麥可遜雷射幹涉儀和菲索型雷射幹涉儀,別弄混了

2020-12-03 騰訊網

有很多客戶通過網絡搜索到我們的聯繫方式，說需要一臺雷射幹涉儀，詳細溝通一下，他們需要雷射幹涉儀測量面型精度、PV值等，其實他們需要的不是雷射幹涉儀，準確的說應該是菲索型雷射幹涉儀。

我們SJ6000雷射幹涉儀是麥可遜雷射幹涉儀，以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今公認的高精度、高靈敏度的測量儀器，在高端製造領域應用廣泛。

SJ6000雷射幹涉儀集光、機、電、計算機等技術於一體，產品採用進口高性能氦氖雷射器，其壽命可達50000小時；採用雷射雙縱模熱穩頻技術，可實現高精度、抗幹擾能力強、長期穩定性好的雷射頻率輸出；採用高速幹涉信號採集、調理及細分技術，可實現最高4m/s的測量速度，以及納米級的解析度；採用高精度環境補償模塊，可實現雷射波長和材料的自動補償。

SJ6000雷射幹涉儀可實現線性、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度、迴轉軸等幾何參量的高精密測量；

SJ6000雷射幹涉儀可檢測數控工具機、三坐標測量機等精密運動設備其導軌的線性定位精度、重複定位精度等，以及導軌的俯仰角、扭擺角、直線度、垂直度等；

SJ6000雷射幹涉儀可實現龍門工具機雙軸同步測量；

SJ6000雷射幹涉儀可實現對工具機迴轉軸的測量與校準。

所以雖然都叫雷射幹涉儀，但是兩者是完全不同的儀器哦，千萬別弄混了。

相關焦點

  • 雷射幹涉儀與白光幹涉儀區別!
    經常有客戶來電，說要諮詢幹涉儀，看到中圖儀器有雷射幹涉儀和白光幹涉儀，不知道哪一款可以滿足自己的需求？雷射幹涉儀和白光幹涉儀雖然都同屬於幹涉儀這個大類，但是兩者的區別可大了！雷射幹涉儀雷射幹涉儀測量利用的是麥可遜幹涉原理：(1) 從SJ6000雷射幹涉儀主機出射的雷射束（圓偏振光）通過分光鏡後，將分成兩束雷射（線偏振光）；(2) 兩束雷射分別經由角錐反射鏡A和角錐反射鏡B反射後平行於出射光（紅色線條）返回，通過分光鏡後進行疊加
  • 原理 ▌麥可遜幹涉儀
    >麥可遜幹涉儀利用分振幅法產生兩束相干光源實現幹涉。觀察窗中的等傾幹涉條紋麥可遜幹涉儀是許多近代幹涉儀的原型，用它可以觀察光的各種幹涉現象，測定單色光的波長、相干長度以及透明介質的折射率；同時可以研究許多物理量如溫度、壓強、電場、磁場、媒質的運動等對光的傳播的影響
  • 麥可遜幹涉儀原理_麥可遜幹涉儀幹涉現象 - CSDN
    光的幹涉實驗仿真模擬首先是依據光幹涉的光強分布的理論公式及實驗參數建立光強數據矩陣，然後運用Matlab的Image命令繪製幹涉圖像，運用Plot命令繪製光強分布曲線．本虛擬實驗室主要模擬楊氏雙縫幹涉，牛頓環和麥可遜幹涉儀的等傾幹涉．
  • 雷射幹涉儀引力波探測器的基本光學結構
    雷射幹涉儀引力波探測器的工作原理[1]如圖 1所示。圖 1圖 1 7雷射幹涉儀引力波探測器工作原理簡圖 Fig. 1 Operation principle of LIGO原則上講,雷射幹涉儀引力波探測器是一臺「變異」的麥可遜幹涉儀,其相互垂直的兩臂各有一個法布裡-珀羅腔,並帶有光循環鏡和其他功能部件。
  • 使用雷射幹涉儀,提高數控工具機定位精度!
