近日,2019國際電子器件大會(IEDM)在美國舊金山召開。會上,中國科學院微電子研究所劉明團隊展示了新型存儲器件(選通管、可編程二極體)、負電容電晶體緊縮模型、類腦神經元器件電路的最新研究成果。
在存儲器件方面,劉明團隊提出了一種基於HZO鐵電薄膜極性反轉調製的電場可編程二極體及1T2D結構的電壓輸出存儲單元(圖1)。針對二進位神經元網絡(BNN)應用,提出了一種基於2T4D XNOR單元的無CSA的BNN架構,其單元面積小(16 F2),效率高(387 TOPS / W)。
在器件模型方面,劉明團隊提出了一種基於表面勢的連續的負電容電晶體(NCFET)緊縮模型(圖2)。該模型結合了多籌作用朗道理論、極化弛豫的時間特性和半經典玻耳茲曼輸運理論,首次得到沒有任何經驗擬合參數的表面勢解析解。模型與數值解和實驗吻合,成功嵌入SPICE進行電路仿真,為NCFET的設計-技術協同優化(DTCO)提供了很好的幫助。
在類腦計算方面,劉明團隊基於具有MIT轉變的NbOx器件構建了一種1T1R結構的脈衝神經元電路(圖3),其輸出脈衝發放頻率與輸入電壓關係滿足ReLU激活函數。利用該神經元電路構建了320×10的網絡,實現了模擬神經網絡(ANN)到脈衝神經網絡(SNN)的轉換,摒棄了傳統神經網絡中ADC的使用。在MNIST庫上實現了與ANN相當的識別率。
基於上述成果的3篇研究論文入選2019國際電子器件大會。第一作者分別為副研究員羅慶、博士趙瑩、張續猛。三篇論文的通訊作者分別為呂杭炳和劉明,李泠和劉明,楊建華、劉琦和劉明。
IEEE國際電子器件大會始於1954年,現已成為全球報導半導體及電子領域最新的科技、研發設計、製造、物理學及建模技術的主要論壇,旨在為產學研界的研究學者提供關於電子器件最新研究進展和研究成果的國際交流平臺。
圖1 一種基於HZO鐵電薄膜極性反轉調製的電場可編程二極體(Field-Programmable Ferroelectric Diode)及1T2D結構的電壓輸出存儲單元
圖2 基於表面勢的連續解析負電容場效應電晶體緊縮模型,首次得到了表面勢連續解析解,在器件轉移等特性與實驗數據吻合,並成功用於電路仿真
圖3 一種基於NbOx器件的1T1R結構的脈衝神經元電路及輸出特性。首次構建了320×10的硬體脈衝神經網絡,實現了ANN到SNN的轉換,摒棄了ANN中ADC的使用