德國新帕泰克:幹法粒度分析-水泥磁性材料粒度分析的最佳選擇

德國新帕泰克/北京粉體協會技術交流暨培訓會議順利舉行

　　儀器信息網訊 為了感謝用戶長期以來對德國新帕泰克公司的關心和支持，使用戶能夠更好的使用新帕泰克的儀器，2011年4月18日，德國新帕泰克/北京粉體協會技術交流暨培訓會議在北科大廈隆重召開，會議同期舉行了德國新帕泰克北京理化中心聯合應用實驗室揭幕儀式。60餘名來自高校、科研院所及企業的專家學者、技術人員、儀器操作人員親臨會議現場共同分享和交流粒度分析技術、應用以及發展前景。

北京粉體技術協會理事長胡榮澤教授

   

　　北京市理化分析測試中心副主任張經華博士、北京市理化分析測試中心主任劉清珺博士

　　本次技術交流會由北京市理化分析測試中心副主任張經華博士主持，德國新帕泰克有限公司全球銷售經理潘克維先生、德國新帕泰克首席代表耿建芳博士、北京市理化分析測試中心主任劉清珺博士、北京粉體技術協會理事長胡榮澤教授分别致詞，並對德國新帕泰克公司與北京理化分析測試中心成立聯合應用實驗室，開始實質性的合作交流表示祝賀。

　　德國新帕泰克北京理化中心聯合應用實驗室揭幕儀式

　　（劉清珺博士和潘克維先生為落戶聯合應用實驗室的第一臺新帕泰克儀器——HELOS/RODOS幹法雷射粒度儀揭幕）

　北京市理化分析測試中心物理部 周素紅主任

　　周素紅主任做了《粒度分析方法標準現狀及最新進展》的報告。首先，對於粒度測量方法的比較、納米材料測量方法、不同粒度分析技術周素紅主任做了簡要介紹。隨後，周主任主要對於動態光散射國際標準，圖像法、聲學法表徵顆粒的國際標準，以及目前國內和國際上粒度表徵的通用標準主要歸口做了介紹。

　　德國新帕泰克首席代表 耿建芳博士

　　德國新帕泰克有限公司(SYMPATEC GmbH)創建於1984年，是從以粉體研究而聞名世界的大學Technical University of Clausthal(克勞斯塔爾工業大學)中分支出來的。公司總部設在德國，在美國、瑞士、瑞典、法國、英國、比利時、伊朗、韓國設有分公司，在中國設有德國新帕泰克有限公司蘇州代表處。耿建芳博士表示新帕泰克是一家專注於技術創新的專業粒度儀製造商，其將近一半的員工具有博士學位，新帕泰克的雷射粒度測試儀在業界創造了多項「世界第一」。其推出的「幹樣幹測、溼樣溼測」的檢測理念很好的滿足了不同行業的不同使用要求。

　　在1nm-20mm的粒度範圍內，根據不同的應用需求，新帕泰克有不同的技術解決方案。耿建芳博士介紹說對於0.1-8750μm的粉末或可稀釋的乳液、懸浮液，可使用HELOS或MYTOS系列雷射粒度儀；對於0.01-3000μm的不可稀釋的乳液、懸浮液可使用OPUS或NIBUS系列超聲衰減粒度儀；對於1-20,000μm的粉末或可稀釋的乳液、懸浮液等，除了粒度大小和分布，如果還要獲得顆粒形貌信息可採用QICPIC動態顆粒圖像分析儀；對於1-10000nm的粉末或可稀釋的乳液、懸浮液則可用NANOPHOX納米雷射粒度儀。

　　德國新帕泰克有限公司全球銷售經理 潘克維先生

　　德國新帕泰克有限公司全球銷售經理潘克維先生向與會人員做了《粒度分布的計算方法及粒度檢測結果各個參數的解釋》和《幹法雷射粒度儀在水泥和磁性材料行業的完美解決方案及應用》兩個報告。

　　對於粒度分布的計算方法及粒度檢測結果各個參數的解釋，潘克維先生介紹說對於3D物體不可能只用一個特殊的數值進行正確的描述。描述粒度大小有Feret徑、最小外接矩形徑、等效投影面積徑等方法；粒度大小分布的描述方式有，累積分布、微分(頻度)分布、峰形等；粒度分布特徵值常用的表示方法有中位數，X10、X50、X90，峰形，分布的寬度等。潘克維先生在報告中對於各個計算方法的定義及應用都做了詳細的介紹。

　　在《幹法雷射粒度儀在水泥和磁性材料行業的完美解決方案及應用》的報告中，潘克維先生指出粒度分布是控制水泥和磁性材料質量的重要指標。同時幹法分散具有分析時間短、樣品量大有代表性、無化學作用、無需液體處理等優點，對於乾粉樣品分析具有很大的優越性。

　　潘克維先生介紹了新帕泰克實驗室應用的RODOS乾粉分散系統的設計原理、測試步驟、性能特點，以及水泥、磁性材料等樣品測試實例。RODOS乾粉分散系統可分散小至0.1μm的乾粉顆粒、樣品分析量可從mg至kg；分散力度可調，可實現粉體的完全分散，不會造成顆粒的粉碎及破壞；測試頻度高，可實現「瞬時分散、瞬時測量」的測試原則。

　　此外，潘克維先生還介紹了新帕泰克MYTOS在線幹法雷射粒度分析和過程控制系統，分別從儀器的結構、過程控制的優越性，以及在德國、南非、荷蘭、盧森堡等國家的水泥、磁性材料企業中的在線安裝應用實例向與會者做了詳細的介紹。據介紹，280臺新帕泰克系統成功應用在水泥行業、220臺成功應用在金屬粉/NdFeB行業。

　　德國新帕泰克有限公司蘇州代表處區域經理 金哲先生

　　金哲先生做了《關於粒度測試若干問題的澄清》的報告，在報告中金哲先生就粒度測試範圍，單光源和多光源、平行光和收斂光、單鏡頭和多鏡頭、米氏計算模型和費氏計算模型的特點，粒度檢測的準確性做了介紹。

　　金哲先生指出雷射衍射法的粒度測試範圍為0.1μm至3mm，對於小於0.1μm的顆粒，應採用基於動態光散射的納米雷射粒度儀。多光源設計可能帶來不同光源產生的衍射圖形無法分辨、多光源的結果如何擬合、米氏參數如何選擇等問題，在ISO13320中，對微米級雷射粒度儀的推薦光路為單光源。平行光路設計光路系統精度最高，收斂光路雖然節省成本，但在該光路中大小相同的顆粒因位置不同，在探測器上的衍射圖形就不重疊，因而被認為是不同大小的顆粒，測量誤差一般大於10%。要獲得高的測試精度和最高的測試解析度就要根據被測物料的實際狀態選擇最合適的鏡頭。米氏理論的應用需要對物料的物性參數及顆粒形貌有嚴格的要求，所以只有在有精確的米氏參數且顆粒為球形、各項同性時，才使用米氏計算模型，一般都使用費氏模型。此外，在大多數情況下，粉體粒度事實上沒有「真值」，所以也談不上測量的「準確性」。

與會人員合影

　　報告會後，與會人員還就自己關心的問題同新帕泰克的工作人員進行了交流，新帕泰克工作人員對用戶的問題進行了詳細的解答，並對用戶提供的樣品進行現場測試。通過此次會議，大家對於新帕泰克粒度測試的基本知識、及新帕泰克公司在粒度測試領域的技術實力有了更深入的了解。