用於小視野情況下的成像。隨著機器視覺的發展，技術的應用越來越成熟，對光源的了解也越來越深入。CST作為一家有著十多年的視覺經驗的光源企業，在光源這一塊始終走在行業的前列，對業內一些難題也有自己獨特的見解。創新無止境，CST團隊仍將持續關注客戶與行業訴求，用專業、專注成就客戶價值。

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