    雷射幹涉儀laser interferometer，以光波為載體，據此為已知長度，利用麥可遜幹涉系統測量位移的通用長度測量。雷射幹涉儀可以測量出一些誤差值，導入數控系統，改善工具機加工精度。雷射幹涉測量被廣泛用於長度、角度等領域，和微電子技術、計算機技術集成，成為現代幹涉儀。1986年幹涉儀開始向納米、亞納米解析度和精度前進。雷射幹涉儀是雷射在計量領域中最成功的的應用之一。主要分為單頻和雙頻兩種。配合折射鏡、反射鏡等來作線性位置等的測量工作，可測量的量包括：位置、速度、角度等，並且可以精密測量。
  • 雷射幹涉儀·工業檢測·優勢·應用 雷射聚會LFC 2019(蘇州站)|記者探會系列連載
    本期我們一起來感受下可以用於探測引力波的雷射幹涉測量技術，在工業檢測當中的應用領域。早在1887年，美國物理學家麥可遜和莫雷合作，就為研究「以太」漂移，使用分振幅法產生雙光束再實現光學幹涉的特性，設計製造出了著名的麥可遜幹涉儀。在近代物理、計量技術和工業應用中，科學家們還研製出各種不同特點的幹涉儀，比如泰曼-格林幹涉儀、菲索幹涉儀、馬赫幹涉儀、米諾幹涉儀等。他們的共同特點是以波長為尺子來量測被測物體的物理量和化學量的變化。
  • 雷射幹涉儀原理
    常用來測量長度的幹涉儀。以雷射波長為已知長度、利用邁克耳遜幹涉系統(見雷射測長技術)測量位移的通用長度測量工具。雙頻雷射幹涉儀是1970年出現的，它適宜在車間中使用。雷射幹涉儀在極接近標準狀態(溫度為20℃、大氣壓力為101325帕、相對溼度59%、C O2含量0.03%)下的測量精確度很高，可達1×10-7。　　雷射幹涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作，並可作為精密工具機或測量儀器的校正工作。
  • ZYGO 大口徑雷射幹涉儀
    大口徑雷射幹涉儀，自然主要用於「大口徑光學元件」；包括表面面形，透射波前，材料光學均勻性等參數的測試。廣泛應用於空間光學，強雷射，同步輻射，光刻物鏡製造等等核心項目。ZYGO大口徑幹涉儀系統中高精度標準鏡，大口徑擴束系統等等光學器件，全部自己設計和製造，確保了質量與交期，提高了性價比。ZYGO長期深度參與以上提到的強雷射NIF，空間光學NASA，光刻物鏡等等國際核心項目，深刻理解這些關鍵應用的技術需求。ZYGO大陸區域技術支持團隊，有超過20年安裝，調試，維護大口徑雷射幹涉儀的經驗。
  • XL-80雷射幹涉儀
    雷尼紹XL-80雷射幹涉儀為坐標測量機 (CMM) 和工具機等運動系統提供高性能測量和校準。
  • 單頻雷射幹涉儀的方案解析
    幹涉儀是以雷射波長為已知長度、利用邁克耳遜幹涉系統測量位移的通用長度測量工具。雷射幹涉儀有單頻的和雙頻的兩種。雙頻雷射幹涉儀是1970年出現的，它適宜在車間中使用。雷射幹涉儀在極接近標準狀態(溫度為20℃、大氣壓力為101325帕、相對溼度59%、CO2 含量0.03%)下的測量精確度很高，可達1×10。
  • ZYGO 系列紅外雷射幹涉儀
    為了滿足這一應用需求，ZYGO設計製造了基於不同紅外波長 1064nm，1053nm，1.55um，3.39um，及10.6um的菲索式雷射幹涉儀，以及對應波長的平面，球面透射系列標準鏡。由於一般用於測試系統透射波前，幹涉腔相對長而不穩定，紅外幹涉儀往往要面對環境振動以及空氣擾動的影響。
