導讀:本文提出了一種新的器件集成方案,利用模板輔助的選擇性外延(TASE)結合原位摻雜,實現了在Si上的一個InGaAs納米結構p-i-n光電探測器的平面內單片集成。利用自由空間耦合,光電探測器展示了1200−1700 nm的光譜響應。60 nm薄的器件,指間距小至至0.06 cm2,提供了超低電容,這使得器件能高速運行,3 dB帶寬超過~ 25 GHz。當作為發光二極體操作時,p-i-n器件發射約1600 nm,為未來的全集成光學鏈路鋪平了道路。
在過去的十年裡,電子集成電路的數據流量和集成密度急劇增加,導致全球計算機資源的電力消耗增加。直接外延生長III-Vs在矽上的光發射和探測器是一個難以實現的目標。納米線使高品質III-V材料的局部集成成為可能,但先進的器件受到其高縱橫比垂直幾何形狀的阻礙。本文通過TASE法,解決了上述問題,實現了平面內摻雜剖面,與通常使用的垂直或徑向p-i-n結構相比,形成水平p-i-n納米結構。
近日,IBM歐洲研究院Kirsten E. Moselund團隊報導了TASE與原位摻雜法在Si上單片集成出InGaAs納米p-i-n結構,實現了高性能的紅外探測以及紅外1600 nm發射。相關論文以題為「High-speed III-V nanowire photodetector monolithically integrated on Si」發表在Nature Communications上。
論文連結:
https://www.nature.com/articles/s41467-020-18374-z
圖1. 通過TASE製造的全光鏈路的設想。發射極和探測器都可以在平面內集成並對接耦合到矽波導。目前的工作採用自由空間耦合,但為未來的波導耦合器件鋪平了道路。
圖2. 模板輔助選擇外延製備工藝。(a)TASE法製備過程。1. SOI晶片;2. 圖案頂部Si層;3.含有Si種子的部分中空SiO2模板。4. p-i-n結構InGaAs的MOCVD生長。箭頭表示生長方向。5. 生長後的p-i-n納米結構。6. 納米結構上的Ni/Au觸點。(b)p-i-n InGaAs的MOCVD生長順序示意圖。彩色區域對應於前體的螢光的開啟。首先,執行退火步驟來解吸水殘渣。接著,一短的InAs種子被沉積成核,接著是p-i-n InGaAs的生長。(c)p-i-n納米結構的偽彩色SEM俯視圖。(d)p-i-n納米結構橫截面的STEM圖像。
圖3. 外延單晶InGaAs納米結構。(a)無接觸的寬為200 nm的p-i-n納米結構的STEM圖像。(b)高分辨STEM圖像。(c)InxGa1-xAs納米結構中EDS分析圖像。(d)沿著納米結構提取原子部分。
圖4. p-i-nInGaAs光電探測器的靜態電光特性。(a)不同指寬器件的I−V曲線。(b)200 nm寬器件在不同入射雷射功率(1346 nm)的I−V曲線。(c)在0.5 V偏壓下不同指寬器件的歸一化光譜響應,以及模擬器件(2D)的歸一化光譜響應。插圖描述了使用電光模擬的200 nm寬器件和模擬的2D器件的實驗獲得的光譜響應的比較。(d)光電器件的自由空間耦合原理圖。(e)模擬了不同入射波長(1350、1550和1650 nm)在具有金屬接觸的p-i-n InGaAs器件上吸收的光子密度。
圖5. 電學和光學泵浦的光發射。(a)測量的PL和響應光譜(w = 200 nm)。(b)在不同的電壓條件下,寬約1μm的器件的EL譜。
圖6. 高速數據接收。(a)S21測量不同的寬度的器件。(b)在2 V偏壓,500 nm寬的器件上的32Gb s-1眼圖。
綜上所述,這項研究提出了一種通過TASE法在Si上實現了單片集成InGaAs納米p-i-n結構其作為光電探測器實現了高速響應,3 dB帶寬超過~ 25 GHz。此外,作為發光二極體,實現了1600 nm的發射。TASE的側向整合使得同質和異質結能夠在納米幾何結構內實現平面整合。與矽和平面內的無縫集成,更容易兼容傳統處理,是未來超大規模集成電子-光子晶片電路的必要條件。(文:無計)
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