評Xilinx的28nm從三重氧化物到HIGH-K

2020-11-23 電子產品世界

  本文用老百姓看得懂的語言介紹前兩天XILINX 28nm FPGA所採用TSMC的HIGH-K金屬柵工藝(HKMG)新聞的重大意義。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/127049.htm

  跑冒滴漏的電晶體

  

 

  近10年來,當集成電路進入亞微米階段,當人們享受到摩爾定律帶來的好處時, 一朵烏雲,一直籠罩在集成電路業界的上空,就是越來越嚴重的跑冒滴漏現象。 作為集成電路的最基本組成單元,電晶體,當尺寸越來越小的時候,漏電缺越來越嚴重,不僅傳統漏電的地方漏,本來不該漏電的地方也開始從涓涓細流滿滿發展成波濤洶湧。 就像上圖的那個漏水的水龍頭。

  剛開始,漏水的地方主要是出水口和進水口直接的部分, 因為水流主要在這裡流動。 慢慢地,水龍頭越來做越小,人們發現,主要的漏水的地方從原來的進水口和出水口出,移到了中間用來擰緊水龍頭的部分。哪怕你不經常開關水龍頭,可這個地方會持續不斷地滲水。 如果拆開水龍頭來看,出毛病的地方通常是一個橡膠作的皮墊。水龍頭尺寸做小了以後,皮墊的尺寸跟著縮小,以至於太薄,水直接從皮墊滲出。 就像這張圖:

  

 

  多墊皮墊解決漏水問題

  皮墊太薄導致漏水解決辦法是什麼?簡單,多墊幾層皮墊,一層不夠兩層,兩層不夠三層。 這樣,中間漏水的問題就可以暫時解決了。

  用來進行柵極絕緣的絕緣層,一般是用二氧化矽做的,相當於水龍頭中的皮墊, 通常只需要一層。 但是,賽靈思的Virtex-2, 用了兩層氧化物。從90nm開始賽靈思的Virtex-4,65nm Virtex-5,40nm Virtex-6,都採用了三重氧化物柵極的工藝,降低漏電流,從而達到降低靜態功耗的目的, 三重氧化物柵極長得是這個樣子滴:

  

 

  當然,皮墊墊多了,跑冒滴漏解決了一些,可是開關起來肯定不夠靈活,因此,這種工藝只是在非關鍵區域使用,比如用於配置FPGA的地方。 真正需要高速的區域,還是採用一層氧化物工藝。 因此 Virtex-2, 4,5, 6 儘管在降低功耗上做得很出色,可和精心設計的ASIC比,仍然有差距。 畢竟那麼多閒置的資源在那裡,每個跑冒滴漏一點,數千萬個加到一起,就不是小數字。

  賽靈思的競爭對手沒有用三重氧化物這個方法,而是用統一抬高襯底電壓的方法,降低柵和襯底的電壓。此方法投機取巧,就像水龍頭漏水了,就把總閘關小一點,這樣,漏水雖然看上去小了,可是你想用水的時候,流出水的速度也大大降低。體現在性能上,就是所有的管子速度降低。


