2011年日立場發射掃描電鏡圖片大賽評選結果揭曉

　　2011年11月22日，由天美公司和日立高新共同組辦的「2011年日立場發射掃描電鏡圖片大賽」評選結果在「日立場發射掃描電鏡最新技術研討會」上揭曉，最終，上海矽酸鹽研究所吳偉拍攝的「分子篩/內核為Fe3O4上SiO2納米材料負載Ce2O3」在眾多參賽作品中脫穎而出，摘得特等獎，喜獲ipad一部。

　　這幅作品所用樣品內核為Fe3O4的SiO2納米球(直徑100nm左右)負載了Ce2O3納米顆粒。 SiO2與Ce2O3導電性差，儘量分散粉體減少團聚、使用4號光鑭減少入射電流，同時LA5混合少量BSE信號等方法，有效減少荷電現象。作品充分體現了S-4800電鏡的低加速電壓優勢，樣品表面細節清楚，解析度高，混入了背散射電子信號，突出了成分差異。

　　獲得本次大賽特等獎作品「分子篩/內核為Fe3O4上SiO2納米材料負載Ce2O3」(吳偉拍攝) 此次大賽是由天美公司和日立高新領導及工程師組成評委會，經過激烈討論，嚴格選拔，最終選出20餘幅參賽作品作為入圍作品，並在2011年11月22日舉辦的「日立場發射掃描電鏡最新技術研討會」上由參會專家及用戶代表投票選出圖片所獲獎項，除一等獎外，另評出給力獎2名，分別是微電子所餘嘉晗拍攝的金屬柵刻蝕以及高能所田甘/周亮君的藝術感強的圖片，優秀獎2名，分別是安徽大學林中清的大工作距離高解析度的磁性樣品/Al2O3模板圖片和昆明植物所的任宗昕老師拍攝的南瓜花粉。貢獻獎15名，分別是：北京師範大學李永良、廣州能源所蘇麗芬、中國石油大學(華東)李彥鵬、四川大學史進春、蘇州納米所張琰/黃凱、河北師範大學李紀標、南京工業大學黃小健、廈門大學吳元菲、復旦大學曹惠、同濟大學胡惠康、北京理化測試中心鄧平曄、第四軍醫大學李豔玲、工信部第五研究所施明哲、蘇州大學王思兵、以及長春光機所趙海峰。詳細信息請參看「日立場發射掃描電鏡攝影大賽初選作品公示」。

　　優秀獎作品「南瓜花粉」本次大賽從9月底發出通知，到11月4日截稿，共有70餘人參賽，共收到來自全國各地的樣品圖片100多幅，樣品種類各異，金屬材料，高分子材料，石墨烯，水泥，分子篩等等。再次感謝各位老師的踴躍參與和積極投稿，我們將響應各位老師的要求，以後多舉辦此類活動。

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