ZYGO 系列紅外雷射幹涉儀
2021-01-18 ZYGO在線基於不同波長設計的紅外光學系統，在高能雷射，光通訊，夜視紅外成像，遙感望遠鏡等等領域，有著廣泛的應用。基於工作波長測試光學系統的透射波前，是評估各類紅外光學系統的關鍵。為了滿足這一應用需求，ZYGO設計製造了基於不同紅外波長 1064nm，1053nm，1.55um，3.39um，及10.6um的菲索式雷射幹涉儀，以及對應波長的平面，球面透射系列標準鏡。
由於一般用於測試系統透射波前，幹涉腔相對長而不穩定，紅外幹涉儀往往要面對環境振動以及空氣擾動的影響。ZYGO 1064nm, 1053nm, 1.55um, 3.39um紅外雷射幹涉儀，都包括ZYGO QPSI™ 抗振相移技術；以及DynaPhase™瞬態採樣技術，用於應對振動環境或極端擾動環境。
ZYGO紅外雷射幹涉儀的技術特點：
1053nm，1064nm 應用於強雷射，夜視成像，空間光學等等領域：
機械移相，或者MST波長調製模式可選。
可選配1-5X 連續光學縮放，或2K+高解析度幹涉儀主機，用於強雷射應用中頻測量。
有成熟的配套的1um紅外大口徑擴束系統，組成基於1um波長的300mm-600mm的大口徑紅外雷射幹涉儀。
整合ZYGO QPSI™ 抗振相移技術；以及DynaPhase™瞬態採樣技術。
3.39um波長 6英寸（150mm）主機配紅外材料透射球面鏡
3.39um應用於熱成像，空間光學等等領域：
1.55um波長調製6英寸（150mm）主機
1.55um廣泛應用於光通訊領域
10.6um應用於光刻子系統，熱成像，空間光學領域。
可靠而緊湊的10.6um雷射光源。
緊湊設計的紅外攝像頭，噪聲低。
成熟設計的系列透射球面標準鏡。
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常用來測量長度的幹涉儀。以雷射波長為已知長度、利用邁克耳遜幹涉系統(見雷射測長技術)測量位移的通用長度測量工具。雙頻雷射幹涉儀是1970年出現的，它適宜在車間中使用。雷射幹涉儀在極接近標準狀態(溫度為20℃、大氣壓力為101325帕、相對溼度59%、C O2含量0.03%)下的測量精確度很高，可達1×10-7。 雷射幹涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作，並可作為精密工具機或測量儀器的校正工作。 -
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有關MCV-5000系列應用的幾個實例 對於大型工具機，停機的成本是很高的。美國Optodyne公司設計的太空雷射測量系統MCV-5000可以將測量時間從原來的幾天減少到幾個小時。如使用常規的雷射幹涉儀，要完成同樣的測量可能至少需要一天時間。 1、將1號及2號雷射頭用磁座分別安置在工具機的主機和輔機各一邊。然後兩雷射束都調準到指向在X軸方向，分開距離200英吋（5米）。設置和調準時間是10分鐘。 -
為什麼都在用SJ6000雷射幹涉儀
SJ6000雷射幹涉儀具有測量精度高、測量範圍大、測量速度快、最高測速下解析度高等優點，結合不同的光學鏡組，可實現線性測長、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測量。在SJ6000雷射幹涉儀動態測量軟體配合下，可實現線性位移、角度和直線度的動態測量與性能檢測，以及進行位移、速度、加速度、振幅與頻率的動態分析，如振動分析、絲杆導軌的動態特性分析、驅動系統的響應特性分析等。SJ6000雷射幹涉儀應用非常廣泛。SJ6000雷射幹涉儀可以測工具機精度。SJ6000雷射幹涉儀可以測自動化設備精度。 -
麥可遜雷射幹涉儀和菲索型雷射幹涉儀,別弄混了
有很多客戶通過網絡搜索到我們的聯繫方式，說需要一臺雷射幹涉儀，詳細溝通一下，他們需要雷射幹涉儀測量面型精度、PV值等，其實他們需要的不是雷射幹涉儀，準確的說應該是菲索型雷射幹涉儀。 -
XL-80雷射幹涉儀
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單頻雷射幹涉儀的方案解析
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雷射幹涉儀使用及檢測判斷方法
，擁有一臺雷射幹涉儀，就擁有世界一流的檢測手段，就擁有令人信服的檢測結果，就能證明可以生產一流的產品。那麼，當你使用雷射幹涉儀的時候，能否正確的使用它呢？能否讓它的功能檢測功能發揮出來呢？以下關於雷射幹涉儀基本知識的學習是必須的了。 -
雷射波長計大PK
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光動公司推出最新產品LICS-100雷射幹涉儀
王正平博士，光動公司創始人兼總裁，長期致力於雷射測量技術的研究，並在該領域獲得了巨大突破。在CIMT2007展上，王正平博士忙著向觀眾講述光動公司最新研製的劃時代的新產品LICS-100雷射都卜勒測量儀。 光動公司的最新產品LICS-100雷射幹涉儀與傳統的雷射幹涉儀在很多方面都有明顯的差別。 -
雷尼紹推出XM-60多光束雷射幹涉儀
世界領先的測量專家雷尼紹發布XM-60多光束雷射幹涉儀，只需一次設定即可在任意方向測量線性軸全部6個自由度。與傳統雷射測量技術相比，XM-60在易用性和省時方面做出了重大改進。 隨著對工件的公差要求越來越高，製造商需要考慮所有來自工具機加工工件的誤差源；角度誤差以及線性和直線度誤差。XM-60經過一次設定便可採集所有誤差。 -
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使用雷射幹涉儀,提高數控工具機定位精度!
雷射幹涉儀laser interferometer，以光波為載體，據此為已知長度，利用麥可遜幹涉系統測量位移的通用長度測量。雷射幹涉儀可以測量出一些誤差值，導入數控系統，改善工具機加工精度。雷射幹涉測量被廣泛用於長度、角度等領域，和微電子技術、計算機技術集成，成為現代幹涉儀。1986年幹涉儀開始向納米、亞納米解析度和精度前進。雷射幹涉儀是雷射在計量領域中最成功的的應用之一。主要分為單頻和雙頻兩種。配合折射鏡、反射鏡等來作線性位置等的測量工作，可測量的量包括：位置、速度、角度等，並且可以精密測量。 -
大尺寸測量領域的奇葩:無導軌雷射幹涉儀
雷射技術的快速發展為大尺寸精密測量開拓了嶄新的領域。近 20 年來， 出現了多種無導軌大尺寸測量方法， 其中， 受到廣泛關注的無導軌雷射幹涉儀是近年來發展很快的一種先進測量方法。 各國學者對無導軌雷射幹涉儀技術進行了大量研究， 研發了各種雷射幹涉儀， 歸納如下： （1） CO2雷射幹涉儀 CO2雷射器是一種非常適合無導軌雷射測量的光源， 它在10.6 μm 波段具有豐富的譜線，相鄰譜線的波長差分布也比較均勻， 構成的「合成波長鏈」的波長可從 10.6 μm~25 m， 因此， CO2雷射幹涉儀一直是無導軌雷射幹涉儀的研究重點 -
步距規校對雷射幹涉儀可提高定位精度
近日桂林安一量具有限公司董事長吳峰山向記者表示，單獨使用雷射幹涉儀在許多現場環境下往往不夠準確。在使用雷射幹涉儀前，先用步距規校對一下雷射幹涉儀，然後再用校對過的雷射幹涉儀對數控工具機進行測量和修正，將會大大提高數控工具機定位精度。