相關焦點

  • IBM陣營high-k技術發生變化
    IBM陣營high-k技術發生變化
  • HKMG: High-K Metal Gate–The Road so far!
    這就是我們現在6/8寸工廠主流的Poly-Gate工藝,適用於亞微米、深亞微米工藝,而柵極氧化層此時還一直都是SiO2,只是經歷了幹氧到溼氧的演變,再後來發展到摻N2O氧化也就是演變到28nm的SiON柵極介質層。(當然期間的變革繼續經歷了Amorphous、Flat-poly、以及POCl3摻雜或注入摻雜等,本文不細述)。
  • 臺灣晶圓廠選擇 ASM 提供 High-k ALD工具
    宣布一家臺灣晶圓廠為其28 納米節點high-k 閘極介電層量產製程選擇ASM的Pulsar原子層沉積技術(ALD)工具。本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/94073.htm  除此之外,此家晶圓廠也將與ASM針對最新世代的high-k閘極技術進行製程開發活動。 ASM 在2009年第2季將針對進階節點開發計劃提供額外的 Pulsar 製程模塊。
  • Xilinx FPGA支持MIPI接口的兩種方式
    工程師曾玲 發表於 2018-10-14 10:19:00 MIPI分為CSI(Camara sensor interface)與DSI(Display interface) 電氣特性1.low power model 0-1.2V 單端電壓;2.high-speed
  • 臺積電首度公布28nm級High-K+金屬柵極工藝發展計劃
    目前據各方面信息顯示Nvidia正在臺積電與Globalfoundries的28nm製程之間搖擺不定,而臺積電此番「表白」顯然在吸引Nvidia的注意力方面會起到一定的作用--當然,獲勝的前提是屆時晶片的良品率能夠達到合適的水平。
  • Chipworks臺積電28nm HPL製程樣品初步分析結果出爐
    臺積電Gate last HKMG 28nm HPL製程產品:賽靈思Kintex-7 我們首先從賽林思的Kintex-7 FPGA產品入手吧!Kintex家族產品是賽林思最近推出的28nm製程7系列FPGA晶片中的中端產品,該系列產品的設計訴求是達到最高的性能價格比,保持晶片的性能與其前代Virtex-6產品類似,但價格則減至前者的一半左右。
  • GTX550Ti廉頗老矣 HD7750能否擔當28nm時代殺手
    尋找28nm時代最合理GPU絕對性能長久以來成為我們衡量顯卡的唯一標準,所以AMD和NVIDIA的卡皇之爭從來都不缺少觀眾與喝彩,不過衡量大多數DIY玩家的購買力之後,我們才深刻認識到動輒2000到3000元卡皇僅是少數人的玩物,而不是一款真正適合運行遊戲的超值顯卡。
  • 我國自主研發的北鬥晶片工藝從90nm到28nm
    我國自主研發的北鬥晶片工藝從90nm到28nm
  • 鐵錳氧化物在重金屬汙染土壤修復中的作用
    鐵錳氧化物在重金屬汙染土壤修復中的作用北極星環境修復網訊:土壤的主要礦物組成除粘土礦物外,還存在大量的鐵錳氧化物和氫氧化物等天然礦物。以磁鐵礦、赤鐵礦、針鐵礦、軟錳礦與鋁土礦等為代表的天然礦物正成為國際上關於天然礦物淨化汙染方法研究方面的重點對象之一。
  • IBM:32nm製程High-K金屬柵極試產成功
    據該產業聯盟稱,其32nm製程High-K金屬柵極技術,相比45nm製程能夠在相同的電壓下性能提高35%,同時能耗降低30%到50%。同盟中的IBM、特許和三星已經開始進行32nm High-K金屬柵極技術的OEM應用進程。其低功耗32nm開發套件能夠平滑過渡到28nm技術,未來還將升級到22nm。
  • 一張圖看懂麒麟晶片進化史:從28nm到7nm
    今日,華為終端官方總結了麒麟晶片的發展簡史,從全球首款四核SoC的麒麟910,到開創手機智慧時代的麒麟970,華為技術一次次創新突破,製程工藝大幅提升,手機性能得到狂飆突進。麒麟910:28nm,全球首款四核SoC晶片,匹配Mali 450MP4 GPU圖形處理器。
  • HKMG(High-K 柵氧化物層 +Metal Gate)技術
    當小於這樣的厚度時,柵洩漏將增加到不可接受的程度,使傳統的按比例尺寸縮小不再能繼續下去。我們知道簡單的SiO2的介電常數k =3.9。根據等式COX = EOX / TOX,如果能找到具有較大介電常數的材料,那麼柵就可以採用較厚的介質,得到高的柵氧化物電容,因而洩漏較小。
  • 性能背後的秘密 11款2GB版HD7850橫評(全文)_微星 R7850 Hawk_顯卡...
    通常不同品牌不同種類的電容在外表上會有所區別,以方便廠商和用戶識別,具體可以從電容頂部、電容外殼顏色和標註信息三個方面進行區分。● 顯卡MOSFET功能簡介       MOS管的英文全稱叫MOSFET,即金屬氧化物半導體型場效應管,屬於場效應電晶體中的絕緣柵型,因此MOS管有時被稱為場效應管。
  • 半導體製造行業深度報告:從um級製造到nm級製造
    半導體製造行業三大核心問題半導體製造行業的關注點主要集中在三點上,這三個問題是半導體製造行業技術發展的強勁推動力,也是馬太效應形成的根本原因:半導體製程的發展晶圓的尺寸晶圓廠的產能我們將分別針對這三個問題進行深度剖析。2.1. 半導體製程發展之路:摩爾定律還能走多遠?半導體製程工藝的發展,離不開摩爾定律。
  • Superconductivityat 250 K in lanthanum hydride under high...
    報告題目:Superconductivityat 250 K in lanthanum hydride under high pressures報告人:Prof.This leap, by 50 K, from the previousTcrecord of 203 K indicates the realpossibility of achieving RTSC (that is at 273 K) in the near future at highpressures and the perspective of conventional
  • K/U ratio: A high-dimensional parameter for planet bodies
    K is volatile (boiling point at 700-1100K) while U is refractory (boiling point at 1500-1700K), and thus the K/U ratio reflects the initial formation condition of a planet body: a planet body with a high
  • 到底是金屬 還是 氧化物
    雖然該催化反應形式上很簡單,但是催化劑種類不同(氧化物,金屬,或者金屬/氧化物界面),反應條件不同(室溫/ 高溫;有無光照),相應地,催化反應的機理也各不相同。吸附質的擴散與分子的平均自由程相關(平均自由程又和反應分子的壓力相關,壓力提高,自由程下降),當反應壓力升高到近常壓區間(10e-3Torr以上),反應速率很高的時候,CO的傳質出現問題,即觀察到文章中提到的轉折區。而在低壓的反應情況下,並沒有觀察到轉折區的存在(即反應速率的突然升高)。