  • 雷射幹涉儀檢測指導
    雷射幹涉儀有單頻和雙頻之分，單頻雷射幹涉儀受環境因素影響較大，一般用於特定環境的實驗室。雙頻雷射幹涉儀應用頻率變化來測量位移，對由光強變化引起的直流電平變化不敏感，抗幹擾能力強，廣泛應用於各種工況下。雷射幹涉儀的工作原理　　雷射幹涉儀發射單一頻率光束，光束射入線性幹涉鏡後分成兩道光束射向反射鏡，這兩道光束再反射回到分光鏡，最後重新匯聚返回雷射幹涉儀。若光程差沒有變化時，雷射幹涉儀會在相長性和相消性幹涉的兩極之間找到穩定的信號。若光程差有變化時，這些變化會被計算並用來測量兩個光程之間的差異變化。
  • 雷射幹涉儀精度知多少?
    如何對雷射幹涉儀的精度和性能進行驗證評價？小編帶您一探究竟。雷射幹涉儀簡介雷射幹涉儀以光波為載體，具有測量精度高、測量速度快、測量範圍大、最高測速下解析度高等特點，其光波波長可直接對米進行定義並溯源至國家標準。
  • 雷射幹涉儀使用及檢測判斷方法
    ，擁有一臺雷射幹涉儀，就擁有世界一流的檢測手段，就擁有令人信服的檢測結果，就能證明可以生產一流的產品。那麼，當你使用雷射幹涉儀的時候，能否正確的使用它呢？能否讓它的功能檢測功能發揮出來呢？以下關於雷射幹涉儀基本知識的學習是必須的了。
  • 雷射波長計大PK
    希望可以讓大家對各種雷射波長計有一個更加清晰的認識，對產品選項提供一定參考。   目前市場上的波長計的原理主要有Fizeau幹涉儀，麥可遜幹涉儀，法布裡-珀羅幹涉儀，衍射光柵等。  Fizeau幹涉儀由兩個平面組成，兩個平面之間的楔角很小，隨著光路長度的變化，該平面會產生空間變化的幹涉條紋（圖1）。
  • 為什麼都在用SJ6000雷射幹涉儀
    SJ6000雷射幹涉儀具有測量精度高、測量範圍大、測量速度快、最高測速下解析度高等優點，結合不同的光學鏡組，可實現線性測長、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測量。在SJ6000雷射幹涉儀動態測量軟體配合下，可實現線性位移、角度和直線度的動態測量與性能檢測，以及進行位移、速度、加速度、振幅與頻率的動態分析，如振動分析、絲杆導軌的動態特性分析、驅動系統的響應特性分析等。SJ6000雷射幹涉儀應用非常廣泛。SJ6000雷射幹涉儀可以測工具機精度。SJ6000雷射幹涉儀可以測自動化設備精度。
  • 雷射幹涉儀的補償原理
  • 雷射幹涉引力波探測器能看到引力波,其工作原理是什麼?
    處女座（(Virgo)）引力波探測器是一個巨大的麥可遜雷射幹涉儀，臂長3公裡，與雙4公裡LIGO探測器相得益彰。這些探測器對距離的微小變化很敏感，這是特定頻率範圍內引力波振幅的函數。幾年前，我們終於取得了人類歷史上最偉大的科學成就之一：直接檢測引力波。
  • 幹涉儀原理
    導讀：幹涉這一物理現象想必大家都很熟悉了，本文主要介紹的幹涉儀的原理，幹涉儀其實就是利用的幹涉的原理而製成的儀器，感興趣的盆友們快來學習一下吧~~~很漲姿勢的哦~~~
  • 光動公司推出最新產品LICS-100雷射幹涉儀
    傳統的雷射幹涉儀獲得幹涉條紋是通過光學鏡片，這種方式一直沿續到現在；而我們LICS－100幹涉儀是通過雷達技術和光電技術，雖然光電技術不是光動公司的發明，但光動公司成功地將這一技術應用到了雷射幹涉儀上，所以在這一領域是全新的技術，突破性的技術，具有革命性的飛躍。